| infotek_tw |
2005-08-12 16:36 |
干涉量测技术应用与设备产品说明会——北京——免费
详情请点击http://www.infotek.com.cn/2004_even/20050822/20050822.html ",D!8>=s
主办单位 讯技光电科技(上海)有限公司 !Q15qvRS
日期 2005年9月13日 13:00-17:00 共计4小时 .P aDR |!
地点 上海 -0#"<!N
s_XCKhN:
课程大纲 vt2.
i$u
13:00~16:00 浅谈干涉条纹分析量测软件-Intelliwave及应用案例介绍(Raymond) OKlR`Vaty
16:00~16:10 中场休息 6 QCV i
16:10~17:00 干涉仪介绍(光峰科技 刘信炷经理) Z4Dx:m-
nJ]7vj,rB
讲师介绍 #Iv KI+"
Raymond Castonguay 在1996年成立了Engineering Synthesis Design Inc这家公司 , 提供干涉量测方面的产品, 主要着重在光学、纤维光学和自动化产业。他拥有 15 年光学产业经验并拥有五个在散光技术上的专利奖项。Raymond Castonguay是 IntelliWave干涉测量分析软件的首要开发者，IntelliWave这套软件可与多种不同类型的干涉仪器搭配 . 他曾经服务于Breault Research Organization 担任研发项目经理 10年, 主要研究领域含括干涉量测、机器自动化和散光量测产品。Raymond Castonguay在亚利桑那大学光学科学中心取得航空工程学士学位，他受过的训练包括光学整合、电子学、机器自动化和软件控制。 Ux*xz|^
3qf#NJN}
j?m(l,YD|*
刘信烓 L"v rX
光峰科技资深经理(2001-2003) 6qFzo1LO
光群雷射资深经理(1996-2001) i .uyfV&F
美国 CIMCOR 公司VP (1991-1996) o>C,Db~L/
美国纽约理工学院光电中心资深研究所员 (1985-1991) ; F'IS/ttX
美国纽约卅立大学石溪分校?机硕博士(1979, 1985) KR?aL:RYb
交通大学电子物理系学士 (1976) <O0tg[ub
主要研究: w01[oU$x=
1. 光学干涉仪: Fizeau, Shearing [0y,K{8t
2. 非光学表面对象三度空间量测 Zf3(!
a[
c-(RjQ~M5
讯技光电电话021-54071828
|
|