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2009-07-24 13:55 |
世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro |kg7LP3(8, BsDn5\q 重要特色介紹: K&]G3W%V h
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kJsN|= TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: BM
.~ 5\ 24*XL, '9J/T57]e 顯示器產業: ChPmX+.i_ 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 IY\5@PVZ 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 *C*U5~Zq7: 3. 可進行增亮膜的光場分析。 UECK:61Me 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 />pI8 g< 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 3$>1FoSk m@v\(rT. ;))+>%SGCt LED光源照明產業: 7*A],:-q 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 u?(d gJ 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 ~Otoqu| 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 :>f )g 4. 可模擬LED的照明系統。 {qJ1ko)$ hRCJv#]HC 傳統光源照明產業: joAv{Tc 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 Zt{[*~ 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 WO>nIo5Y 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 s)D;a-F $>eCqC3 c]o'xd,T8\ 汽車產業: 29] G^f> 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 mL{6L? 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 V5>B])yQ 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 zL0pw'4 G}raA% `kXs;T6& 成像系統: 4p;`C 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 _8UU'1d 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 yq\K)g*= 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 s-Tv8goNV 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 AH7}/Rc J<h$
wM E4/Dr}4 生醫產業: Ioa$51& 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 3,qr-g|;jM 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 ~HsJUro 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 2uW;
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]g?*}OJ }9OC,Y8?D 航空國防產業: Om2d.7S 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 /7F:T[ 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 vXZOy%$o 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 )F]]m#` @K!T,U =-n}[Y}A 消費性電子產業: `1fY)d^ZS 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 g:8h|w) 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 p}~JgEE 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 h3
}OX{k 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 I,vJbvvl! Qpc__dA\ W[e$>yK ENs&RZ; UySZbmP48 -------------------------------------------------------------------------------- =m#?neop TracePro模組介紹: ]&+s6{} LC: +a{1)nCXe 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 /@TF5]Ri 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 BUXpCxQ lzVq1@B Standard: yl+gL?IES 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 j'"J%e] 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 >!1-lfa8 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 tFOhL9T 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 Pw"-S?`( 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 Z,Dl` w 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 I:1C8*/ VTY 5]|; bP&]!jZ Expert: ;"-&1qHN 1. 擁有所有Standard的功能。 d|Lj~x| 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 $5%SNzzl 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 x7<K<k;s 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 u <v7;dF|s /!XVHkX[ mtcw#D TracePro Bridge for SolidWorks: Si;H0uP O 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 +Q"4Migbe@ H9Q&tl9 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro
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CWn95Z \ta?b!Y),? SSMHoJGm ((M>s&\y*Y oj+hQ+> 4ID5q~ TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 ' %o#q6O HY:7? <r TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 %| Lfuz* g}(L;fy>7 ?hy& TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 BR;D@R``} xdkZdx>N FJ)$f?=Qd 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 X$W~mQma6 h>m"GpF
x oe-\ozJ0 amY!qg0P* -------------------------------------------------------------------------------- &6nWzF T1=fNF TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: s?L II{&{S'HU _KAQ}G3 顯示器產業: ^Xh^xL2cn 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 Y`a3tO=Pd 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 z!9-: 3. 可進行增亮膜的光場分析。 ln
dx"prW 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 ak!G8'w 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 }:)&u|d_ gc$l^`+M U&p${IcEm LED光源照明產業: ]~3V}z,T* 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 aAUvlb 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 +@wD qc 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 6qnzBA7 4. 可模擬LED的照明系統。 >pe.oxY tK\~A,= 傳統光源照明產業: ;u)I\3`*! 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 A2Gevj?F$ 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 [` 7ThHX 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 zy
}$i? _xhax+,! ~ Uz]|N6` 汽車產業: H9e<v4c 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 )\$|X}uny& 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 #AQV(;r7@ 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 Ds:'Lb {_v#~595 9 djk[ttA) 成像系統: TarY|P7_ 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 C;^X[x%h7$ 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 [d]9Oa4 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 /mzlH 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 <wD-qT W }0Ed] >~0Z& d 生醫產業: (n_/`dP 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 Pe3o;mx 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 z~s PXGb 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 2<}%kQ` j1T#yt
J d%n-[ZL 航空國防產業: ysY*k` 5 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 fe_5LC" 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 ab?aQ*$+ 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 ;9QEK]@ "VMz]ybi^ .(k|wX[Fu~ 消費性電子產業: -aCKRN85 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 9_/:[N6|c| 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 ^} >w<'0 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 f]srRYSR 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 "E4a=YH_ {]4LULq ]3Sp W{=^( $6R-5oQ 8zW2zkv2|# -------------------------------------------------------------------------------- FGBbO\</ TracePro模組介紹: g*+>H1} LC: mj7#&r,1l 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 Tpa5N'O 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 Y(Hs #Kn{ gL/9/b4 Standard: ysnx3(+| 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 *MW\^PR? 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 'i|YlMFI g 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 /PXzwP_(A 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 ,f?*{Q2 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 jq0O22
-R 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 XC#oB~K' 5~DJWi, m+z&Q Expert: 6[AL|d
DK 1. 擁有所有Standard的功能。 WcbiqxK7- 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 >9Vn.S 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 l,aay-E 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 .O<obq~;C AbW6x t4-[Z$n5 TracePro Bridge for SolidWorks: &_8947 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 1s;Saq+ [0("Q;Ec[j 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro |CbikE}kL 0jWVp-y 重要特色介紹: :7;@ZEe HTTCTR pT6$DB# _+3::j~;m %mgE;~"& YtLt*Ig% m+$VVn3Z} E' uZA W\V.r$? v XQw9~$ A^S gI-y| *lJxH8 \ [()koU#w. uCB=u[]y4 'dc#F3 u_Z+;{]Pj TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 1G`Pmh@ ~)M~EX&pK TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 O^rD HFj, u)Whr@m WTiD[u TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 KqP#6^ _ iH'p>s5L G^@5H/) 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 |6y h;'~,xA
05 ^h" xD=csJ'( -------------------------------------------------------------------------------- )Q JUUn# ]eV8b*d6 TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: #[[ en g0E'g DVeE1Q 顯示器產業: ksm~<;td 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 iU:cW=W|M\ 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 "ocyK}l.?
