| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 KVN"XqE4
v8m`jxII64
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 ~EEs} i
主要性能指标及技术指标 Pz% ~ST
EiWd+v,QJQ
主信号通道： ]3ifd G k
信号输入方式：单端交流输入 id ?"PD"%
输入量程：0.5mV-500mV 8YX)0i'
信号频率范围:1KHz±5% /ylc*3e'4
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) ?'eq",c#4N
性误差: ≤0.1% 2/B )O)#ls
零点时源： ≤0.2%/h &J$# #B
参考信号通道： jAC78n,Fi@
[ ny6W9
信号输入方式：单端交流输入 XN#&NT{t}
输入幅度：20-700mV ~ jN'J+_$
频率范围:≥320。 ]a?bzO r,
[attachment=25842]
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