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2009-07-24 13:55 |
世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro =1j`VJU9 oX-h7;SD 重要特色介紹: PLWx'N-kqL 1c $iW>0K <gSZ<T gk"J+uM BeM|1pe. oSoU9_W +'D
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av!~B, #]Q.B\\ "cX*GTNi8 nB ,&m& y &%2 gx6$:j; TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 iLkP@OYgQ 2ZFp(e^% TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 qgsKbsl 2a:JtJLl .Ue1}'v*, TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 ,xIWyI. 31}kNc}n #)$@Kvm 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 TWJ%? /d Yc1ve :S{+|4pH XDq*nA8#5B -------------------------------------------------------------------------------- W RVm^ [
f`V_1d3 TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: T=->~@5 SgPvQ'\ ~@bh[o~rF 顯示器產業: "# BI" 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 /CN`U7:E 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 D.R 7#^. 3. 可進行增亮膜的光場分析。
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\rI 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 AIFI@#3 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 ?)B\0` %*' u@-x3%W uVw|fT LED光源照明產業: m339Y2%= 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 cp>1b8l6? 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 J.QFrIB{]+ 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 2hI|]p 4. 可模擬LED的照明系統。 Qtpw0t" (-U6woB6o 傳統光源照明產業: P>3
;M'KsO 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 qA6;Q$ 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 pT` oC& 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 [<M~6] wR= WS', 8/dx)*JCq 汽車產業: WD7IF+v 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 I
;Sm<P7* 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 gK8{ =A0c 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 -r5JP[0kP U6@Hgi> 3B5GsI 成像系統: /!mF,oR! 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 VgO:`bDF 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 TZk.?@s5 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 C.[abpc 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 D-tm'APq s8/y|HN^ 3b2[i,m<L 生醫產業: IE|$mUabm 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 RHc-kggk! 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 ZYy?JDAO 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 xQ=sZv^M LzW8)<N S_VZ^1X] 航空國防產業: 1]i{b/ 4 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 V_T.#"C4=z 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 *|T]('xwC 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 R"9^FQ13 Is $I;` ;ctJ9"_g 消費性電子產業: YnzhvE 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 Oist>A$Z 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 5mxYzu;#] 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 4iD-jM_D 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 M6 W{mek ;p!|E3o. k e
sg ]K bZE;}d 4Y)rgLFj -------------------------------------------------------------------------------- [!ghI%VK TracePro模組介紹: Be=J*D!E=> LC: [zO:[i 7 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 Stkyz:,( 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 McRAy%{z =o@CCUKpj Standard: jo8hVWJ7V* 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 6fozc2h@x% 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 K/,y"DUN& 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 rff=ud>Jf 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 h~]G6>D9)> 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 D`?=]Ysz( 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 \DG
