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2009-07-24 13:55 |
世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro j\2]M T>#TDMU#Fm 重要特色介紹: sS,
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g_Ri$x8 Js/N()X 1|W2s\ f[x~)= +<&E3O r TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 w{3ycR >GgE,h TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 M3ZOk<O<R >wA+[81[ ^Sw2xT$p{j TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 UanEzx% 2zhn`m }@wVW))6$ 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 h{I`7X mxgqS=` G(3;;F7" GSP?X$E -------------------------------------------------------------------------------- :WVSJ,. ! IAYACmlN& TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: 1DUb
[W8 @a0Q0M sJOV2#r 顯示器產業: #00D?nC 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 )#a7'Ba 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 ?z3] 3. 可進行增亮膜的光場分析。 +,z)# 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 Y~}5axSPH 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 +>!V]S mg` j[<wp ~T%Ui#Gc LED光源照明產業: Bhe{L?}0 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 s"WBw'_<< 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 j1A|D
3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 /[%w*v*' 4. 可模擬LED的照明系統。 9mDnKW W2hA-1 傳統光源照明產業: w//omF'` 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 t{zBC?cR 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 h/HHKn 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 uaaf9SL? P3!Atnv2 J1X~vQAe 汽車產業: Z5$fE7ba+ 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 DHv2&zH 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 *GJ:+U&m[ 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 q*bt4,D&Es -%,"iaO w^Ag]HZN 成像系統: >'b=YlUL 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 >I^9:Q 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 &?y7I Pp 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 x#r<,uNn, 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 *C7F2o gfN2/TDC]P t"|DWC* 生醫產業: 45<y{8 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 JhP\u3 QE 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 '1-maM\r 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 YG`?o !),t"Ae?>
q=4Bny0 航空國防產業: ~KPv7WfG 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 2+Yb
7 uI, 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 pRrHuLj^ 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 3{ "O,h
qybxXK: S&wzB)#' 消費性電子產業: U\vY/6;JI 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 R5(T([w' 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 cP rwW6 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 p$XKlg& 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 0BK5qz wk @,wOt *yez:qnx J'Sm0 WD.U"YI8y -------------------------------------------------------------------------------- v* ~3Z1 TracePro模組介紹: ^B]@Lr E^ LC: izuF !9 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 r4Q|5kT*i 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 L'E^c,-x~ f<=Fe:1. Standard: =w%O a< 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 D*2\{W/ 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 /XbW<dfl 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 sn{tra 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 ea9oakF 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 3WUH~l{UJ 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 DQ80B)<O #*^+F?o,( RUo9eQIPD Expert: h-QLV[^ 1. 擁有所有Standard的功能。 OZ(dpV9.S 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 %!|O.xxRR 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Ed-M7#wY 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 |.U)ll(c h"W8N+e\ w/m:{c Hk TracePro Bridge for SolidWorks: eUBrzoCO 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 =.Tv)/ea /,tAoa~FA 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro tef^ShF] z&}-8JykH 重要特色介紹: ^%<pJMgdF #b)e4vwCq bF-"tm jndGiMA {hdPhL B\CN<<N>dD lpmJLH.F \".^K5Pm zm#nV
Y` #R&H&1 8P: spD0 {?8B,G2r I;MD>%[W, n/Dp"4H%q ,kM)7!]N e%O0hE TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 q3w1GD
l*=aMjd? TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 ,xsH|xW G}zZQy 9Kv|>#zff TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 <V&5P3)d9 n.}T1q|l -ysn&d\rV 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 aUopNmN }IaA7f sM2MLh 'D Z;DCI-Wg -------------------------------------------------------------------------------- zu\`1W^ ml!5:r> TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括:
iThSt72 q6d~V]4: g=8un`]7 顯示器產業: Bi%x`4Lf 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 <i. apBH 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 P:xT0gtt 3. 可進行增亮膜的光場分析。 2DDsWJ; 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 N"7]R[* 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 bn9;7`>. 8?FueAM'
