| sbisna |
2010-03-21 19:43 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品， F. I\?b
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， BoXPX2:
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其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 Yfx?3
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1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 JQ|*XU
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应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 {Y3:Y+2X3*
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2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. uqVar Ri$
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1.多层厚度（1? 到 250 microns） dXPTW;w
2.折射率n K#Xl)h}y7
3.吸收系数k 0+K<;5"63d
4.双折射率 y Ni3@f
5.能隙（Eg） v|dt[>G
6.表面粗糙度和损伤 ?w&?P}e +
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） &;R BG$t
8.薄膜温度特性 7X8*7'.2
9.晶元曲率和薄膜耐压性 Q9c*I ,O j
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应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 G^Y^)pc]
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： x_9#:_S'
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 l3+G ]C&<
邮件：wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com _;R#B`9Iu
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