| sbisna |
2010-04-29 20:49 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, }wI+eMr L|;sB=$'{ 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, WGyPyG#Fl P^U.VXY} 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 Ug4o2n0sk &5[+p{2 1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 BxZ7Bk }9!}T~NMs 应用实例,目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 0O-"tP8o zz(EH<> 2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. h-SKw=n ]v?jfy 1.多层厚度(1? 到 250 microns) #7}YSfm^6 2.折射率n '/AX'U8Y 3.吸收系数k MD3iWgM 4.双折射率 |ZXz&Xor 5.能隙(Eg) j*;.>akY7 6.表面粗糙度和损伤 {)
sE;p- 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) vo2GFo 8.薄膜温度特性 Z%=A[`5] 9.晶元曲率和薄膜耐压性 ]KG.-o30 PtzT>< 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 H<P d& Vo%Z| 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: _+~&t9A! 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 "<%J^Z9G 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com FN (O 网址:http://www.emdeccn.com
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