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2009-07-24 13:55 |
世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro m=pH G lzFg(Ds!f 重要特色介紹: HF&dHD2f G'HLnx}Yi 02^\np `yhc,5M f~jdN~ y
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R.1o TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 {qry2ZT5 h^K>(x TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 A}"uEk(R ?K.!^G uxq#q1 TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 t!ZFpMv]n
G0r(xP? `AdHyE 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 ,*p(q/kJh~ zzKU s "u }u5J<*:bZ YWq{?'AaR -------------------------------------------------------------------------------- ;ZrFy=Iv `UkjrMO TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: [9p@uRE P_@ty~u
q,'~=Y5 顯示器產業: "yXqf%CGE 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 4vH.B)S-
2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 WN#dR~> 3. 可進行增亮膜的光場分析。 Pb :6nH= 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 twTRw:.!f 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 jm|zn 7nPm{=BG Lhgs|*M LED光源照明產業: %bnjK#o"Q 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 C4C!-12 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 qkyYt#4E 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 %A(hmC 4. 可模擬LED的照明系統。 Qnp.Na[JV ui^v.YCMI 傳統光源照明產業: w?c~be$ 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 Qc:Sf46O 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 }% ?WS 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 >LB x\/
ZW8;?#_ CwfGp[|}e 汽車產業: <gr2k8m6$ 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 (pQ$<c 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 ~_SVQ7P 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 TGPHjSZ1 &[}5yos
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_h 成像系統: o Bp.|8- 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 Tb]' b 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 S4X['0rX! 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 L2y{\<JC" 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 qv+}|+aL: t+SLU6j, kI$p~ 生醫產業: 3_k3U 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 X<$8'/p r 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 :!g zx n 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 s}Sxl0 GEf[k OQ I*i$!$Bx2 航空國防產業: bk-aj'>+ 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 6NqLo^ "g 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 k+&1?] 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 CU(W0D &28n1 FUTDR-q O 消費性電子產業: ()i!Uo 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 d
"vd_}P~ 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 ma4r/8Q 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 ,TxZ:f`" 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 -[`FNTTV C U^X8{,8O }u7&SU 3# T_( Ti9cN)lq& -------------------------------------------------------------------------------- 0<S(zva7([ TracePro模組介紹: 7QkAr LC: y7s.6i}7 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 :`P;(h 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 IN9o$CZ: @'!61'}f Standard: {VE$i2nC8 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 }UWRH.;v 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 xR;-qSl7Ms 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 _j2h3lCT 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 J#W>%2"s 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 U!x\oLP 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 $yb8..+ 6Gs,-Kb: b511qc"i>M Expert: dfq5P!' 1. 擁有所有Standard的功能。 $T0|zPK5 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 Mhw\i&*U 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Z;mDMvIu ( 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 h@D4~(r G1'w50Yu
r4qFEFV3% TracePro Bridge for SolidWorks: -Q8pWtt 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 _?2xIo 93( 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro ?Xo9,4V1 ;"nEEe]? 重要特色介紹: =;$&:Zjy/% .9g\WH#qD| qO9_e
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.<" /HDX[R XfsCu> ^J~}KOH TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 hoeTJ/;dm gi@+27; TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 LZ ID|- %9NGVC D#m+w TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 {YbqB6zaM :WCUHQ+ -RH ?FJ 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 |ns^'q "ej>1{3Y:= ~0 FqY&4 9Jk(ID'c -------------------------------------------------------------------------------- y~S[0]y> ?I/,r2ODLh TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: {fN_itn jv|IV 3.d=1|E 顯示器產業: |k+&weuY 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 esu6iU@ 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 ;LrKXp 3. 可進行增亮膜的光場分析。 4
|5ekwk 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 S5Px9&N8( 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 @xkM|N? oC[wYUDg m#;:%.Rm LED光源照明產業: @e0Q+ t 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 @i)tQd!s 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 mifYk>J^9 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 n'h
)(^ 4. 可模擬LED的照明系統。 \iE'E [ X~X?By> 傳統光源照明產業: +NXj/ 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 [
$"iO#oO 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 d,)F #;^5 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 g*tLqV <zDe;& }.gg!V'9w 汽車產業: .N+xpxdG, 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 /Bwea];^Q 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 fVN}7PH7+ 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 '
R@<4Ib| (7wR*vO^ =}"hC`3e 成像系統: q,(&2./ 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 \S@A
/t6pa 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 D!sSe|sL^ 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 Cg|uHI* 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 Q.]