*C| LED光源照明產業: 2umv|]n+l| 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 @C8DZ5) 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 &2.u%[gO[q 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 $)~ 4. 可模擬LED的照明系統。 P ,mN > 2 -+f1, 傳統光源照明產業: 6dqsFns}e 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 KW3+luI6 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 -0uV z) 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 y'C-[nk $&I'o ){;02^tX 汽車產業: dFXc/VH') 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 n~IVNB* 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 ~aK?cP 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 [\z/Lbn
,. B9dt=j3j2 ()T[$.( 成像系統: >!6JKL~= 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 %3Z/+uT@v] 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 mh/n.*E7 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 |bv,2uW z 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 i'/m4 !>h Rd*[%) ._Zt=jB 生醫產業: W6c]-pc 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 _"a=8a06G 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 KFRw67^ 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 |,C#:"z; j{++6<tr sN=6 gCau 航空國防產業: pL1i|O
1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 [tT8_}v$LN 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 bzpFbfb 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 knp>m,w ~:4kU/] Nh?|RE0t 消費性電子產業: | s+0~$O; 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 I,@r5tKo 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 )=pD%$iq 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 JtKp(k& 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 upn~5>uCP t0&@h\K Sb2v_o ='?:z2lJ sUkm|K`# -------------------------------------------------------------------------------- :;;E<74e
i TracePro模組介紹: :Sg&0Wj+#j LC: AEirj / 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 xg`h40c 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 +!t} }Nj97R Standard: H;ZHqcUX 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 W[bmzvJ_X 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 >zvY\{WY 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 0Wvq>R.(]7 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 #EO1`9f48x 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 R"Liz3Vl% 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 ~!iQ6N?PY QWnndI_4p 83~ i:+; Expert: lU]un&[N 1. 擁有所有Standard的功能。 j F"YTr6 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 rnFM/GAy 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Et2JxbD 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 w?vVVA ^ZeJ[t&!# km5~Gc} TracePro Bridge for SolidWorks: 8;P2A\X 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 ]
f>]n /c#`5L[ 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro qem(s</: XE3aXK'R 重要特色介紹: k_|^ kdWJ NW9n 2C^B_FUg|] oP?YA-#nc n| O [a6G -4#2/GXNO b;mSQ4+ '(+<UpG_Q} Zi$ziDz& U]~^Z R \,UZX&ip T $4P_* NtGn88='{ w) ]H ^6 \(UKdv Vn=qV3OE] TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 `<" m%> T5Eseesp TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 7Du1RuxP ~3h-j K? g&/p*c_ TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。
xFv;1Q W1aa:hEf lG<hlYckv 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 N)8HR9[! #<7O08: AF,BwLN m(OvD! -------------------------------------------------------------------------------- n_D8JF N6oq90G TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: ^D67y% BZK`O/ Ft JjY@# 顯示器產業: 8
(jUe 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 ({}( qm 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 {4 >mc'dv 3. 可進行增亮膜的光場分析。 Eu<1Bse; 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 he3SR@\T 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 s$h]
G[x 3#kitmV 0\{BWNK LED光源照明產業: C"T1MTB 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 N^?9ZO 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 lVH<lp_ZtK 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 w[Gh+L30=5 4. 可模擬LED的照明系統。 or ;f&![w tS# `.F~y 傳統光源照明產業: )4Q?aMm 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 s'P( ,!f 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 RWq{Ff}Hk 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 Jhkvd<L8`m c2SC|s] `xS{0P{uj 汽車產業: Mc sTe|X 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 !v#xb3"/ 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 [(LV 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 Z5G!ct:W n_K~vD ["<nq`~ 成像系統: OV CR0 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 aiCFH_H4;L 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 C2e.2)y 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 FXKF\1`(H 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 8Q`WB0E<| ]J1S#Q5' |V[9}E:
h 生醫產業: A!W0S 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 !,$i6gm 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 Z*{]
, 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 |BMV.Zi R_P}~l I lR\
