| sbisna |
2009-06-22 18:38 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品 !.F\v .
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， n =v %}@f2
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 e;gf??8}
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 *JDc1$H0
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 i lNm\fQ.
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. kQ:2 @SOm
1.多层厚度（1? 到 250 microns） W Uxr@0
2.折射率n p;B
+g X
3.吸收系数k u!X 2ju<
4.双折射率 Mr&]RTEE
5.能隙（Eg） q2SkkY$_]y
6.表面粗糙度和损伤 ,= PDL
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） ?Z.YJX oKZ
8.薄膜温度特性 7/~" \nN:/
9.晶元曲率和薄膜耐压性 WT d})
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技术参数 - Zw"o>
1. 厚度测试范围: 1? to 250 microns A,iXiDb3pK
2. 重复性： ± 0°（△） [0rG"$(0Y
3. 折射率精度： ± 2*10-5 w%$n )7<*
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） Le}q>>o;q
5. 入射角: 0°（70°可选） )zt5` "/ o
6. 测试速度： 小于 15 s sS0psw1
7. 光斑直径： 小于 50 nm JD> !3>S)?
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 k' \RS6M`L
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： Oc8+an1m
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 TLkkB09fvk
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com Wd%j;glG
SCI 网址：http://www.sci-soft.com g-]t d8}#
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