)yqX6 Z{CL! y-X'eCUz 生醫產業: 'q^Gg;c>+ 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 Zn} )&Xt 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 :hr@>Y~r 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 1!C,pXU#: #&:nkzd % b&BLXW 航空國防產業: s*X\%!l9 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 [O)Zof 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 *Fc&DQT( 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 ppD~xg] mT>p:G .#eXNyCe 消費性電子產業: ]VH@\
f 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 mpivg 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 Jqj6L993e 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 Tz-cN 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 prs<ZxbQb |G@)B!> >y~_Hh(TSL /
IS WC Ny'v/+nQ -------------------------------------------------------------------------------- ~.lH) TracePro模組介紹: JT9<kB/07 LC: [Z+,)-ke 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 79x9<,a) 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 'nS 3o. } )l}wjKfgO Standard: u_"h/)C'H 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 =4
H K 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 QX=;,tr 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 )It4al^\ 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 t>sX.=\$ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 b
. j^US^ 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 oI~Qo*4eh =k7\g / +"cyOC Expert: FxX3Pq8h 1. 擁有所有Standard的功能。 }gi'%e 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 7uxPkZbb 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 IyN9
+ 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 sr+mY; tQaCNS$= {:X];A$ TracePro Bridge for SolidWorks: L,pSdeq 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 )YtL=w?L' jFTV\|C 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro O mIB k f4T0Y["QA 重要特色介紹: WGluY>C; 9prsL#Fn O9X:1>a@i Q_.c~I}yV }t3FAy(% G)Bq?=P
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-Q* u=}bq{ PZ(<eJ> xM//] x<\D@X^ @H%=%ZwpO TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 sVdK^|j Cj 2Xl TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 kz;_f akW3\(W} )c >B23D TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 q+n1~AT '(X[
w=WXy ou^nzm 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 q VdC ?A| YQ@6innT Rw\C0' niHL/\7u -------------------------------------------------------------------------------- B4:l*P' 7(~H77 TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: e_c;D2'F 4<Sa,~4 0yC`9g)( 顯示器產業: )|x%o(n 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 1H4Zgh
U 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 C{hcK 1-K 3. 可進行增亮膜的光場分析。 sK%Hx` 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 [x<6v}fRn 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 AMD?LjY~ r%,H*DOu i`KZ, LED光源照明產業: >6I.%!jU 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 #>:(#^Uu 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 [)SR$/A 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 ,#bb8+z&p 4. 可模擬LED的照明系統。 YZH#5]o8 #jLaIXms 傳統光源照明產業: M=AvD(+ha 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 6Z7pztk 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 /"Yx@n 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 F%#*U82 xe6_RO% <P^hYj-swh 汽車產業: j:e^7|. 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 R@<_Hb;Aeb 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 q^N0abzgP 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 -N7xO) Q-`{PJ(p f>8B'%] 成像系統: ]`@]<6 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 '>e79f-O) 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 ^V: "zzn& 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 {b,2;w}95 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 q qe2,X? v:"m -jVaS wt 生醫產業: :6W^ S/pf 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 XD^dlL 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 g8,?S6\nMz 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 _3.G\/>[K 6)wy^a|pb Vm~qk 航空國防產業: w#xeua|*I# 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 ;vJ\]T ml 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 Eq=wdI 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 {Vxc6,= %GX uuE}mX Qsg/V] 消費性電子產業: JY2/YDJ 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 BIV<ti$. 