# 航空國防產業: rk2xKm^w 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 S|AM9*k9 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 wVs.Vcwr
3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 2B~wHv Lr;(xw\[' I 1d0iU 消費性電子產業: 84zTCX 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 T4e\0.If 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 10Wz,vW,n 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 5}ie]/[| 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 a[bBT@f ~i'Nqe_ $V>98M>j n#Dv2 E=6 Zx }&c |Q -------------------------------------------------------------------------------- 2Tav;LKX TracePro模組介紹: Myat{OF LC: XhzGLYb~I` 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 l2%bF8]z 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 +KGZHO! .k{ j]{k Standard: <<A`aU^fX 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 dGfVZDsr] 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 \/7i-B]G7 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 W|k0R4K]] 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 !33#. @[ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 Z!xVgM{ 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 -u!qrJ*Z rtJl _0` .Jb$l$5'w Expert: Dz=k7zRg" 1. 擁有所有Standard的功能。 6!iJ;1PeE 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 /(I*,.d 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 ~\nBjM2 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 v}G]X Z8 kU5.iK' et,GrL)l TracePro Bridge for SolidWorks: jt~Qu- 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 /NT[ETMk+ =bh*[,- 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro 3b'tx!tFN
2g*J 重要特色介紹: M/PFPJ >` jcCoan I0AJY
)R qJ!Z~-hS hli|B+:m" q"KnLA( 6}~pq1IF{ #yseiVm; Y-piL8Xc /z7VNkD ~pk(L[G A\rt6/ wyx(FinIH n;HHogA 4Ph0:^i_ P=N$qz$U TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 U8#xgz@ +@9gkPQQ-@ TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 >t,M v1U?&C hjZ}C+=O TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 5F+APz7 pnyWcrBf + Y.1)i} 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 CF!Sa 6 D'<VYl"/ #BVtL :x@ %z]U LEYrZ -------------------------------------------------------------------------------- P;ZU-G4@ U=Y)V% TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: NE8 jC7 dhg~$CVO ?rVy2! 顯示器產業: Z0!5d< 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 2'jOP"G 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 0X8t>#uF 3. 可進行增亮膜的光場分析。 Bm$"WbOq*R 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 ?,P3)&3g 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 c'6g*%2k
B3m_D"? a?}
.Fs LED光源照明產業: }UJv[ 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 qL6c`(0 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 k-V,~c 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 l5%G'1w#,j 4. 可模擬LED的照明系統。 2I3h
MD0 s..lK
"b 傳統光源照明產業: bUV >^d 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 U/ V 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 %R#L 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 Mj-vgn&/ 5wB => *,C(\!b
!? 汽車產業: JTqDr 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 7qO a
;^T 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 #&<)! YY5 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 +h^jC9,m~{ !IU.a90V 682Z}"I0 成像系統: ~"pKe~h 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 m p<1yY] 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 &*G<a3Q 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 @J{m@ji{ 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 "xcX'F^ \y6OUM2y eAUcv`[#p 生醫產業: 5Dp#u 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 AIb2k 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 v}@xlB= 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 rn DCqv!'P qbrp P(. u$%t)2+$4 航空國防產業: tqAd$:L 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 ]&Z))H 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 (%iRaw7hp 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 }'r[m5T ]v[|B jVLA CWH 消費性電子產業: 8eA+d5k\. 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 tg^sCxz9] 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 T5urZq*R 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 -(#I3h;I 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 fQrhsuCrC '65LKD /TS=7J# =to=8H- "5cM54Z0 -------------------------------------------------------------------------------- e \O/H< TracePro模組介紹: [m^+,%m5] LC: Vcd.mE(t% 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 (}. @b|s 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 AM=z`0so oJ#,XMKga Standard: rt
JtK6t 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 ]weoTn: 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 .ROznCe} 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 cj11S>D 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 F~ Lx|)0M 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 $mF_,| 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 VDTcR RN=` -*E1 vb9OonE2 Expert: P%K4[c W~ 1. 擁有所有Standard的功能。 w+1Gs
; 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 2Sm}On 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 (8_\^jJ 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 @F(mi1QO ){jla,[ s/089jlc TracePro Bridge for SolidWorks: #^+DL]*l 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。
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