6 F%t_9S,)O &Hb;; Ic( Expert: WUwH W 1. 擁有所有Standard的功能。 Uq:WW1=kh 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 5/vfmDt3'G 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 vdn`PS'# 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 J4yL"iMt vr,8i7*0 TSGJ2u5ie% TracePro Bridge for SolidWorks: h%9>js^~ 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 TY(B]Q_o )U?Tmh 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro u3"0K['3 iYqZBLf{S 重要特色介紹: gn2*'_V~3 eI+<^p_j2 s$cr|p;7# F;4*,Ap NUlp4i~Q *>lh2sslL ZA u=m i`m&X6)\j |[)k5nUQ| WR&>AOWAD FeW}tKH y$
L@!r/s m#}41< 9g7d:zG <G9HVMiP |K|[>[?Z/ TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 ',7LVT7 hA6
TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 ?IKSSe#, BBV"nm_(/ }V:B,: TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 mH1T|UI Frn<~ iyA=d{S;V 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 *oby(D"p [>2iz /|<Pn!}J k? <.yr1 -------------------------------------------------------------------------------- wMW."gM| #x?Ku\ts TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: 3V(]*\L jmp0 %:+L CPW^pGT+i 顯示器產業: 3WVH8S b 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 *1H8
& 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 9QQiIi$74U 3. 可進行增亮膜的光場分析。 S/itK3 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 $ Jz(Lb{ 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 B\73Vf =JkPE2mU ]9
JLu8GO LED光源照明產業: uPT2ga ] 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 _Gu;= H,~& 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 L@5j? N?F 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 AV>_bw. 4. 可模擬LED的照明系統。 "t.Jv%0= kF;N}O2?{ 傳統光源照明產業: oimM)Yo 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 3 T1,:r 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 R_4eME2LB 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 d-sT+4o} W? F Q V&h{a8xa$ 汽車產業: #n7F7X 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 qkM)zOZ^ 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 }@y(-7t 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 kl~)<,/@ Ka_g3 f:K>o. 成像系統: e7Sp?>-d 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 o"V+W 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 )ZW[$:wA 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 /fSsh;F 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 )n&6= Li ]vflx^<? AI^!?nJ%' 生醫產業: 9+iz+ 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 M
ZAz= )- 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 -d. i4X3j 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 T,oZaJ< dC<2%y )H>?K0I 航空國防產業: :I{9k~ 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 LPeVr^ 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 .6LlkM6[g 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 k%TBpG:T 3xz|d`A 7 w<e^H? 消費性電子產業: >B<#,G 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 ]6
HR 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 3L CT-rp 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 8RI'Fk{ 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 0j!xv(1 _o T+x%i ?Dl; DE1 ' Tk4P{ %g~&$oZmq -------------------------------------------------------------------------------- vqAEF^HYry TracePro模組介紹: c{IL"B6> LC: I.'/!11> 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 AtUt E#K 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 6M
;lD5(> R,s}<N$ Standard: #~m8zG 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 +c8t~2tuN 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 x_x_TEyy h 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 4H^ACw 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 o`Af6C;Q 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 qg/FI#r 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 AmZW=n2^ lCgzQZ 01&@8z'E Expert: UpPl-jeT 1. 擁有所有Standard的功能。 jz~#K;3=, 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 2rW9ja 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 A0Q`Aqs 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 >& 4) :
