| sbisna |
2009-04-27 12:36 |
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析 产品
EMD代理美国SCI高精准薄膜度量 系统 与 软件分析 产品 jd.w7 .8
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美国SCI为世界薄膜度量系统和分析软件行业的领军者， hV NT
其产品广泛应用于半导体，OLED/LCD, 光电，数据存储，显示器，微型机电系统以及光附膜产业，SCI的薄膜特性度量系统品种丰富，从台式研发设备到全自动生产工具以及分析/设计软件应有尽有。 >]x% + @{|
1) Film Wizard? 软件 : 市面上功能最强大的，多用途，界面友好的薄膜测试模拟软件 ^sF(IV[>
应用实例，目前已经有多套Film Wizard?软件应用于中国光电，半导体行业的研发和生产行业。 Nv=& gOy=
2) FilmTek? 系统: 为SCI出产的基于分光光度技术的度量系统，有多种不同配置，配合不同需求. & kQj )
1.多层厚度（1? 到 250 microns） y
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2.折射率n juQ?k xOB
3.吸收系数k ~&WBA]w'+
4.双折射率 sY* qf=
5.能隙（Eg） w&
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6.表面粗糙度和损伤 5Vr#>W
7.多孔性，薄膜成份，结晶度（EMA模式） t')%; N
8.薄膜温度特性 bUe6f,8,
9.晶元曲率和薄膜耐压性 ^*F'[!. p
技术参数 C?]+(P
1. 厚度测试范围: 1? to 250 microns QtLd (&
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2. 重复性： ± 0°（△） p3qKtMs0!
3. 折射率精度： ± 2*10-5 YoSBS
4. 光谱范围: 380nm~1000nm（190nm~1700nm可选 ） QwLSL<.
5. 入射角: 0°（70°可选） xu@+b~C\
6. 测试速度： 小于 15 s %?J-0
7. 光斑直径： 小于 50 nm q:m qA$n
应用实例，上海***研发中心2007年成功引进SCI的FilmTek?2000。 x??H%'rP
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下： \q"vC1,9
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生 +*G<xW :M
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com TVK*l*
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