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2005-08-12 16:36 |
干涉量测技术应用与设备产品说明会——北京——免费
详情请点击http://www.infotek.com.cn/2004_even/20050822/20050822.html 'wT !X[jF 主办单位 讯技光电科技(上海)有限公司 VOkSR6 日期 2005年9月13日 13:00-17:00 共计4小时 {Lg]chJq? 地点 上海 r-8fvBZ5 S9kA69O 课程大纲 kdW$>Jqb 13:00~16:00 浅谈干涉条纹分析量测软件-Intelliwave及应用案例介绍(Raymond) oU)Hco "_k 16:00~16:10 中场休息 yR$ld.[uf 16:10~17:00 干涉仪介绍(光峰科技 刘信炷经理) w^Atd|~gi #<o=W#[ 讲师介绍 MG-#p8 Raymond Castonguay 在1996年成立了Engineering Synthesis Design Inc这家公司 , 提供干涉量测方面的产品, 主要着重在光学、纤维光学和自动化产业。他拥有 15 年光学产业经验并拥有五个在散光技术上的专利奖项。Raymond Castonguay是 IntelliWave干涉测量分析软件的首要开发者,IntelliWave这套软件可与多种不同类型的干涉仪器搭配 . 他曾经服务于Breault Research Organization 担任研发项目经理 10年, 主要研究领域含括干涉量测、机器自动化和散光量测产品。Raymond Castonguay在亚利桑那大学光学科学中心取得航空工程学士学位,他受过的训练包括光学整合、电子学、机器自动化和软件控制。 DcRvZH 7wz9x8 \t R|'ftFebB. 刘信烓 C-tkYP
光峰科技资深经理(2001-2003) ko+fJ&$ 光群雷射资深经理(1996-2001) <X"_S'O 美国 CIMCOR 公司VP (1991-1996) p?V@P6h 美国纽约理工学院光电中心资深研究所员 (1985-1991) EN/r{Cm$B 美国纽约卅立大学石溪分校?机硕博士(1979, 1985) e pGC
Ta 交通大学电子物理系学士 (1976) )N3XbbV 主要研究: Ux-i iH#s 1. 光学干涉仪: Fizeau, Shearing QruclNW{Bv 2. 非光学表面对象三度空间量测 P<C=9@`! n%K^G4k^ 讯技光电电话021-54071828
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