| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 LBkc s4+
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 J`q}Ry;
主要性能指标及技术指标 [9O~$! <%
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主信号通道： %L
j0
信号输入方式：单端交流输入 ],F}}pv
输入量程：0.5mV-500mV -#wVtXaSc
信号频率范围:1KHz±5% AM[jL'r|
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) zNny\ Z
性误差: ≤0.1% )J+{oB[>b
零点时源： ≤0.2%/h VS9]p o>=
参考信号通道： 28R>> C=R
=~hsKBt*
信号输入方式：单端交流输入 c',:@2R
输入幅度：20-700mV +^*5${g;@H
频率范围:≥320。 {zz6 XlKPj
[attachment=25842]
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