3. 可進行增亮膜的光場分析。 y>ktcuML 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 bW:!5"_{H 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 y<.5xq5_3 !p/goqT~dY Zb#u0Tq LED光源照明產業: @PIp*[7oC 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 NX&_p!_V 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 NCD04U5y 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 f?)-}\[IR{ 4. 可模擬LED的照明系統。 J9 I:Q<; wKY_Bo/d 傳統光源照明產業: H%{+QwzZ[j 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 hCo|HB 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 &9>vl* 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 O&hTNIfi &,)&%Sg[ 7x8
yxE 汽車產業: 7PF%76TO 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 VS|2|n1<6 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 [.}oyz;}N 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 \^1E4C\": lr$zHI7_` /<BI46B\ 成像系統: OB}Ib] 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 8JUwf 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 .o}v#W+st 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 @[v~y"tE} 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 %xt^698&X #Rr%:\* k|f4Cf, 生醫產業: CTA3*Gn 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 x$(f7?s] 1 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 E<*xx#p 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 Vf1^4t Q=dy<kg'] J|rq*XD}q 航空國防產業: Z$? # 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 L{Vqh0QD& 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 e@YK@?^#N 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 +qdEq_m Uoix >c}u>]D 消費性電子產業: )BfAw 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 /2VJX@h 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 g#E-pdY 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 ^LzF@{ G 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 h!9ei6 S`Rs82> ]
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q( }W,[/)MO -------------------------------------------------------------------------------- % %UE+u@J TracePro模組介紹: q-d:TMkc LC: ( &x['IR 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 sW8dPw
O 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 Yu2Bkq+ "-V"=t' Standard: lqpp)Cq 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 jb!i$/%w 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 {H'Y `+ 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 sdmT 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 7"D.L-H 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 BTrn0 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 ,~W|]/b<q %D "I Dv`c<+q(# Expert: Wo=jskBrQ 1. 擁有所有Standard的功能。 A&jlizN7 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 RViuJ; 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 @7n"yp*" 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 m&yJzMW| Uf+%W;} y:l\$pGC% TracePro Bridge for SolidWorks: H}
g{Cr"Ex 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 -A!%*9Z u\JNr}bL 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro 4H]L~^CD uM6+?A9@l 重要特色介紹: =_u4=4 JqiP>4Uwm^ v|2T%y_
u R{T$[$6S V3j= Kf bA->{OPkT x-3\Ls[I lnR{jtWP #Mw8^FST b;UJ 88 Q]>.b%s[ ]OzUGXxo~ A3@6N( czd~8WgOa q'82qY -3Vx76Y TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 Z?QC!bWb ~e@z;]CiY TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 V "h
+L7T J/*`7Pd IO-Ow! TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 }`~+]9< &.?'i1! d>C$+v> 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 %bfQ$a: ~Jz6O U*z 8-77d^cprR ySDH"|0 -------------------------------------------------------------------------------- _a T5jR= :6\qpex TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: 9qG6Pb LSr]S79N1 k\GcHI- 顯示器產業: mL: sJf 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 [HZv8HU| 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 s!7y 3. 可進行增亮膜的光場分析。 Npy:! 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 G<v&4/\p`M 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 C>*u()q>4h *bA.zmzM YcpoL@ab LED光源照明產業: 'SF<_aS( 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 81Z) eO# 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 kpN)zxfk 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 7O-x<P; 4. 可模擬LED的照明系統。 :G%61x&=Zc
Z>5b;8 傳統光源照明產業: ~FG]wNgS 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 0.k7oB;f(@ 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 K(,F~.< 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 |_@>*Vmg Z}Ft:7 @r/nF5 汽車產業:
]-/VHh 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 ckE-",G 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 Dwfu.ZJa 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 bB3powy9 b2&0Hx Gu\q%'I 成像系統: 6G""I]uT 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 YGCL2Y 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 n8ZZ#}Nhg 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 1NA.nw. 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 %aVq+kC h i6Emhji \n|EM@=eE 生醫產業: PBTnIU 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。
tG22#F` 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 %^1V4 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 mb^~qeRQ +*/Zu`kzX #fn)k1 航空國防產業: ?QdWrE_
1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 _5Ct]vy 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 .;`AAH'k 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 _TQj~W< dk4CpN Tqn@P 消費性電子產業: CU2*z(]& 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 w-L=LWL\ 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 EaY?aAuS: 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 >$/>#e~ 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 XrGglBIV p}pjfG HJ[c M6$2 XW)lDiJl O23k:=Av -------------------------------------------------------------------------------- YHygo#4=8 TracePro模組介紹: 4*cEag LC: =|y9UlsD 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 `%"\@< 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 /dI&o,sA h( u8&MHx Standard: u.m[u)HQ 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 +.b,AqJ/ 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 9`X\6s 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 ?_9 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 u(F_oZ~ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 ~t~k2^)|" 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 fW1CFRHH 3J|F?M"N7 Q6!zZ))~ Expert: i^Y+?Sx 1. 擁有所有Standard的功能。 RmeD$>7 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 o&)8o5 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 umH40rX+ 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 ep)n_!$OH" dhf!o0'1M x,@B(9No TracePro Bridge for SolidWorks: Ma']?Rb` 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。
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