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2010-12-21 17:06 |
目录 w%ForDB>P 第1章 光电信息技术物理基础 a'Z"Yz^Eo 1.1 光的基本性质及其度量 7"NUof?i 1.1.1 光的基本性质 2+enRR~ 1.1.2 光辐射的度量 &}]Wbk4:
1.2 半导体物理基础 i=ba=-"Mt 1.2.1 半导体的能带 ~4M]SX1z 1.2.2 热平衡载流子 wv<"W@& 9 1.2.3 非平衡载流子 Umqm5*P( 1.2.4 载流子的运动 3eB2=_V` 1.2.5 半导体对光的吸收 <1y%ch; 1.2.6 半导体的pn结 K"pfp !Y 1.2.7 半导体与金属的接触 pO^
6p% 1.3 光辐射电效应 VbN]z: 1.3.1 光电效应
G~JQcJFj 1.3.2 热电效应 8wBns)wy @ 习题与思考题 v1}
$FmHL" dL"v*3Fy 第2章 光辐射信息探测器件 +RbCa
c 2.1 光电发射型探测器件 gnv4.f: 2.1.1 光电发射材料 u^ T2 2.1.2 光电倍增管的结构及原理 7(jt:V6V 2.1.3 光电倍增管的主要特性参数 Z'EZ PuZ!' 2.1.4 光电倍增管的工作电路 %>f:m!. 2.1.5 光电倍增管的使用要点 Rk'Dd4"m, 2.2 半导体光电导型探测器件 M! s&<Bi 2.2.1 光敏电阻的结构及原理 a^2?W 2.2.2 几种常用的光敏电阻 mBNa;6w?{* 2.2.3 光敏电阻的特性参数 Ei#"r\q j_ 2.2.4 光敏电阻的特点、应用及使用要点 (]ORB0kl 2.3 半导体光伏型探测器件 y]/{W}D 2.3.1 光电池 os>|LPv4 2.3.2 光敏二极管 B *:6U+I 2.3.3 pin光敏二极管 P"- ,^?6 2.3.4 雪崩光敏二极管(apd) 0q/g:"|j 2.3.5 光敏三极管 pd|c7D!6U, 2.3.6 pv器件与pc器件的区别及使用要点 cD{[rI
E3 2.4 半导体组合型光电探测器件 Tkd4nRo~ 2.4.1 象限探测器件 xQN](OKG 2.4.2 楔环探测器件 F
Hv|6zUX 2.4.3 光电位置探测器件(psd) Abj`0\ 2.4.4 半导体色敏探测器件 40Du*5M 2.4.5 光电耦合器件 ~2pctqMA 2.5 热电偶与热电堆 %1#5
7- 2.5.1 热电偶 ;1BbRnCr 2.5.2 热电堆 *u-TNg 2.5.3 热电偶与热电堆的应用及使用要点 6OVAsmE 2.6 热敏电阻 m86w{b$8 2.6.1 热敏电阻的类型、结构及原理 s |qB; 2.6.2 热敏电阻的特性参数 iJq}tIk#2' 2.6.3 热敏电阻的参数选择、应用及使用要点 Jk`A } 2.6.4 几种新型热敏电阻 md<%Z4+ 2.7 热释电探测器件 TIS}'c'C 2.7.1 热释电探测器件的结构与原理 /P,J);Y 2.7.2 热释电探测器件的类型 -0>@jfP^D 2.7.3 热释电器件的特性参数 0|d%@ 2.7.4 热释电探测器对前置放大器的要求 *s_)E2 2.7.5 热释电探测器的应用及使用要点 WhvO-WF 习题与思考题 BM:je(*p #w#B' 第3章 光电成像器件 ?+51 B- 3.1 光电成像器件的类型与电视制式 p#3P`I>ZrT 3.1.1 光电成像器件的类型 Ua(!:5q? 3.1.2 电视扫描方式及制式 xGz$M@f 3.2 电荷耦合器件(ccd) wJ+"JQY.J+ 3.2.1 ccd的结构及原理 Zr`:A$ 3.2.2 ccd的输入/输出及外围驱动电路 nE,"3X" 3.2.3 ccd的类型 37{mhU 3.2.4 ccd的特性参数 Q~uj:A]n< 3.2.5 ccd的应用 GCc@
:*4[ 3.3 cmos图像传感器 RM,r0Kv17Y 3.3.1 cmos图像传感器的结构及原理 VTD'D+t 3.3.2 cmos图像传感器的特性参数 r lW 3.3.3 cmos图像传感器与ccd的比较 pi+m`O 3.3.4 cmos摄像器件的应用 w${=]h*2 3.4 自扫描光电二极管阵列(sspa) /f_lWr:9l 3.4.1 sspa的结构及原理 eja_+`cJ 3.4.2 sspa类型、信号读出及放大电路 9QZ;F4 r 3.4.3 sspa与ccd的性能比较 J}lBKP:-* 3.5 接触式图像传感器cis ?