| xuehai03666 |
2010-04-14 11:53 |
供应新型光学膜厚控制仪
CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 8P!dk5 ,,O
v[6 BESu
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 D.<CkD B
主要性能指标及技术指标 .>?["e #,
z ux+ooU
主信号通道： 685o1c|
信号输入方式：单端交流输入 #~.i\|VL
输入量程：0.5mV-500mV l#o43xr
信号频率范围:1KHz±5% BQB O]<99
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) fT8Id\6js
性误差: ≤0.1% [JVI@1T
零点时源： ≤0.2%/h KX)xCR~
参考信号通道： Vrz !.X~
tT yu, %/m
信号输入方式：单端交流输入 Z=!*7@QY
输入幅度：20-700mV 1 qUdj[Bj
频率范围:≥320。 =,[46 ;q
[attachment=25842]
|
|