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2009-07-24 13:55 |
世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro C==yl"w omMOA 重要特色介紹: 9$?Sts}6& q
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xme }6_*i!68"U @ tvz9N /rIyW?& f re~T,PPM s(Bcw`'# *\(MG|S >t_h/:JZ) ?Kt F!:_C TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 (Z0_e&=* d%za6=M TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 l0 8vF$k|d 9Vru,7g GXp`yK9c TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 } J[Z)u ysj5/wtO0 L^jjf8_ 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 3=Q:{ eIJ>bM s IFE:/1, 3K=%I+G(4 -------------------------------------------------------------------------------- q6,z 1A" 0NeIQr1N_ TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: <D[0mi0 Y4C<4L? +Bf?3 5LP 顯示器產業: N;`/>R4|I 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 kuI~lBWI 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 wRvh/{xB 3. 可進行增亮膜的光場分析。 :r>^^tGT! 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 c: r25 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 s+?2oPa Xhq7)/jp f14^VTzP/# LED光源照明產業: 2t4\L3 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 * bd3^mP 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 Khb Ku0Z 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 !
,bQ;p3g| 4. 可模擬LED的照明系統。 ftG3!} _jc_(;KPF 傳統光源照明產業: =ecLzk"+F 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 Wqkzj^;"G 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 &JXb) W 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 l n\qvD_ N+ak{3 -V:HT
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QvCAR 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 M.K^W ` 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 LFI#wGhXVk 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 j.ucv ^DN:.qQ )S
7+y6f&* 成像系統: W|D
kq 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 Kxch.$hc, 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 @AF<Xp{ 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 \nt~K}a 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 (-g*U# a%e` m`9nDiV 生醫產業: W&=OtN
U! 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 D8<C7 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 3*&
Y'/! 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 }b1FB<e] Z;%uDlcXI O 5:bdt. 航空國防產業: kzjuW 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 ~W [I 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 v,S5C 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 UWF
\Vx*)b 1vxRhS&FY %\v8FCb 消費性電子產業: 6,A|9UX=` 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 P{--R\ 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 HMCLJ/ 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 bDM },( 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 755,=U8'wi '< U&8?S TIKkS*$ 3l~+VBR_ uYMn VE" -------------------------------------------------------------------------------- V9,<> TracePro模組介紹: 8u2k-_9 LC: wX0D^)NtF 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 SHX`/ 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 >UvP/rp E ?Mgbd3 Standard: z_!IA
] v 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 v-tI`Qpb 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 SO=gG 2E 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 :$$~$P 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 PjeI&@ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 gS5REC4I/ 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 c,xdkiy3 ]~aj !+%gJiu: Expert: WR{m?neE_N 1. 擁有所有Standard的功能。 uQIPnd(V 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 XgC^-A w 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Y"H`+UV 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 TQ]gvi|m 'F d+1
3 "[N2qJ}p TracePro Bridge for SolidWorks: ;OlnIxH(W 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 ~.:{
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2 wH ,PA: vwT1bw . .o/|]d`% K1 "HJsj Mt4 R!M' TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 6TW<,SM V
*@q< rQ TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 U4"^NLAq G`!,>n 3 peVY2\1>R TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 3N_KNW 05 6K) E KR( apO 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 y~+LzDV !igPyhi,hl ,7B7X)m{3 zIF1A*UH -------------------------------------------------------------------------------- BQ6$T& !V.]mI TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: 2H`r:x<Z- :zU4K=kR X"TL'"?fo 顯示器產業: c +]r 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 Tv|'6P 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 2E-Kz?,:[ 3. 可進行增亮膜的光場分析。 a?y ucA 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 ._0$#J S[ 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 `:iMGqZN l -XfUjJ :rr<#F LED光源照明產業: %g7j7$c 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 s]m]b#1!r 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 GG#-x$jK 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 .uA
O.< 4. 可模擬LED的照明系統。 - k0a((? {Vu=qNx 傳統光源照明產業: W>' DQB 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 <2(X?,N5BD 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 >7WT4l)7!b 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 L[zTT\a l3u [ 5i6Ji( 汽車產業: yFAUD
ro 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 bD
v&;Z 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 PlCw,=K 8f 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 GNW$:=0u Z84w9y7O< i`i`Hu> 成像系統: =4)8a"7#. 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 *fY*Wy9 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 "'DPb%o 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 -n@,r%`UK 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 p_xJKQS c:=HN-*vQ XyB_8(/E 生醫產業: &LV'"2ng8 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 LI-ewea 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 *=md!^x` 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 k7JC~D
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#}cW fm#7}Y 航空國防產業: ^Cp;#|g, 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 ([m4dr 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 &xr (Kb 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 A/ zAB3 .D7Gog3^< FS7D 消費性電子產業: bz:En'2>F 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 % M_F/ O 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 ?RE"<L 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 PY CG#U 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 2n"-~'3\ Cf 202pF3y YPs9Pqkn \]FPv7! 2UR1T~r -------------------------------------------------------------------------------- 87pu\(,' TracePro模組介紹: p*jH5h cy LC: U*EBH 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 r"|do2s 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 55b/giX "MPS&OK Standard: WM9({BZ 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 iOAn/[^xk 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 -f'&JwE0= 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 ,\T `gh 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 ,-n_(U 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 h1Y^+A_ 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 Qp@}v7Due IUWJi\, )eX{a/Be Expert: OgK' ~j 1. 擁有所有Standard的功能。 ocS}4.a@ 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 \^cXmyQ <% 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Wa!C2nB 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 Bi/E{k, {rF9[S"h Rto/-I0l TracePro Bridge for SolidWorks: d_[zt) 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 {p$X*2ReB H ~<.2b 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro {\h:k\k X2 <fS~m 重要特色介紹: e=!sMWx6 z2A,*|I Q{