LJ;&02w@ %JH/|mA&| TracePro Bridge for SolidWorks: @u`W(Ow 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 }.pqV
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:iLRCK3C +$#<gp" NMfHrYHbh TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 J<0d"' 0g6sGz= TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 XI|k,Ko< |5%T) 4F9!3[}qF TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 9-V'U\}L ,*dLE hJ]Oa7r 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 :<bhQY =.CiKV$E c-5AI{%bl6 z?Ok'LX -------------------------------------------------------------------------------- & !ds#- :*&c' TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: vK@UK"m {aq)Y>o5:T Xp9I3nd| 顯示器產業: +p63J 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 EPH
n"YK 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 _Y;tD 3. 可進行增亮膜的光場分析。 .D ^~!A 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 j'U1lEZm2 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 6pSTw\/6 Z'j[N4%BK Y%kOq`uT=n LED光源照明產業: \?R#ZxP@ 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 A.("jb@I 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 J9!/C#Fm 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 O1c:X7lHc 4. 可模擬LED的照明系統。 -z+,j(@ -e}(\ 傳統光源照明產業: h'};spv 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 HUD0
@HQI 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 aVHIU3 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 6 5dMv*{ gN/>y1{a >h\u[I$7 汽車產業: 1s@QsZ3 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 #"KC29!Yj 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 /q\e&&e 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 GW'v\O VqV [ @[P Nj3iZD| 成像系統: Pb>/b\&JS 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 ?R#$
c] 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 5]LWWjT 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 z,ERq,g+L 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 L55UeP\ ~qeFSU( P'OvwA 生醫產業: YIg43Av 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 0=3)`v{S@ 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 GW;%~qH[, 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 vio>P-2Eho U< Xdhgo? 5[SwF&zZ 航空國防產業: y`buY+5l 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 ]}N01yw|s 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 $U]T8;5Q 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 }q@#M8 b E3O^Tg?j )
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< v] 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 ]q%r2 (y,k 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 (4L/I 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 Y)X7*iTi'j 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 dz9U.:C 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 }<A.zwB<i 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 0Xh_.PF 1W{N6+u gfg,V.: Expert: B]"`}jn 1. 擁有所有Standard的功能。 o2ggHZe/=@ 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 2P"9m 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 tf~B,? 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 LOx+?4|y ~U&NY7.@ b]4dmc*N+ TracePro Bridge for SolidWorks: sh$-}1 ; 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。 pd'0| {'O><4 世界知名光學機構模擬分析軟體─TracePro ! dzgi: h$l/wn 重要特色介紹: /IUu-/ D qLDj\%~( 9Lb96K?=> 1XSnnkJm !,[#,oy; QF"7.~~2 sW]^YT>? w==BSH[ .*zS2z ,@ 8+%KqG l'+3
