lucychen |
2010-05-06 16:15 |
BLU背光模组光学设计和优化验证专题讲座---有上机和案例分析
BLU背光模组光学设计优化及验证专题技术讲座 ;)UZT^f`)K G&:YgwG 上海, 2010年5月26 - 28日 .w&{2,a3 主办:莎益博设计系统商贸(上海)有限公司, 美国ORA公司 CK.Z-_M 上海半导体照明工程技术研究中心LED光学热学设计与应用联合实验室 Km-lWreTH 上海理工大学光电信息与计算机工程学院 As78yfK QK//bV) 为了适应中国飞速发展的液晶电视背光模组(BLU)的光学设计的技术挑战,帮助设计工程师解决BLU项目开发中的实际问题, Cybernet公司邀请美国ORA(Optical Research Association)公司全球知名BLU设计专家,在上海举办三天的BLU背光模组光学设计优化及验证专题技术讲座,介绍LightTools软件背光设计流程,背光均匀的优化方法,和背光模组的检测验证系统。现场还有更多的案例分享和上机演示,详细内容见下面的日程安排。 vsLn@k3 主讲专家: TN` pai0 [attachment=26470] p2tBF98 Nishantha P. Maliyagoda, 美国ORA 公司资深BLU设计专家 %#"uK:(N 美国伦塞利尔理工学院照明硕士毕业,曾在学院的照明研究中心从事各种光学检测和测量工作,包括校准光学仪器,LED彩色和光衰特性,CCFL测试。在近九年的工作中,长期负责LightTools软件的技术支持和培训,包括BLU、各种LED、荧光粉、连接器和反射器的建模与仿真。是LightTools软件BLU设计功能的首席开发师。曾帮助日本、韩国的电视机企业解决BLU开发的关键技术问题,具有丰富的理论和实践经验。 /&dC? bY [attachment=26471] a*=\-;HaZ 上海科学技术大学固体物理专业毕业,曾从事红外检测、超声无损检测, 在CYBERNET公司从事LED光源和显示屏、 LCD背光、 OLED和PDP等显示器的测量,精通CCD成像测量技术、各类光源近远场模型测量和LED屏视觉性能优化技术。 ()XL}~I{!A tpA7"JD 日期和地点: #&&^5r-b- 日期: 2010年5月26 - 28日 共三天 q}(UC1| 地点:上海市杨浦区军工路516号(近控江路),光电学院仪表二馆四楼 p`XI (NI 交通:公交6路/59路/135路/874路在军工路控江路站下,8号地铁黄兴路站下后打车起步价到。 V .$< | |