| sbisna |
2009-08-29 10:15 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品, ][b_l(r$? 8]!%mrS 美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者, P`JO6O:& %A@Q %l6 其产品广泛应用于半导体,OLED/LCD, 光电,数据存储,显示器,微型机电系统以及光附膜产业,SCI的薄膜特性度量系统品种丰富,从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 Z x9oj 1'qllkT 1) Film Wizard™ 软件 : 市面上功能最强大的,多用途,界面友好的薄膜测试模拟软件 1Ner1EKGp >'>onAIL 应用实例,目前已经有多套Film Wizard™软件应用于中国光电,半导体行业的研发和生产行业。 7X\azL 5^"T`,${ 2) FilmTek™ 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统,有多种不同配置,配合不同需求. II!Nr{A RP}.Ei 1.多层厚度(1Å 到 250 microns) T~shJ0% 2.折射率n GtQ$`~r 3.吸收系数k mez )G| 4.双折射率 (DzV3/+p^ 5.能隙(Eg) Tk[`kmb 6.表面粗糙度和损伤 F$l]#G.@A 7.多孔性,薄膜成份,结晶度(EMA模式) 5r;M61 8.薄膜温度特性 ?.&]4z([ 9.晶元曲率和薄膜耐压性 >EQd;Af $O}:*.{(W 应用实例,上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek™2000。 ?nW K s (E'f'g <I}O_:% 详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询,联系方式如下: EAVB:gE 电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 2=X\G~a 邮件:wangdongmei@eccn.com / benchan@eccn.com #b[B$ 网址:http://www.emdeccn.com y:TLGQ0
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