| duanjiaxi |
2010-09-27 09:15 |
中科院2010年光学系列培训高级讲习班（10月16-22日）即将开课
中科院品牌培训课程，颁发中科院培训证 书 <NIg`B@ 's
(r&e|
课程名称与时间 ?DN4j!/$
第七届光学设计高级讲习班（2010年10月16日-22日） Fx^e%":@ip
第二届光学检测讲习班（2010年10月16日-22日） XM0 ;c F
第六届光学薄膜技术培训班（2010年11月9日-13日） "E? 8. `T
aJ nZco6
培训效果 &VY(W{\eY
掌握专业要点，快速进入光学检测领域； .EOHkhn
注重行业应用，增加实际操控经验； =Mg/m'QI
扩展研发视野，提升职业核心竞争力； &4aY5y`8+f
名师现场答疑，解决生产研发中难题； (-lu#hJ`&r
打造一流平台，营造结识同行良机； f8>S<:
颁发权威证书，增加求职就业砝码。 9J"Y
D$sG1*@s-
培训内容 |]qwD,eiH,
光学设计讲习班 =:fFu,+{
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 a59l"b
王之江院士、徐文东、黄惠杰研究员：光学系统设计 B3p[A k
光学设计中的基本设计理念 +y+-~;5iv
光学系统的基本要求及指标 ,n')3r
设计实例的分析和讲解 [+=h[DC
朱健强 研究员：光机系统设计和光学加工 2r+@ s g
光机设计的原理、设计方法及常规内容 Rp#9T?i``[
光学元件加工的工艺环节及其相关测控技术 m?Gb5=qo
平面、球面、透镜、棱镜等光学加工技术，非球面加工技术 =c)O8
特种光学元件加工技术，光学检测技术等 1' #%U A
范正修 齐红基 研究员：专题讲座：光学薄膜 ? WD|a(
光学薄膜在光学设计系统中的应用， Cm4$&?
紫外和软X射线薄膜，功能性光学薄膜 ?K<m.+4b*y
激光对光学薄膜的破坏过程。 8}Pd- .se
特邀专题授课：北京理工大学 王涌天教授 |+?ABPk"
苏州大学 余景池教授等 /]/3)@wT
特约赞助软件：CODE-V，LightTools，ASAP !fFmQ\|)4S
学费:人民币3001元， 学生凭有效证件2701元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） +6vm4(3?
@IaK:
光学检测讲习班 "HWl7 c3q
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 IN? A`A
中国光学学会光学测试专业委员会 vXUrS+~x
苏大图教授（北京理工大学） SE0"25\_G
常规光学元件（平面，球面，柱面、非球面）、系统性能、光学系统检测理论基础； R/H ?/
陈明仪教授（上海大学） +vxU~WIV&
光学系统与光电检测，检测误差分析，数字干涉技术，全息拼接检测； RI#C r+/
高志山教授（南京理工大学） 8T5s6EmIOW
光学检测市场发展前沿动态； 8aCa(Xu(H
徐德衍研究员（中科院上海光机所） /2 ,s-^
光学元件表面特性与美军标MIL的解读，特殊光学元件的现代检测，相关国际标准。 i8$tId
李锡善研究员（中科院上海光机所） C[j'0@~V:B
光学玻璃检测专题； 3r=IO#
殷立峰总经理（翟柯莱姆达计量设备（上海）有限公司） > +v)^7c
光学检测实务 &hmyfH& S
沈卫星高工（中科院上海光机所） 05 ".;(
干涉检测专题； =2VM(G tK>
常用光学检测仪器的使用要点及光学检测实例； s'LY)_n
学费:人民币3002元，学生凭有效证 件2702元（含教材费，培训费，餐费，证书费，晚宴，夜游世博，参观公司） MSPzOJQPy
)t
G` a ;
光学薄膜讲习班 6gS<h \h0
主办单位：中国科学院上海光学精密机械研究所 H'uRgBjWJ
讯技光电科技（上海）有限公司 <De2 9'},y
范正修 齐红基 研究员--------基本原理、设计方法与软件应用 A[lkGQtS4
课程涵盖光学薄膜基础理论、光学薄膜膜系设计与优化方法。培训期间每人会安装一套正版Essential Macleod薄膜设计软，针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。 U8?%Dq% i
易葵 正高级工程师--------光学薄膜沉积技术与工艺方法 l?_Iu_Qp
给出光学薄膜制备完整的工艺流程，结合沉积技术对最终薄膜性能的影响，实例讲解系统配置、沉积技术以及工艺参数的选择、调控与优化。 KZn\ iwj
贺洪波 研究员--------光学薄膜测试技术与测试结果的解读 OQ<|Xd I$
介绍光学薄膜的光谱、损耗、激光损伤、力学以及微结构等多角度的测试技术与相关设备装置；结合光学薄膜测试实践，讲解测试结果的分析与应用。 6MfjB@
A_: Bz:
报名联系方式： ?i*k wEj=
光学设计、光学检测：高福海 021- 69918011 gfhai@siom.ac.cn NQq$0<7.=W
QQ:905667687 传真：021-69918705 @?_<A%hz
光学薄膜：徐 艳 xuyan@siom.ac.cn ；021-69918842；021-69918028（传真） +{
QyB
详情请登陆：中国光学期刊网 http://www.opticsjournal.net:8889/training.htm
|
|