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 D1X4|Q*SK 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 h`5YA89 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 [7gYd+s jC%35bi *K(k Kph pcy<2UV tlV &eN -------------------------------------------------------------------------------- Qz@IK:B} TracePro模組介紹: 2mqK3-c LC: ^kn^CI6 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 BTTLy^ 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 |(V?,^b^ro MzQ\rg_B7 Standard: 22`oFXb' 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 oZvA~]x9\ 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 !K3})& w 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 , 3X: ) 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 M18qa,fK{ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 ryxYcEM0 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 p$Kj<:qiP MA\m[h] L[?nST18% Expert: Wy<[(Pd 1. 擁有所有Standard的功能。 B< |VeU 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 e>l,(ql 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 t;8\fIW5 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 x\hWyY6J[ AGOx@;w X^}A*4j TracePro Bridge for SolidWorks: q!6|lZ B3 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 -2F@~m| qib7Z]j 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro 9!9>
?Z Q}kfM^i 重要特色介紹: "8 N"Udu ]3*P:$Rq `SV"ElRV QR<`pmB~y 1O
|V=K .K IVf8)" LA-_3UJx qM%O o+nG3kRD k$h [8l(< 1Cm~X$S. ^q
;Cx7T_p #(C/Cx54 pb#mg^8 mjb{~ 9UwLF`XM TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 W9Nmx3ve }g`Gh|C TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 >1 @Ltvm mN;+TN'?{ x?"#gK`3; TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 #EbGL])F} mwh{ "FL( =SAV| 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 B'-I{~'/ "O*x' XhN #'@ilk/. ?aBj# -------------------------------------------------------------------------------- P;vxT}1 V8hO8 TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: !}y1CA |uI?ySF u$%A#L[ 顯示器產業: fc@'9-pt 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 o#>a 5 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 A>= E { 3. 可進行增亮膜的光場分析。 zB*euHIqZ 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 2j&v;dmh< 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 vJ"i.:Gf4 .2.qR,"j BkawL, LED光源照明產業: 1<.5ub*i4 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。
?CP2AK 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 w{!(r 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 ESTM$k}X
4. 可模擬LED的照明系統。 h[kU<mU"T m:uPEpcU 傳統光源照明產業: [dB$U}SEj 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 xzsdG?P 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 .oqIZ\iik 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 \'Ssn(s n[,XU|2 1!1!PA9u 汽車產業: Fv8f+)k)Z~ 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 #(KDjnP[ 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 k?*KnfVh! 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 w##^}nHOR R_ ZK 0ar u.,Q4u|! 成像系統: thc <xxRP 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 -fy9< 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 <YB9Ac~}z 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 IXpc,l ` 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 _{4^|{>Pv Io n~ +l E90y 生醫產業: 29&bbfU 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 [1_A8s){u 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 7B7&9<gc 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 MHU74//fe E{?au]y$J a0=WfeT 航空國防產業: OhVs#^ 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 =>iA gp'# 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 v+G=E2Lhv 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 ) ;FS7R
o`n$b(VZ t)f-mQz) 消費性電子產業: 15U (={ 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 -0Cnp/Yj@ 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 )G~w[~ 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 oD9^ID+ 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 [ sF(#Y:I 'Gl&Pa1g? eJ0?=u!x rx0~`cVV: ? *>]")[> -------------------------------------------------------------------------------- l12{fpm TracePro模組介紹: W,XTF LC: Fv74bC% 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 wE]K~y!` 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 *`_{ Hnk:K9u.B: Standard: m3bCZ9iE 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 #bH_Dg5I 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 .8(OT./ 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 -I.d}[ 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 w[tmCn+ 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 R:X0'zeRr 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 2*w0t:Yxe J(DN! YNwp/Y Expert: eI45PMP 1. 擁有所有Standard的功能。 [NMVoBvG 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 Ae]sGU|?' 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 L){iA-k;Ec 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 }}v9
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]^'@[< TracePro Bridge for SolidWorks: |a1{ve[ 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。
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