新方法将光分析能力直接集成到成像硬件中
一款新型微芯片有望赋予相机和传感系统更清晰的视野,帮助它们探测到标准彩色成像系统无法看见的材料与环境中的细微差异。 W) 在浙江大学与皇家墨尔本理工大学(RMIT)合作开展的研究中,科学家们展示了一种将光分析能力直接集成到成像硬件中的新方法。 I1J)#p%H.
[attachment=135204] n=SzF(S[M Han Lin博士操作一套纳米制造系统 ].c@Gm_( 相机在捕捉图像方面非常高效,但机器视觉、自动检测和环境监测等应用依赖的是对不同颜色和光波长的理解,而不仅仅是物体的外观。这些信息可以揭示出人眼看上去完全相同的材料、表面状况或环境变化之间的差异。 <W9) Bq4 6 cr^<]v ! 到目前为止,提取这类细节通常需要单独的专用仪器。这项新研究指出了一种替代方案:光分析与成像同步进行,而非由外部实验室设备完成。 VG#$fRrZ n
K0hTQ 该成果发表在《自然·电子学》上,展示了这款紧凑型设备如何在不依赖笨重外部设备的情况下支持实际应用。 F_~6n]Sr
[attachment=135203] oYGUjI RMIT的研究者由杰出教授Baohua Jia领导,在纳米制造、光学表征和器件测试方面贡献了专业知识,与浙江大学Jianrong Qiu教授团队密切合作,评估了集成系统的性能。 Cg?I'1]o6 m>+A*M8 在RMIT,高度专业化的纳米加工实验室设备可以实时构建并成像比人类头发丝小约1000倍的结构。 Fj48quW1\P t-a`.y 这次合作将超快激光加工与应用光子学结合,把一种新的物理方法转化为可行的原型。Jianrong Qiu、Bo Zhang和Zhuo Wang是该论文的通讯作者,Han Lin博士为共同作者。 GHqBnE{B A< |