| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 b6U 2GDm\s
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 v gsJeV`}I
主要性能指标及技术指标 Fh`~`eog
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主信号通道： pi
Z[Y
5OE
信号输入方式：单端交流输入 %>~sJ0
输入量程：0.5mV-500mV 4 3mP]*=A
信号频率范围:1KHz±5% (-ufBYO6
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) j6Yy6X]
性误差: ≤0.1% @6wFst\t
零点时源： ≤0.2%/h E^vJ@O
参考信号通道： ~$)2s7
O
In18_ bc
信号输入方式：单端交流输入 !a7[ 8&
输入幅度：20-700mV U*22h` S
频率范围:≥320。 77\] B
[attachment=25842]
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