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从薄膜原理、设计到工艺(5.16~18日 上海)
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infotek
2025-05-07 15:03
从薄膜原理、设计到工艺(5.16~18日 上海)
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时间地点
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主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
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苏州黉论教育咨询有限公司
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授课时间:2025年5月16日(五)-18日(日)AM 9:00-PM 16:00
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授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
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课程讲师:讯技光电工程师团队成员
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课程费用:4800RMB(包含课程材料费、开票税金、午餐费)
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课程简介
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当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。
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透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。
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该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件Essential Macleod的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。
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课程大纲
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1. Essential Macleod软件介绍
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1.1 介绍软件
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1.2 运行程序
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1.3 创建一个简单的设计
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1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据
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1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义
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2. 光学薄膜理论基础
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2.1 介质和波
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2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算
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2.3 后表面对光学薄膜特性的影响
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3. 理论技术
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3.1 参考波长与g
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3.2 四分之一规则
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3.3 导纳与导纳图
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4. 光学薄膜设计
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4.1 光学薄膜设计的进展
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4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题
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4.3 光学薄膜设计技巧
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4.4 特殊光学薄膜的设计方法
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4.5 优化目标设置
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4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法)
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5. 常规光学薄膜系统设计与分析
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5.1 减反射薄膜
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5.2 分光膜
Sgy~Z^
5.3 高反射膜
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5.4 干涉截止滤光片
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5.5 窄带滤光片
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5.6 负滤光片
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5.7 非均匀膜与Rugate滤光片
NP/2gjp
5.8 Vstack薄膜设计示例
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5.9 Stack应用范例说明
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q+Q)IVaU81
6. VR、AR及HUD用光学薄膜
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6.1 背景介绍
T!E LH!
6.2 产品特性
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6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析
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6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析
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6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析
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s2kynQ#a
7. 防雾薄膜
?Fw/c0
7.1 自清洁效应
Hn.UJ4V
7.2 超亲水薄膜
34+}u,=
7.3 超疏水薄膜
KfS^sT
7.4 防雾薄膜的制备
tx-bzLo\
7.5 防雾薄膜的性能测试
+r"$?bw'
rKq]zHgpo
8. 材料管理
D.f=!rT7E7
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述
BW[K/l~"$:
8.2 金属与介质薄膜
~:Nyv+g,$
8.3 材料模型
e2F7G>q:5
8.4 介质薄膜光学常数的提取
djM=QafB:C
8.5 金属薄膜光学常数的提取
<Z[R08 k
8.6 基板光学常数的提取
W ,+91rup
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路
omu&:) g
BO|Jrr>
9. 薄膜制备技术
qa6up|xUnn
9.1 常见薄膜制备技术
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9.2 光学薄膜制备流程
5#PhaVc
9.3 淀积技术
;C%EF
9.4 工艺因素
yFqC-t-i
Ckp=d
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术
+f+yh0Dj
10.1 光学薄膜监控技术
FW,D\51pTP
10.2 误差分析与监控决策
bHM .&4G
10.3 Runsheet 与 Simulator应用技巧
cx) EFy.
10.4 膜系灵敏度分析
6h%(0=^
10.5 膜系容差分析
h'+ swPh
10.6 误差分析工具
Y'9deX+
11. 反演工程
@ So"(^
11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差)
d8I/7 ;F X
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索
w8Yff[o
' r/1+.
12. 应力、张力、温度和均匀性工具
D?R z|
12.1 光学性质的热致偏移
C/=ZNl9"fn
12.2 应力工具
0Og =H79<
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题)
^=j$~*(LmX
U$}]zaB
13. 光学薄膜特性测量
:C5N(x
13.1 薄膜光学常数的测量
vP!gLN]TV
13.2 薄膜堆积密度的测量
&XP 0
13.3 薄膜微观结构分析
hv6>3gbr
13.4 薄膜成分分析
5ZLH=8L
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量
B=7L+6
13.6 薄膜表面粗糙度的测量
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14. 项目管理与应用实例
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14.1 项目管理
[sBD|P;M
14.2 光学薄膜项目开发过程
\=JKeL|6[S
14.3 客户需求分析
3 0Z;}<)9
14.4 文档管理与报表生成
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eJ'ojc3
15. 其他控制透反射方法
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15.1 蛾眼抗反射结构
-oj@ c OZ
15.2 线栅偏振片
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16. Q&A
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