| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 ftQ;$@
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 7+Nl)d:C J
网址:www.sci-soft.com WEoD ?GLS8
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. cEn|Q
A) 薄膜测量/测试 软件 GnC s_[*&r
lanU)+U.
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) \w&R`;b8w
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 _n4_;0
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) $@w ,9J\
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) s) {VU2.ra
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 CYsLyk
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B) 薄膜测量 仪器 v P_mS 4X
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ :f7:@8
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ =L;g:hc<
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b k^#*x2b
Standard Spectral Range标准光谱范围F fo <nk|i
Reflection反射测量, iG"1~/U
Transmission透射测量5wIBS\ W}|k!_/
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY R*lq.7
Power Spectral Density功率谱密度测量a R:+?<U&
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y o#D'"Tn!
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] d7uS[tKqg
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% k 4en/&
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F dz/3=0
Energy band gap能量带隙测量U4r[n fP- =wd
Composition成分测量c*'nh) :bCswgd[
Crystallinity晶状测量DTE; FTzc,6
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF K ;`W4:,
Surface Roughness表面粗糙度测量L" $O fZp<M
etc. 等等 :OqEkh"$#
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Typical applications典型应用:P AbQ nx%$u
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OLED有机发光二级管薄膜 J<9})
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Flat panel display平板显示器薄膜 [<}W S}
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Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 4tvZJS
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Computer disks计算机磁盘薄膜 hVCxw Tg^X
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 . R#<Q
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 !u/c'ZLZ>
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 }0>\%C
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` 'oM=ZU8wo
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 &KV$x3
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC 0Ca/[_
etc. 等等 :3b\ pEO9\
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： 3GMrdG?Y
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