先进计算光刻
先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 cGwf!hA
[attachment=134179] O,.!2wVrN 目录 oW;6h. 序 ?J,AB #+ 前言 i7LJ&g/) 第1章 绪论1 &Sp -w?kM 1.1 光刻机和光刻成像1 /Ky__l!bu 1.1.1 光刻机简史1 /xJqJ_70X 1.1.2 光刻成像及其性能指标2 qSx(X!YS 1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 =\t /u 1.2 传统分辨率增强技术7 Xes|[ *Y!V 1.2.1 离轴照明7 C;~*pMAYe 1.2.2 相移掩模8 _P?\.W@ 1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 pA4*bO+ 1.2.4 偏振照明9 KTEZ4K^o= 1.3 计算光刻技术11 drq hQ 1.3.1 光刻成像模型11
>`jU`bR@ 1.3.2 先进计算光刻目标函数14 6>
{r6ixs1 1.3.3 先进计算光刻算法16 bqx0d=Z~[ 参考文献18 /hv#CB>1x 第2章 矢量计算光刻技术24 smQVWs> 2.1 矢量光刻成像理论基础24 n+1y 2.1.1 二维矢量成像模型24 <ale$[ 2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 M*pRv 2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 P6U%=xaC 2.2 零误差矢量计算光刻技术47 4O{Avt7C 2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 k6\^p;!Y 2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 =sOo:s 参考文献88 9j|gdfb%ml 第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 q\9d6u=Gm 3.1 压缩感知计算光刻技术92 R
UTnc 3.1.1 压缩感知光源优化技术92 J0220 _ 3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 bZipm(e 3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 84&XW 3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 l*7?Y7FK 3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 `3iQZui 3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 $;D*
n'8Fx 参考文献133 ~S(^T9R 第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 [B6DC`M 4.1 误差对计算光刻的影响137 M1u{A^d.Z 4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 i</J @0}y 4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 +2T!z= 4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 w}<^l 4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 E20 :uZ7\ 4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 ^b53}f8H 4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 v:d9o.h 4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 m@oUvxcd 4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 ^,7=X8Su 4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184
^Omfe 4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 +Z+ExS<#z 参考文献212 O{n<WQd{CY 第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 NJ$e6$g) 5.1 多参数协同优化技术基础215 2a[9h# 5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 /PC` 0/b 5.1.2 多目标函数构建219 ex phe+b 5.1.3 多参数协同优化方法219 RG?MRxC 5.2 多参数协同优化技术及应用222 FDq{M?6i 5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 %N{sD[^ 5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 4 =Fg!Eu< 参考文献231 oEAfowXSqk
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