首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 马赫泽德干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2024-12-26 07:57

马赫泽德干涉仪

摘要 VC_F Cz  
]JvjM,  
 v-^<,|vm2f  
[6 "5  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 8e ?9:VM]  
 2^75|Q  
建模任务 ;CoD5F!  
|/c-~|%  
 S6C DK:  
m6H+4@Z-;(  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 ! ,{N>{I  
ux*G*QZ  
 k^cnNx  
6' \M:'<0e  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 K6)IBV;  
;% i-:<ac  
 ( Rp5g}b  
查看本帖完整版本: [-- 马赫泽德干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计