| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 %C _RBd
EROf%oaz=
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 4}FuoQL
主要性能指标及技术指标 %t&5o>1C
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主信号通道： )&"l3*x
信号输入方式：单端交流输入 uUUj?%
输入量程：0.5mV-500mV :xitV]1.
信号频率范围:1KHz±5% S{7*uK3$
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) }+K SZ,
性误差: ≤0.1% ^mLZT*
零点时源： ≤0.2%/h NGD?.^ (G
参考信号通道： TbqED\5@9w
Ux~rBv''
信号输入方式：单端交流输入 c7mIwMhl~
输入幅度：20-700mV )1 %l$W
频率范围:≥320。 .]+oE$,!
[attachment=25842]
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