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从薄膜原理、设计到工艺(5.16~18日 上海)
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infotek
2025-05-07 15:03
从薄膜原理、设计到工艺(5.16~18日 上海)
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时间地点
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主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
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苏州黉论教育咨询有限公司
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授课时间:2025年5月16日(五)-18日(日)AM 9:00-PM 16:00
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授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
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课程讲师:讯技光电工程师团队成员
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课程费用:4800RMB(包含课程材料费、开票税金、午餐费)
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课程简介
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当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。
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透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。
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该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件Essential Macleod的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。
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课程大纲
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1. Essential Macleod软件介绍
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1.1 介绍软件
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1.2 运行程序
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1.3 创建一个简单的设计
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1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据
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1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义
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2. 光学薄膜理论基础
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2.1 介质和波
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2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算
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2.3 后表面对光学薄膜特性的影响
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3. 理论技术
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3.1 参考波长与g
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3.2 四分之一规则
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3.3 导纳与导纳图
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4. 光学薄膜设计
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4.1 光学薄膜设计的进展
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4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题
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4.3 光学薄膜设计技巧
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4.4 特殊光学薄膜的设计方法
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4.5 优化目标设置
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4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法)
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5. 常规光学薄膜系统设计与分析
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5.1 减反射薄膜
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5.2 分光膜
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5.3 高反射膜
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5.4 干涉截止滤光片
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5.5 窄带滤光片
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5.6 负滤光片
ut_pHj@
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片
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5.8 Vstack薄膜设计示例
\S ."?!U
5.9 Stack应用范例说明
\S4SI
D."=k{r.
6. VR、AR及HUD用光学薄膜
Q`ME@vz
6.1 背景介绍
P`(Mk6gE
6.2 产品特性
=lp1Z>
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析
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6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析
I4t*?
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析
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V5p0h~PK
7. 防雾薄膜
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7.1 自清洁效应
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7.2 超亲水薄膜
(=u'sn:s
7.3 超疏水薄膜
,SUT~oETP
7.4 防雾薄膜的制备
,<`)>2 'o
7.5 防雾薄膜的性能测试
QkQ!Ep(
~F!,PM/
8. 材料管理
e,0-)?5R
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述
ldqLM
8.2 金属与介质薄膜
CvDxq:x
8.3 材料模型
t;NV $!!
8.4 介质薄膜光学常数的提取
' cIEc1y
8.5 金属薄膜光学常数的提取
h8{(KRa 6
8.6 基板光学常数的提取
}m-"8\_D
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路
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ZDt?j
9. 薄膜制备技术
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9.1 常见薄膜制备技术
WsGths+[
9.2 光学薄膜制备流程
.; Q:p*
9.3 淀积技术
cU.9}-)
9.4 工艺因素
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sG7u}r
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术
A8r^)QJP{
10.1 光学薄膜监控技术
;i<jhNA
10.2 误差分析与监控决策
!l@zT}i??
10.3 Runsheet 与 Simulator应用技巧
==N{1gO]
10.4 膜系灵敏度分析
nz]&a1"&
10.5 膜系容差分析
ac{?+]8}
10.6 误差分析工具
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11. 反演工程
Yk!/ow@.
11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差)
3FE( }G
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索
hX:"QXx
pCi#9=?N
12. 应力、张力、温度和均匀性工具
~`ny@WD9
12.1 光学性质的热致偏移
WKfkKk;G
12.2 应力工具
64>krmVIe
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题)
<ABX0U[*
X{xBYZv4
13. 光学薄膜特性测量
w;6bD'.>;
13.1 薄膜光学常数的测量
KngTc(^_D
13.2 薄膜堆积密度的测量
=FP0\cQ.
13.3 薄膜微观结构分析
n2B){~vE
13.4 薄膜成分分析
hVUh0XeO
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量
^TY;Zp
13.6 薄膜表面粗糙度的测量
H,unpZ(
FzQTDu9
14. 项目管理与应用实例
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14.1 项目管理
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14.2 光学薄膜项目开发过程
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14.3 客户需求分析
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14.4 文档管理与报表生成
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@mP]*$00
15. 其他控制透反射方法
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15.1 蛾眼抗反射结构
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15.2 线栅偏振片
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16. Q&A
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