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cyqdesign 2026-02-06 13:26

先进计算光刻

先进计算光刻技术是集成电制造装备和工艺的核心技术。本书主要介绍作者在20余年从事光刻机研发中,建立的先进计算光刻技术,包括矢量计算光刻、快速-全芯片计算光刻、高稳定-高保真计算光刻、光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻等,能够实现快速-高精度-全曝光视场-低误差敏感度的高性能计算光刻。矢量计算光刻包括零误差、全光路严格的矢量光刻成像模型及OPC和SMO技术。快速-全芯片计算光刻包括压缩感知、贝叶斯压缩感知、全芯片压缩感知计算光刻技术。高稳定-高保真计算光刻包括低误差敏感度的SMO技术、全视场多目标SMO技术、多目标标量和矢量光瞳优化技术。光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻包括含偏振像差、工件台振动误差、杂散光误差的光刻设备-掩模-工艺多参数协同优化技术。解决传统计算光刻在零误差假设、局域坐标系、理想远心、单个视场点获得的掩模-光源,无法最佳匹配实际光刻系统之所需,导致增加工艺迭代时间的问题。 yQ[u3tI  

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~A >o O-0K  
目录 r_2b tpL^  
XxOn3i  
前言 <t}?$1  
第1章 绪论1 qrDcL>Hrn  
1.1 光刻机和光刻成像1 V0NVGRQ  
1.1.1 光刻机简史1 _01Px a2.  
1.1.2 光刻成像及其性能指标2 =_QkH!vI  
1.1.3 影响光刻成像性能的主要因素3 ~@fR[sg<  
1.2 传统分辨率增强技术7 .#!mDlY;  
1.2.1 离轴照明7 =kFuJ x)f  
1.2.2 相移掩模8 CW0UMPE5  
1.2.3 基于规则的光学邻近效应校正9 MsjnRX:c3u  
1.2.4 偏振照明9 se,Z#H  
1.3 计算光刻技术11 ZvH{wt   
1.3.1 光刻成像模型11 wj%wp[KA$  
1.3.2 先进计算光刻目标函数14 kxo.v|)8  
1.3.3 先进计算光刻算法16 K^H>~`C=  
参考文献18 ,F: =(21  
第2章 矢量计算光刻技术24 V^En8  
2.1 矢量光刻成像理论基础24 ;BI)n]L  
2.1.1 二维矢量成像模型24 xNgt[fLpS  
2.1.2 三维严格矢量光刻成像模型31 }1>atgq]w  
2.1.3 二维-三维的矢量光刻成像分析38 3*WS"bt  
2.2 零误差矢量计算光刻技术47  :]c=pH  
2.2.1 采用矢量成像模型的OPC技术47 >&hX&,hG  
2.2.2 采用矢量成像模型的SMO技术68 ;$;rD0i|  
参考文献88 0&$xX!]  
第3章 快速-全芯片计算光刻技术92 K-4tdC3  
3.1 压缩感知计算光刻技术92 v@_in(dk  
3.1.1 压缩感知光源优化技术92 dS$ji#+d$  
3.1.2 非线性压缩感知光源-掩模优化技术104 ./.=Rw  
3.2 贝叶斯压缩感知计算光刻技术113 ZQ[~*)  
3.2.1 贝叶斯压缩感知光源优化技术113 p >aw  
3.2.2 非线性贝叶斯压缩感知光源-掩模优化技术122 Z#7U "G-A  
3.3 全芯片压缩感知计算光刻技术129 vlQ0gsXK  
参考文献133 }n95< {  
第4章 高稳定-高保真计算光刻技术137 p&5S|![\  
4.1 误差对计算光刻的影响137 k7Oy5$##  
4.1.1 波像差与偏振像差的定义与表征137 3bts7<K=  
4.1.2 波像差对计算光刻的影响138 %6]\^  
4.1.3 偏振像差对计算光刻的影响141 +/q0Y`v  
4.1.4 光源非均匀性与杂散光对计算光刻的影响142 -f.R#J$2  
4.2 高稳定-高保真光源-掩模优化技术145 &<h?''nCy  
4.2.1 低误差敏感度的光源-掩模优化技术145 k1iLnza%  
4.2.2 全视场多目标光源-掩模优化技术168 GCH[lb>IJv  
4.3 高稳定-高保真光瞳优化技术183 wOcg4HlW  
4.3.1 多目标标量光瞳优化技术184 ':sTd^V  
4.3.2 多目标矢量光瞳优化技术200 owM mCR  
参考文献212 hbnS~sva  
第5章 光源-掩模-工艺多参数协同计算光刻技术215 xBWx+My  
5.1 多参数协同优化技术基础215 s3< F  
5.1.1 工艺参数对图形保真的影响215 8.2`~'V  
5.1.2 多目标函数构建219 H),RA]S  
5.1.3 多参数协同优化方法219 ~ B]jV$=  
5.2 多参数协同优化技术及应用222 F[`vH  
5.2.1 零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用222 /e<5Np\X  
5.2.2 非零误差光刻系统的多参数协同优化技术及应用227 Ff)@L-Y\K  
参考文献231 G>0)I  

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