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2024-10-30 16:21 |
11月课程:杂散光分析与控制技术
时间地点 Alv"D 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek) m2%n: 苏州黉论教育咨询有限公司 1! j^ 授课时间:2024年11月27(三)-29日(五) 共3天 AM 9:00-PM 16:00 :IO"' b 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 },=ORIB B: 课程讲师:讯技光电高级工程师 ef@F!s_fI 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) )j QrD` ta@fNS4 课程简介 HXN. ,[ 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 [F!h&M0z
wE-y4V e 课程大纲 (&=3Y8 1. 杂散光介绍与术语 G%junS'zt
1.1 杂散光路径 bN&DotG 1.2 关键面和照明面 \=[38?QOY 1.3杂光内部和外部杂散光 %(S!/(LWW 2. 基本辐射度量学-辐射 cSBS38> 2.1 BSDF及其散射模型 cj4o[l 2.2 TIS总散射概念 (Z0.H3 2.3 PST(点源透射比) [s+FX5' K 3. 杂散光分析中的光线追迹 k$.l^H u 3.1 FRED软件光线追迹介绍 2q
UX"a4 3.2构建杂散光模型 L'$({ • 定义光学和机械几何 cJ>^@pd{ • 定义光学属性 jgqeDl\=+ 3.3 光线追迹 /g1;`F(MS/ • 使用光线追迹来量化收敛速度 cpPS8V • 重点采样 VVEJE$ • 反向光线追迹 5Z(q|nn7P • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 u= Ga} • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 a# Uk:O! • 使用GPU来进行追迹 _dc,}C • RAM内存使用设置 wH\
K'/ 4.散射模型 ?es9j] 4.1来自表面粗糙的散射 /GO((v+J • 低频、中频、高频 H?
%I((+ • RMS粗糙度与BSDF的关系 +jN)$Y3Ya • 由PSD推导BSDF +O1=Ao • 拟合BSDF测量数据 uG/b Cb+V 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 DG=_E\"# 4.3 来自颗粒污染的散射 <J]N E|: • 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) !-7<x"avm • 颗粒密度函数模型 .B!L+M< [ • 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 u$
vLwJ| o 4.4 来自黑处理表面的散射 BA9;=orx
lrgvY>E0 4.5 孔径衍射 }5d|y* • 杂散光程序中的孔径衍射 {;38& | |