| water-li |
2009-04-10 00:14 |
光学元件 镜头精密测量 MTF PSF EE
光学精密测量产品概述 < JHU* Z
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光傲公司的光学测评产品线主要包括光学元件、光学系统的精密测量以及光电装备、系统的综合性能评价 *$x/(!UE
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光学元件及系统精密测量 l^ni"X
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光傲公司代理的SpotOptics公司波前传感器是基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理。 SpotOptics是波前传感仪器的领先厂商，在波前传感的应用上技术领先，产品线齐全，针对多种应用领域提供完整的解决方案。在光学元件表面测量应用上，无论是只有几个毫米的DVD读写镜片，还是直径数米的天文望远镜，都可以得到理想的测试结果。SpotOptics的第一套波前测试系统即应用在意大利3.5m直径的伽利略( Galileo ) 天文望远镜测试项目上。1992年, 位于德国慕尼黑的欧洲南部天文观测台(European Southern Observatory )就使用了SpotOptics 提供的波前测试系统。因此我们在该领域不仅历史悠久，而且享誉业界。 UM7Ft"
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除了天文观测应用的Puntino系列产品外，SpotOptics还针对许多特殊行业应用设计、开发了针对性的基于波前探测技术的测试系统： $"T1W=;j9
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Laserino系列, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理，特别应用激光光束、光斑品质测量 7Nc@7_=
Lentino, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理，特别用于非球面透镜(aspherical lenses) 、相机镜头测试 [] 0`>rV q
Sfera, 基于夏克-哈特曼(Shack-Hartmann) 测试原理, 特别用于手机摄像头镜头测试 N~ljU;wo-9
SpotOptics 波前测试仪器的一般特点 ?6B)Ek,'X?
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提供完整的解决方案，具有完整、独立的硬件系统，自带校正光源，多种测试附件可选 4hztYOhJ{
精心设计优化Lenslet Array，使系统的动态范围和取样数量之间达到最佳平衡 geWis(#J
对试验条件宽松，对震动不敏感，几乎不受影响 ?rWqFM:hb
测试过程简单，仪器调整、光学调整+测量，几分钟就 RMDs~
分析软件 Sensoft 应用广泛、功能强大，显示内容丰富，操作界面简单 |heh ROUn
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可测试的光学元件和系统 可测试评价的项目 kR6rf_-[
透镜、非球面透镜 光学失常、像差测试 H| T:_*5
相机、手机摄像等镜头测试 波前或表面重建 #O^H? 3Q3
棱镜 光学元件透过率测试 \P!v9LX(
球面、非球面、平面镜 平面度测试 9x&,`95O
各种滤光片 楔角测试 N{iBVl
隐形眼镜、眼科镜片 复杂光学系统对准 VZF/2d84&w
复杂光学系统 准直 nTY`1w.;
平视显示系统（HUD） 焦长测试 HGB96,o f9
研磨板 MTF (调制传递函数） RX>kOp29
晶圆（wafer) PSF JJ ,Fh
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激光 n<\^&_ a
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华南区销售代表李建峰 u~Q0V J~
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