首页
->
登录
->
注册
->
回复主题
->
发表主题
光行天下
->
讯技光电&黉论教育
->
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
[点此返回论坛查看本帖完整版本]
[打印本页]
infotek
2025-03-24 08:12
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要
fI.|QD*$b
[lmF2
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。
x6ghO-s
(qn=BPI
o|$D|E
d)%WaM%V
1. 案例
72HA.!ry
R >x d*A
U%3N=M
{kpad(E
在VirtualLab Fusion中构建系统
IQqUFP$8g
LI,wSTVjC
1. 系统构建模块
%9-^,og
R'BB-
Y@,iDQ
?Uql30A
2. 组件连接器
yC' y>f`H
)f?I{
F^,:p.ihm<
g*k)ws
几何光学仿真
&raqrY|V
'g#%>
以光线追迹
;zCUx*{
RpdUR*K9x
1. 结果:光线追迹
y r (g/0
k1&9 bgI
Nt>^2Mv
~IhAO}1
快速物理光学仿真
q,v<:sS9T
wt($trJ
以场追迹
GDu^P+^
7x)Pt@c
1. NA=1.4时的光栅成像
Okq,p=D6
)O'LE&kQ|
^PG"
"@ >6<(Ki
2. NA=0.75时的光栅成像
(/y8KG3
zt.kNb
fCt|8,-H
Ft5A(P >
3. NA=0.5时的光栅成像
+\!.X_Ij
b6k`R4S3
b.*LmSX#
查看本帖完整版本: [--
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
--] [--
top
--]
Copyright © 2005-2026
光行天下
蜀ICP备06003254号-1
网站统计