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aifash 2011-04-22 10:34

原厂认证系列~TracePro于杂散光分析与宏语言应用[北京6月]

TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用 rfs(#  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象,并在课程中引入基本的TracePro Macro l&L,7BX  
Scheme Language,让您可以藉由撰写Macro Scheme 程序,轻松建立属于您的自动化杂散光分析程序。 yl$F~e1W  
此训练课程通过Lambda Research Corp.原厂认证,全程采用一人一机、实机操作的方式进行,并会有资深工程师随堂提供及时的协助,帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。课程中除了介绍如何使用TracePro 完成杂散光分析之外,并授以如何使用TracePro 所提供的宏程序语言完成自动化杂散光分析。本课程全程采用小班教学,互动性佳,轻松学习,同时为您解决使用仿真软件时所遭遇到困难。课程内容精彩丰富,并教材多取自实际案例,相信透过深入浅出的教学方式,必定能让您完全掌握杂散光分析的技巧并且使其自动化进行分析。 Stxp3\jEn  
=q+R   
时间
内容
09:00~16:00 ydQ!4  
1.           简介使用 TracePro®分析系统杂散光 J!hFN]M<<  
2.           Point Source Transmittance (PST) 分析 i@5 )` <?  
3.           杂散光系统之测试光源设定 ]tB@kBi "  
4.           使用重点取样(Importance Sampling)加速杂散光分析 zBY~lNB  
5.           自动重点取样(Auto Importance Sampling) fN)x#?  
6.           TracePro®之各项分析工具与其参数设定 v^SsoX>WMH  
7.           TracePro® 光学材料特性之仿真原理与应用 *%\mZ,s"  
8.           TracePro®杂散光辅助分析工具 nA_%2F'W}  
9.           杂散光路径分析工具(Ray Path Sorting Tool) x7dEo%j  
10.       简介 TracePro® Macro Language sWHyL(C@  
11.       基础 Scheme 语法介绍 6)}B"Qd  
12.       使用 TracePro® 宏指令,撰写自动化程序 Z/<#n\>t0>  
13.       撰写自动化杂散光分析程序 F_=1;,K%  
14.       蒙特卡罗光线追迹之原理与极限蒙特卡罗光线追迹之原理与极限 OQp, 3 M{_  
建议对象:已熟悉TracePro 基础操作之相关从业人员 &nY;=Hv`WY  
招生名额:10人(请自带notebook) Zw{MgoJ0Z  
费用:美国原厂课程,两天价值3,500美元(机票加课程费用) mnjs(x<m  
现在,您只需付RMB 3,500 (维护期内客户享有8折优惠) ,课后发给TracePro培训zhenhshu及TracePro POLO衫 E!J=8C.:  
日期:2011年6月27日~6月28日(星期一~二) +q{[\#t5  
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讲师介绍 pu9^e4B9  
现任Lambda Research Corporation台湾分公司资深开发工程师 XF*.Jg]  
专长光学设计与优化算法  $dQIs:  
时间:20110627~0628(星期~) 09:00~16:00 ;3"@g]e  
地点:北京 UKtSm%\  
主办:APIC爱尔发上海分公司‧Lambda Research公司 V`#.7uUP  
报名:请于 620传真或e-mail报名表并完成汇款,座位有限,额满为止 \X|sU:g  
电话:021-64052328  曹小姐  传真 : 021-64052327  e-mail:candy@apic.com.cn tfYB_N  
Kqg!,Sn|  
报名表请连结下载
huangshan 2011-04-25 11:18
%证*书  也成敏感词了?
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