| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 lHP[WO
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 N'[^n,\( :
网址:www.sci-soft.com o ue;$8
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. T_B$
A) 薄膜测量/测试 软件 6.K)uQgjmv
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) qU =$ 0M
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 d_]MqH>R\
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) t,=khZ
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) _jnH!Mw
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 \W *ouH
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B) 薄膜测量 仪器 (( t8
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ k6*2=
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ j_ :4_zdBy
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b >e Jk)qM
Standard Spectral Range标准光谱范围F O{%y `|m
Reflection反射测量, =\_MJ? A$
Transmission透射测量5wIBS\ ~0worI?
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY .s, hl(w,
Power Spectral Density功率谱密度测量a
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Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 4pA(.<#A
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] B23R9.FK
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% nc l-VN
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F i<&2Ffvq
Energy band gap能量带隙测量U4r[n E#_}y}7JY
Composition成分测量c*'nh) >Wy@J]Y#
Crystallinity晶状测量DTE; \ _BaV0<
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF L! Q&?xP
Surface Roughness表面粗糙度测量L" +KD~/}C%-
etc. 等等 )e{~x
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Typical applications典型应用:P HfmTk5|/
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OLED有机发光二级管薄膜 f3*u_LO
Flat panel display平板显示器薄膜 2:2rwH }e
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 w{Dk,9 >w)
Computer disks计算机磁盘薄膜 Z mYp!B_~
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 >mh:OJH45
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 #nn2odR
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 OGh b H a
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` UyIjM ;X
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 tS`fG;
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC ~f ){`ZJc
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电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 b ~v
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