/NxZ\ 3.5.1 cis的结构及原理 :tNH Cx 3.5.2 cis与ccd的比较 5^[V%4y> 3.5.3 cis的应用 C2FewsRz 3.6 直视型光电成像器件-变像管和像增强管 |odl~juU 3.6.1 像管的结构与工作原理 ]M>mwnt+ 3.6.2 主要性能参数 ,D>$N3; 3.6.3 像增强管的级联 4R@3jGXb8q 3.7 特种光电成像器件 7+=fD|Cl 3.7.1 红外光电成像器件 $5|/X&"O)/ 3.7.2 紫外光电成像器件 a+IU<O-J? 3.7.3 x射线光电成像器件 :jgwp~l 习题与思考题 < JA5.6<= H 2\KI( 第4章 发 光 器 件 KZJ;O7'` 4.1 常用的普通光源 r`VKb 4.1.1 光源的基本特性参数 W8R@Pf 4.1.2 常用的普通光源 vfm|?\ 4.2 发光二极管(led) 4 mPCAA7 4.2.1 led的结构、原理及特点 (?D47^F & 4.2.2 led的主要特性参数 }`M[%]MNc 4.2.3 发光二极管的应用 I[G<aI! 4.3 固体环保照明光源——白光led yiiYq(\{ 4.3.1 白光led的结构与原理 p'ukV(B 4.3.2 白光led的特点及与现行照明光源的比较 Fz~-m# Ts 4.4 高效节能平面分布式固态光源——oled灯 C]p3,G,oN 4.4.1 oled灯的结构与原理 *h$Z:p-g 4.4.2 oled灯的特点及与现有光源的比较 +QqYf1@F 4.5 激光器 }LN +V~ 4.5.1 激光的基本特征 s=#3f3 4.5.2 激光的产生 Zw`Xg@;xP 4.5.3 气、固、液体激光器 mn)kd 4.6 半导体激光器 C1Slx!} 4.6.1 半导体激光器的特点与分类 vn9_tL& 4.6.2 半导体激光器的主要特性参数 &AG,]# 4.6.3 几种典型的半导体激光器 sTU`@}} 4.6.4 半导体激光器的安全使用 *O+G}_} 4.7 光纤激光器 ;*[nZV> 4.7.1 光纤激光器的结构和原理 ]]J2#mN:n 4.7.2 光纤激光器的特点与基本特性参量 6$lj$8\ 4.7.3 几种典型的光纤激光器 7kp$C?7K 4.8 光子晶体激光器 YcBY[i0 4.8.1 光子晶体 F$N"&<[c 4.8.2 光子晶体激光器 |Qo;=~7 4.8.3 光子晶体光纤激光器 m\)z& hv<r 习题与思考题 .'saUcVg: CfNHv-jDL 第5章 光电信息探测电路设计、数据采集与计算机接口 KW]/u 5.1 光电信息输入电路的设计 HY4X;^hF 5.1.1 缓变光信号输入电路的设计 :
2Ho
5.1.2 交变光信号输入电路的设计 al.~[T-O+ 5.2 光电信息探测电路频率特性与低噪声设计 s`B "qw 5.2.1 光电信息探测电路的带宽 3M=ym. 5.2.2 光电探测电路频率特性的设计 SxdH%agM 5.2.3 光电信息探测电路的低噪声设计 mFC0f?nr 5.3 光电信息低噪声放大器的设计 Z_.Eale^ 5.3.1 放大器噪声 s_}T-%\ 5.3.2 低噪声前置放大器的设计 _@3@_GE 5.3.3 低噪声运算放大器的选用 u[$ \
az7 5.3.4 光电探测器件和运算放大器的连接方法 &'uFy0d, 5.4 光电信息的二值化与量化 @kw#\%Uz 5.4.1 光电信息的二值化处理 ],YIEOx6
5.4.2 光电信息的量化处理 vr+O)/P}) 5.5 光电信息的数据采集与计算机接口 ^Qt4}V= 5.5.1 光电信号的二值化数据采集与计算机接口 *4"s,1?@BG 5.5.2 线阵成像器件图像数据采集与计算机接口 Dm?>U1{ 5.5.3 面阵成像器件图像数据的采集与计算机接口 9=p^E# d 5.6 嵌入式系统视频图像的数据采集 D<B/oSy 5.6.1 嵌入式技术产品的特点 @0S3`[/U 5.6.2 线阵ccd图像数据的采集 0wU8PZ Nj 5.6.3 面阵ccd图像数据的采集 +YVnA?r? 习题与思考题 +P2f<~ Z[[o u?c 第6章 光电信息变换和检测的技术与方法 r<,W{Va 6.1 时变光信息的直接检测技术 484lB}H 6.1.1 光信息的幅度检测技术 o7'
cC?u 6.1.2 光信息的频率检测技术 `OO=^.-u 6.1.3 光信息的相位和时间检测技术 ?&W1lYY 6.2 时变光信息的调制检测技术 pCS2sq8RC 6.2.1 光信息调制的基本原理与类型 !_P;4E 6.2.2 光信息调制器 #K:|@d 6.2.3 调制信号的解调技术 #-?pY"N, 6.3 光学图像的扫描检测技术 =LEKFXqM 6.3.1 扫描的基本原理与分类 o-"/1 zLg4 6.3.2 图像扫描技术 gmkD'CX*A 6.3.3 实体扫描技术 eJFGgJRIvF 6.4 几何变换的光电检测方法 6UOV,`:m+ 6.4.1 光电准直方法 H-$ )@ 6.4.2 光电测长方法 3)ac
6.4.3 光电编码方法 3#o!K 6.5 物理变换的光电检测方法 1sKKmtgH 6.5.1 光电干涉测量的技术方法 [zmx 6.5.2 单频光相干的条纹探测方法 U9GmkXRix 6.5.3 双频光相干的差频探测方法 yG -1g0 6.5.4 差频探测与直接探测法的比较 __< | |