| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 D/(L
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 HLQ"?OFlz
网址:www.sci-soft.com Nd:R"
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. R7oj#
A) 薄膜测量/测试 软件 :&}odx!-!C
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) sKLX [l
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 hlvt$Jwq
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) qv
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三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) hovG QHg
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 L;_c|\%
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B) 薄膜测量 仪器 \8uo{#c L8
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ '2J0>B la
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ @
\.;b9
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b _\ 5~>g_
Standard Spectral Range标准光谱范围F TL= YQA
Reflection反射测量, sfp,Lq `
Transmission透射测量5wIBS\ 1Wg-x0R
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY i< (s}wg
Power Spectral Density功率谱密度测量a J.*XXM- V
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y 5FvOznK^e
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] Q+|{Bs)6i1
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% J}spiVM
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F NQTnhiM7$
Energy band gap能量带隙测量U4r[n r'/;O
Composition成分测量c*'nh) tury<*
Crystallinity晶状测量DTE; ! }TMiCK
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF ~ <0 Z>qr
Surface Roughness表面粗糙度测量L" !Gs} tiMH
etc. 等等 1.@vS&Y7OE
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Typical applications典型应用:P V|Tud
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OLED有机发光二级管薄膜 Ob +9W
Flat panel display平板显示器薄膜 x
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Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 LDT(]HJ
Computer disks计算机磁盘薄膜 ]rd/;kg.S
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 /z."l!u6
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 .;/L2Jv
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 `%K`gYhG1
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` ux2013C_
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 :LJ7ru2
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC yFIy`9R
etc. 等等 -*VKlZ8-
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： cleOsj;S
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 ; ~ 4k7Uz
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