| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 ZqdoYU'
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 x N7sFSV@
网址:www.sci-soft.com h1"|$
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. 9=j) g
A) 薄膜测量/测试 软件 [KFCc_:
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) S*>T%#F6Uo
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 $}r.fji,c
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) 9J~\.:jH-
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) 8MI 8~
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 liG|#ny{
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B) 薄膜测量 仪器 *sZH3:
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ &PH:J*?C}
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ | ` ?&
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b M| j=J{r
Standard Spectral Range标准光谱范围F u]7wd3(
Reflection反射测量, (X
Oz0.W
Transmission透射测量5wIBS\ }3 _b%{
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY 1og +(m`BL
Power Spectral Density功率谱密度测量a #qmsZHd}b
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y J^ewG
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] SASLeGaV
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% TTFs|T6`q
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F ~,oz hj0f/
Energy band gap能量带隙测量U4r[n _{; _wwz
Composition成分测量c*'nh) GA$fueiQNs
Crystallinity晶状测量DTE; W7b
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Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF Y)]C.V,~
Surface Roughness表面粗糙度测量L" Vs{\ YfF
etc. 等等 c zU "
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Typical applications典型应用:P {:("oK 6w
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OLED有机发光二级管薄膜 L'S,=NYXY
Flat panel display平板显示器薄膜 jwAYlnQ^EM
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 ypG*41
Computer disks计算机磁盘薄膜 !`RMXUV
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 X[r 0$yuE
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 23 i 2yT
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 qbeUc5`1
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` }mK,Bi ?bj
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 PU,$YPrZ
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC _K!.TM+9
etc. 等等
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
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电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 K)! ^NT
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