| speos |
2025-11-08 13:49 |
镀膜软件OptiLayer 15.88交流
1.OptiLayer 软件包括三个模块，它们共用一个数据 库，能够轻松的实现数据交换： mrIh0B:`
• OptiLayer：设计，评估，预生产误差分析， 生产过程监控及实现计算制造； NA3 \
• OptiChar：基于分光光度计及椭偏仪检测数 据，分析膜层光学特性； (+ uj1z ^
• OptiRE：基于检测数据，对已镀制膜层反演 分析计算。 ez]tAW
2.OptiLayer 采用了最新的软件设计理念，其独树一帜的核心算法具有极高的专业水准： b45|vX+j
• OptiLayer 可在计算机上流畅的运行； ,)PiP/3B
• OptiLayer 具有良好的用户界面，易于使用； )^||\G
• 程序安装简便，安装过程只需数分钟； <f CKUc
• OptiLayer 带有上下文关联的帮助系统以及高阶用户手册； y[B>~m8$
• 安装包含有一系列设计实例，它能够快速的让用户掌握 OptiLayer 的设计理念； ~ Tbj=f
• 安装包包含基底及膜层材料目录。 8UC xn f#
OptiLayer 计算制造选项能够评估预期的生产率，并且揭示了哪些膜层对成功的生产比较关键，需要严格控制。 toN^0F?Qm
在计算制造试验过程中，可以仿真那些由于沉积工艺造成的典型误差因素。这些因素包括： v>z tB,,9
• 不稳定的沉积速率， ^7z u< lX
• 在膜层沉积收尾阶段产生的随机和系统误差（闸门延迟） z#BR5jF
• 膜层在沉积仓内的折射率和理论值的偏差 s,#>m*Rh
• 与波长相关的折射率偏差 qW:HNEiir
• 沉积层的不均匀性 (=D&A<YX
• 在线测量的噪声影响 z'T) =ycT
• 监控信号的实时波动， .ERO|$ fv
• 监控设备的校准偏差。 .EM `.
需要可联系交流。 2'=T[<nNB
Y0?5w0{
][}0#'/mV
|
|