| sbisna |
2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， y}U'8*,
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， &2@Rc?!6_P
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 #|:q"l9
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 BgCEv"G5
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 X&49C:jN
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求.
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1.多层厚度（1? 到 250 microns） E){OD yk
2.折射率n 9*n?V ;E
3.吸收系数k [["eK9 }0
4.双折射率 8193d%Wb
5.能隙（Eg） i}<fg*6@E
6.表面粗糙度和损伤 P a|*Jcr
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） ZL!5dT&@W
8.薄膜温度特性 rO1N@kd/
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Iz#jR2:yn
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 rF?QI*`Y(
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Ve"M8-{oKk
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 +'[*ikxD=g
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com J<cY'?D
网址：http://www.emdeccn.com
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