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\[]4rXZN0 2zkOs: 汽車產業: o}Q3mCB 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 3
t+1M 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 :d|~k 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 "8\2w]" TV?MB(mN }k@SmO8 成像系統: Eo0/cln| 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 Wfsd$kN6{ 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 d*LW32B@ 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 rs0Wy
4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 rb]?"lizi |+Tq[5&R CWSc #E 生醫產業: 8Q73h/3 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 Bk/&H-NI 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 5p~hUP]tT 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 2k^'}7G% }qBmt># 9D7i>e%,;- 航空國防產業: C ~04#z_$ 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 sY&Z/Y 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 KESM5p"f 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 j7J'd?l FQ u c}A @el 消費性電子產業: <sls1, 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 6K^O.VoV^J 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 /z: mi 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 _[/#t|I} 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 JgBC:t^\pV ,OFNV|S$ `pqTiV #g<6ISuf P7$/yBI U -------------------------------------------------------------------------------- Qw<&N$ TracePro模組介紹: ZWQ/BgKB LC: ]D,\(| 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 LX#gc.c 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 }ldpudU >+):eBL Standard: kq@~QI?9 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 |^"0bu" 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 `yO'-(@"gY 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 ]88qjKL 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 <jBRUa[j_ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 w8a49 Fv 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 `UTUrM hw=~%f; ER0B{b Expert: !@ {sM6U 1. 擁有所有Standard的功能。 <
pZwM 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 jwP5pu 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 *D.Ajd.G 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 a4pe wg' _PSOT5{ 9*r^1PRc TracePro Bridge for SolidWorks: bAwKmk9C 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 iUk#hLLC Eihn%Esa 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro JfmYr47Pv #/{3qPN?@ 重要特色介紹: -!}3bl*(7 c=X+uO- u08QE, $lq.*UQ;0 _n_()at) "lSh4X /aIGq/;Y+a E;[Uhh|78! 7Gy:T47T\@ ~S\> F\v6' =[LorvX+ fH$#vRcq qG ? :Q B{*{9!(l9 $sS~hy* m xqY TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 {Wu[e,p xF@&wg TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 e~d=e3mBp "%p7ft YV!hlYOBi TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 _54gqD2C,
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&m4|cw7 RB|i<`Z 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 9\c]I0)3p AI`k
}sA~ Ka_;~LS>( @&Bh!_TWc -------------------------------------------------------------------------------- ;S '?l0 +@~WKa TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: eLnS1w2 o]RZd--c< ixSr*+ 顯示器產業: igW* {)h3 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 CH&{x7$he
2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 *tgu@9b 3. 可進行增亮膜的光場分析。 oeB'{bG 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 Q;g7<w17 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 O9p s?{g sRA2O/yKCE h<TZJCt LED光源照明產業: q\~
#g.} 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 0%dOi
ko 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 3%5a&b 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 w"wW0uE^ 4. 可模擬LED的照明系統。 o~)o/(>ox zX4RqI 傳統光源照明產業: t>/x-{bH\ 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 (+[%^96 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 7HBf^N. 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 $`55 E( _io'8X2K% dGn0-l'q 汽車產業: w2'q9pB+ 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 6]Is"3ca 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 RYjK4xT?Y/ 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 UaF~[toX Z$JJ0X #Uu,yHMv:; 成像系統: .JXEw%I@ 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 ;=jF9mV. 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 HyVV,q^E 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 fy4zBI@ 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 BZ1wE1 t wlJi_)! !>n!Q*\(Ov 生醫產業: >&KH!:OX| 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 e,/]]E/o 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 K F_fz 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 KE~Q88s $Dj8 a\L YWl#!"- 航空國防產業: 8qg%>ZU4d 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 (.cA'f?h 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 0Eb4wupo 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 A}(]J!rc $|- Lw!)D = IRot 消費性電子產業: !SW0iq[7j 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 Y
b3ckktY 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 -je} PwT 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 #0aBQ+_8H 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 9 A ?{}c R+Hu?Dv&F S
F*C' e"%TU E5n7
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+0@,I TracePro模組介紹: kg]6q T;Y LC: ,r w4Lo 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 LBCH7@V1yR 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 @/.#
/ m6ge
% Standard: z_$c_J 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 hi1Ial\Y 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 >0{}tRm-P& 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 EVX3uC}{ 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 Bdw33z*m 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 #XDgvX > 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 **hQb$ a.Z@Z!* ls^Z"9P Expert: u]IbTJ' 1. 擁有所有Standard的功能。 @./h$]6 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 lLTqk\8g 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 qg
oB}n% 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 3Tl<ST\ #{q.s[g*+1 T?pS2I~ TracePro Bridge for SolidWorks: XGx[Ny_A2 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。
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