| myjoy88 |
2010-01-13 17:44 |
薄膜厚度测量---激光椭偏仪
Multiple Angle Laser Ellipsometer 多入射角激光椭圆偏振仪 `u=oeM: 产品特点: k.Gl4
x 高精度、高稳定性 i'iO H|s 快速、高精度样品校正 wt\m+!u` 快速测量、操作简便 z L8J`W 多角度测量 B
G5X_s0/ 样品可水平或垂直放置 ]_\AHnJ 一体化集成设计 Hh\
4MNl 椭圆偏振法简称椭偏法,是一种先进的测量薄膜纳米级厚度的方法。椭偏法的基本原理由于数学处理上的困难,直到本世纪40年代计算机出现以后才发展起来。椭偏法的测量经过几十年来的不断改进,已从手动进入到全自动、变入射角、变波长和实时监测,极大地促进了纳米技术的发展。椭偏法的测量精度很高(比一般的干涉法高一至二个数量级),测量灵敏度也很高(可探测生长中的薄膜小于0.1nm的厚度变化)。 利用椭偏法可以测量薄膜的厚度和折射率,也可以测定材料的吸收系数或金属的复折射率等光学参数。因此,椭偏法在半导体材料、光学、化学、生物学和医学等领域有着广泛的应用。 6kR
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o4 产品说明: xyvND Q[jI=$Q) 多入射角激光椭圆偏振仪EM01-633用于对纳米层构样品的薄膜厚度和632.8nm波长下的折射率n及吸收系数k进行快速、高精度、高准确度的测量。可用于表征: ;t~*F#p(! R`
44'y| 1) 单层纳米薄膜; 0}D-KvjyP Z,SY
N?@ 2) 多层纳米层构膜系; ka8$dfC T?#s'd 3) 块状材料(基底) LS{bg.e W7$s5G, 4)透明薄膜 cB<O.@ d~sJ=) EM01-633操作简单、测量快速、精度高、准确度高、稳定性好,尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发及质量监控。EM01-633应用领域涉及纳米薄膜的诸多领域,如微电子、半导体、生命科学、电化学、显示技术、磁介质、金属处理等。此外,高灵敏测量使得它亦可对太阳能电池等非理想的、产生杂散光的粗糙表面进行测量。 ETxp#PZ )# p.`J EM01-633多角度激光椭偏仪带有针对太阳能电池的测量组件,改组件被设计用于满足晶体硅电池表面氧化硅薄膜的测量需要,可以提供出色的灵敏度、精确度和重复性 |SxMN%M! F:S"gRKz 产品性能简介: hAlPl<BO#V G LoiH#R 高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法,以及低噪声探测技术,保证了系统的高稳定性和高准确度; S7Znz@ <c(&T<$ 样品位置校准可以保证样品调整到最佳的高度和倾斜度,从而获得最佳优信号,没有位置校准很难保证样品在合适位置,信号不能调整到最佳输出状态,测量的重复性和准确定都很难保证。 <8*A\& :q(D(mK 高灵敏度探测器更适合于绒面太阳能电池片的弱信号测试,可以提高信噪比,保证测量结果的稳定和正确。 8-A:k E 9QC< E| 采用补偿器技术可测量的△范围为0-360度,没有死角,可确定△的正负号,并可计算出偏振因子P的值,P值可从侧面评估测量结果;针对太阳能电池绒面特征,测量时P值越接近1表明测量结果可靠性越高;没有补偿器的仪器当△在0度或180度附近的测量精度非常低,也就是有两个测量死角,在测量50nm以下薄膜时折射率误差较大,当然也无法计算偏振因子P的值,也就无从判断结果的可靠性。 O%52V|m}{ tg3zXJ4k_ 耗材是仪器长期使用的耗费品,并会带来进一步的资金投入,EM01-PV采用了伺服电机来直接带动器件旋转,定位精度高,基本没有损耗,采用皮带传动会有打滑引起的测试稳定性问题,并周期性的带来更换的费用和不便。 */4tJG1U '!AT 高精度的光学自准直望远技术,保证了快速、高精度的样品校正; }iMXXXBOT ?THa5%8f 稳定的结构设计、可靠的样品位置校准,结合先进的采样技术,保证了在单入射角度下的快速、稳定测量; O/(3 87= U i},d[ 分立式的多入射角位置选择,可应用于复杂样品的和绝对厚度的测量; dV)Y,Yx0${ gji*Wq 仪器适应性的结构设计,保证了样品可水平放置或垂直放置,方便进行液相池中的样品测试; q ?(A!1(u UmYD] 一体化集成式的仪器结构设计,使得系统操作简单、整体稳定性提高,并节省空间; >B`Cch/'U hI*`> 9l 专用软件中预定义了当前一些常见的应用(如半导体、微电子、生命科学等),可方便用户。 6={IMkmA aXX,Zu^ 内置模型数据库,免费的软件升级 y?"$(%3| J_|7$
l/ 规格及主要技术指标: F|6
nwvgq J`4Z<b53 EM01技术指标: 0T(O'v}. ix:2Z- 15o9CaQw4" dec-kevin@163.com
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