| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 ^XQr`CqI
Q&Ox\*sMK
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 M:OJ L\0
主要性能指标及技术指标
zOnQ656
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主信号通道： L?5OWVX!v
信号输入方式：单端交流输入 X [
o9^<
输入量程：0.5mV-500mV 3e.v'ccK&
信号频率范围:1KHz±5% $@blP <I
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) (iZE}qf7 g
性误差: ≤0.1% }uE8o"q
零点时源： ≤0.2%/h 32*FI SH^
参考信号通道： [ZP8[Zl'?
`kP
(2b
信号输入方式：单端交流输入 t"@: a
Y"
输入幅度：20-700mV 6!}tm dzR
频率范围:≥320。 =Xc[EUi<;g
[attachment=25842]
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