首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 元件内部场分析仪:FMM [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2025-04-07 08:08

元件内部场分析仪:FMM

摘要 <eB<^ &nd  
tHrK~|  
                              
WnD^F>  
ecr886  
Field Inside Component Analyzer: FMM使用户能够分析电磁场在微纳米结构内部的分布。为此,任意周期结构(包括透射和反射、介质或金属光栅)内的场通过应用傅里叶模态方法/严格耦合波分析法(FMM/RCWA)来计算。还可以指定场的哪一部分应该可视化:前向传播的场、后向传播的场或两者都要可视化。 XB0a dp  
u~s Sk  
寻找元件内部场分析仪:FMM $/u1chf  
`J72+RA  
                       
aSc{Ft/O  
kTnOmA w  
元件内部场分析仪:FMM是光栅光学设置的专用功能,可提供光栅结构内部电磁场的可视化。 N>+P WE$  
exfm q  
7OB%A&  
q5Fs)B  
评估模式 bf& }8I$  
!C Vuw  
                                                      
24#bMt#^  
|#{-.r6Y]  
为了更容易地区分入射场、反射场和透射场,可以只计算前向或后向传播模式,或两者的结合。 k@#5$Ejc2  
25UYOK}!  
*yJ[zXXjJ  
AgIazv1  
          前向传播模式                    后向传播模式             前向和后向传播模式 <lUOJV{&\  
4|`Yz%'  
评估区域                                                     >DHp*$y  
vu=me?m?(  
~A6"sb=  
X*i/A<Y`=  
光栅类型                                                                 4t04}vp  
8O>}k  
元件内部场分析仪可以对任意形状的光栅结构进行分析。这里有几个例子。 -;^;2#](g  
F8H'^3`b`U  
x<)G( Xe*  
!BDUv(  
光栅表面采样 wu A^'T  
F*M|<E=  
    
F!J J6d53y  
rz6uDJ"  
光栅表面采样                                                                   ] /+D^6  
[]|;qHhC~(  
对光栅结构进行充分的采样意味着采样效应不应明显地影响产生的场。例如,如果RCWA层分解太粗糙,则可能会由于剖面中的大采样间隔而产生额外的影响。 Y$g}XN*)E  
f|U0s  
查看本帖完整版本: [-- 元件内部场分析仪:FMM --] [-- top --]

Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计