| sbisna |
2009-07-29 11:39 |
上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司 ;Bzx}7A
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品 v9S =$Aj
网址:www.sci-soft.com i ? uX'apk
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SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具. @EyB^T/
A) 薄膜测量/测试 软件 .]JIo&>5
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一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件) B'`25u_e<
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏 $N;J )
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件) bX(/2_l
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包) n"D` =
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包 hlze ]d?z
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B) 薄膜测量 仪器 M+HhTW;I=
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SCI FilmTek 系列, 可测量:\+_Nq~ "19#{yX 4
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Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\ ?_A[E]/H
Maximum Spectral Range 最大光谱范围##b 3;> z %{
Standard Spectral Range标准光谱范围F \0_jmX]p
Reflection反射测量, }HmkTk
Transmission透射测量5wIBS\ #=33TvprR2
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量cY >P\eHR,{-
Power Spectral Density功率谱密度测量a \b8#xT}
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量Y k<+Sj
h$
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量gS|p] m6$&yKQ-=h
Index of Refraction折射系数测量~c=]o% %Q &']
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数:{P]F o$+R
Energy band gap能量带隙测量U4r[n q1x[hv3
pP
Composition成分测量c*'nh) V+@ }dJS
Crystallinity晶状测量DTE; UntFk oO
Inhomogeneous Layers非均匀层测量}KF S<cz2FlV
Surface Roughness表面粗糙度测量L" [)GR P
etc. 等等 Jvsy
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D M+MBK
Typical applications典型应用:P e!gNd>b {
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OLED有机发光二级管薄膜 j%-Ems*H
Flat panel display平板显示器薄膜 pUF JQ*
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜 *i:8g(
Computer disks计算机磁盘薄膜 3\
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Multilayer optical coatings多层光学涂层薄 2y!aXk\#C
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3 rr1'|
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Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜 *ls6k`ymL
Laser mirrors激光镜薄膜Op)` CsycR @[
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜 Cb? !+U
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC ex1!7A!}g
etc. 等等 Mog [,{w
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详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： I]+
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