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infotek 2024-10-30 16:21

11月课程:杂散光分析与控制技术

时间地点 nAaY5s0D  
主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek) TY;%nT  
苏州黉论教育咨询有限公司 H[2W(q6  
授课时间:2024年11月27(三)-29日(五) 共3天 AM 9:00-PM 16:00 i[/`9 AK  
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 }?^]-`b  
课程讲师:讯技光电高级工程师 <%?!3 n*  
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) Dgc}T8R  
)m_q2xV  
课程简介 10IX8 4  
杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 V `7(75  
bJoP@s  
课程大纲 weC.k x   
1. 杂散光介绍与术语 (lg~}Jwq  
1.1 杂散光路径 Pl\NzB,`  
1.2 关键面和照明面 }'`}| pM$  
1.3杂光内部和外部杂散光 ;a 6Z=LB  
2. 基本辐射度量学-辐射 Qz4Do6#y  
2.1 BSDF及其散射模型 7:e5l19 uI  
2.2 TIS总散射概念 nxMZd=Y  
2.3 PST(点源透射比) 4^T_" W}  
3. 杂散光分析中的光线追迹 . ZP$,  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 DT3"uJTt  
3.2构建杂散光模型 B$ jX%e{:S  
• 定义光学和机械几何 3b[.s9Q  
• 定义光学属性 X`28?  
3.3 光线追迹 mO2u9?N  
• 使用光线追迹来量化收敛速度 <w3_EO  
• 重点采样 M>d^.n  
• 反向光线追迹 _B0C]u3D  
• 控制光线Ancestry以增加收敛速度 x Nb7VUV7  
• 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 bbT1p :RF  
• 使用GPU来进行追迹 ny:/a  
• RAM内存使用设置 U".5x~UC  
4.散射模型 VS3lz?o?6g  
4.1来自表面粗糙的散射 OlP1Zd/l  
• 低频、中频、高频 F^.~37= @  
• RMS粗糙度与BSDF的关系 RFPcH8-u7  
• 由PSD推导BSDF Qs ysy  
• 拟合BSDF测量数据 _Kbj?j  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 Tvt(nWn(H1  
4.3 来自颗粒污染的散射 k}C4:?AT  
• 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) TE: |w Xe  
• 颗粒密度函数模型 6)c-s|#  
• 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 Rn)fwGC  
4.4 来自黑处理表面的散射 s|I$c;>  
4~1lP&  
4.5 孔径衍射 !v8](UI8-  
• 杂散光程序中的孔径衍射 />wE[`  
• 衍射元件的衍射特性 q07H{{h/B  
• 案例:衍射杂散光分析 =]S,p7*7  
5. 大气湍流散射 +8Y|kC{9"  
6 热辐射 Ehxu`>@N  
• 红外热辐射的杂散光分析 %aV~RB#  
• 冷反射仿真 P *&Cght>0  
7. 鬼像反射 r uIgoB  
• 鬼像反射 j2%fAs<  
• 表面镀膜 ICiGZ'k  
• 表面镀AR增透膜的仿真 .>Qa3,v5  
8. 光学设计中的杂散光控制 !hjF"Pa  
8.1使用视场光阑 I^HwXp([  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 qeb}~FL"o  
8.3使用眩光光阑(Lyot stop) vR&b2G7o  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 B<ue}t  
8.5 使用滤光 \ AIFIy  
9. 挡板和冷窗的设计 a?xZsR  
9.1主挡板和冷屏的设计 zp5ZZcj_  
9.2 挡光环的设计 U }AIOtUw  
• 槽型挡光环 zI\+]U'  
• 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 |*DkriYY  
• 案例:望眼镜系统的挡板的优化 |AT`(71  
10. BSDF散射测量
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
m>RtKCtP  
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