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光学相干断层扫描的上皮散射自发荧光强度校正——一个模型的研究
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infotek
2024-11-13 07:57
光学相干断层扫描的上皮散射自发荧光强度校正——一个模型的研究
本文以实验结合光学软件FRED来验证荧光介质上覆盖散射层的影响,结合AF-OCT系统能够减少由于上皮组织增厚引起的假阳性,增强AF疾病检测的功效。
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摘要
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