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Fr(g\"$ !wy _3a TracePro是一套功能強大、準確可靠、介面友善、易學易用的光線追跡模擬軟體,專門作為照明設計或是光學機構設計之用。TracePro可以進行光學成像分析、輻照度分析及人眼視覺成像分析等,幾乎涵蓋所有光線追跡上的問題。 m+Ye`] "<ZV'z TracePro擁有完整成熟的視窗介面,其直覺友善的設計架構,可以非常快速地讓使用者熟悉軟體的操作。TracePro使用ASIC實體繪圖引擎作為其CAD的運算核心,能輕易地新建或匯入光學模擬所需的固體模型。目前主流的CAD軟體均有支援ACIS規格(SAT檔),故其幾何轉檔上的相容性極高。另外,TracePro亦可支援IGES、STEP及STL的幾何檔案格式。亦可匯入鏡頭設計檔案(如OSLO、Code V、ZEMAX、ACCOS V及Sigma)做後續光線追跡之用。TracePro獨家研發的RepTile功能,可方便地建構重複性的光學零組件,特別像是LCD的背光模組導光板上的網點結構設計,可以大幅減低建模時間,加速產品的開發生產時程。 )5Khl"6!z c|Ivet>3 uYUFxm TracePro的光線追跡的運算核心屬於非序列性描光(Non-Sequential Ray Tracing),除了可以自行建立光源與幾何物體的材料屬性外,亦可使用內建的光源及材料資料庫來執行光學材料的設定。TracePro可以同時或個別考慮反射、折射、吸收、雙向散射(BSDF)、體散射(bulk scatter)、漸變折射(gradient index)、光學薄膜(thin film stack)、螢光粉(Fluorescence)及偏光膜(polarization)等光學材料行為。搭配Monte Carlo的統計採樣計算方式,其光線追跡的結果十分可靠,能夠準確地預測光學行為。 ]nTeTW @YI{ E*?S p&<Ssc 在分析結果後處理的部分,TracePro提供了Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map與Incident Ray Tables等方式可以進行後處理的視覺化輸出,並可以匯出該結果作為儲存或資料交換之用,有助於企業累積其產品知識。 +vh|m5"7I7 u;`]U$Qq9 T+0=Ou"N ?,vLRq. -------------------------------------------------------------------------------- _gT65G~z ,"%C.9a TracePro是一套與機構設計軟體可以快速而輕易接軌的光學分析軟體,能顯著提升企業對產品開發創新的能力;而其準確可靠的分析能力,使其在全球與台灣的市場佔有率都非常的傑出,並為各項產業廣泛地使用,其實際相關的應用範疇包括: Ww]$zd-bo -N45ni87 ]at$ohS 顯示器產業: mk>; 3m* 1. 可進行背光模組內網點的輻照/光照分析。 AjVC{\Ik 2. 可模擬背光模組內偏振光的行為,可考慮膜層的入射角、波長與溫度等,來定義偏光性質。 B5lwQp] 3. 可進行增亮膜的光場分析。 pi"H?EHk 4. 可同時分析不同光波長的環境,得到CIE/色彩結果。 H%wB8Y
] 5. 可分析雙折射效應,包括分光到一般向量或特定向量。 /%T/@y 66v,/#K Nm*(?1 LED光源照明產業: uC'-: t# 1.可進行二次光學的設計驗證與分析模擬。 oB:7R^a 2. 可進行螢光粉激光效應的模擬。 s5VK 3. 可模擬LED多重光源的混光結果。 I\@r~]+y 4. 可模擬LED的照明系統。 0@ `]m Q"QRF5Ue 傳統光源照明產業: yZleots1 1. 超過200個以上的工業標準燈泡庫、包含Philips與Osram兩大品牌。 hY"eGaoF" 2. 可將實驗量測的光源,定義為檔案光源,或由Radiant imaging燈泡庫內輸入。 p*g Fr hm 3. 可分析傳統照明的場角分佈或輻照度分佈。 t;8)M$
p ? x%s
j _jQ:9,;
A 汽車產業:
R3>q ] 1. 可執行多重反射面分析,可用於車燈反射罩的設計。 +IdM|4$\1 2. 具有龐大的光源庫與燈泡庫,包含HID、LED、螢光燈與白熾燈等可供使用。 {?qfH>oFA 3. 車內抬頭顯示器(HUDs)的分析應用,如模擬鬼影和炫光。 EmNVQ1w iQG!-.aX V}E['fzBFV 成像系統: A2'i~_e 1. 使用非序列性描光方式精確計算透鏡系統的雜散光行為,並可模擬物件表面的入射、吸收與能量損失。 Ua1&eCZi 2. 可模擬多層鍍模的光學性質。 bxXpw& 3. 可匯入主流光學透鏡分析軟體(如OSLO、Code V等)的透鏡設定檔。 L!Jx`zM^ 4. 使用重點取樣(importance sampling)功能來過濾散射傳播路徑,來增加天文望遠鏡或飛彈系統中光線到達感光器的樣本數。 pzF_g-B Aiq Kf= (m/:B=K 生醫產業: ]iV]7g8: 1. 可定義相位函數,模擬光線在人體組織中的影響。 K;
#FU 2. 可使用人體組織資料庫,可方便地建立人體組織之模型。 ;z:Rj}l 3. 可分析體散射效應,並可使用體通量觀測器來監看能量於組織內的傳遞過程。 >.?yz o@Ye_aM~?Y j*%#~UFw 航空國防產業: zEQ]5>mG 1. 可監看分析中每一條光線的傳播路徑,及光學表面上的偏振狀態、光通量、入射位置、分量及光徑。 mF6-f#t>H+ 2. 可建立非等向性的表面材料參數,例如入射方向、散射方向、波長及溫度等參數。 i~!g9o( 3. 可模擬黑體或灰體的輻射光源。 +ai3 }QE.|.fA1 uLdHE5vr 消費性電子產業: (hc!!:N~q 1. TracePro接受SAT、STEP與IGES幾何檔案格式,可由主流CAD軟體匯入設計模型。 Jz8P':6[ 2. 設計初期便可藉由TracePro精確評估光學效果,避免或減少製作產品原型的成本支出。 ]3,'U(!+ 3. 完整的光頻分析功能,並可以用人眼主觀感受的方式描繪出光學分析結果。 7[Us.V@ 4. 完整的光源定義方式,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 "aGmv9\ 8lk/*/} =< rz|T2K `,O7S9]R+ pMU\f -------------------------------------------------------------------------------- _S_,rTf& TracePro模組介紹: uP9b^LEoN LC: KloX.y)q 1. 分析模型的數量有所限制,模型物件上限為35個,光源物件為10個。 rJ/HIda 2. 可以考慮反射與折射之光學特性。 igu1s}F ekx(i
QA Standard: eD*764tG 1. 可自由定義模型物件與光源物件的外型。 eF3NyL(A 2. 可以考慮反射、透射、漸變折射、雙向散射、體散射、光學薄模及偏振材料等光學特性。 5OdsT-y 3. 可完整定義光源特性,包含格點光源、表面光源、黑體輻射及檔案光源。 iwnGWGcuS 4. 可使用重點採樣(importance sampling)技術對隨機光線標定出有效的光線。 (?Ku-k 5. 使用Irradiance/Illuminance Map、Candela Plot、Polarization Map、Incident Ray Tables與Incident Ray Tables等方式進行後處理的視覺化輸出。 Lg\3DzM 6. 具有客制化能力,可利用scheme或VB語言來執行巨集指令(Macro)。 &v:zS$m> FBE|pG7 CI*JedO] Expert: ".jO2GO^ 1. 擁有所有Standard的功能。 u6C_*i{2 2. RepTile功能,應用於具有龐大數量的重複性微結構建模,非常適合應用於LCD背光版的模擬分析。 F=F84_+K 3. 可求算螢光粉的激光模擬。 Y%}&eN$r 4. 可考慮雙折射參數與非對稱的散射材料參數。 9Qyc!s` $_JfM^w W[jg+| TracePro Bridge for SolidWorks:
*twGIX 將TracePro嵌入SolidWorks的使用環境,建模及光學材質的操作與定義全在SolidWorks中完成。可更有效率的執行光學—機構設計流程。
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