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infotek 2024-10-28 07:50

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

光学测量＞显微 E>g'!  
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任务/系统视图 `\Npu  
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@P.l8|w  
亮点 GS{9MGl  
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cn\_;TYiJ  
 Zwt!nh   
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 df:,5@CJ8  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 m|7g{vHVV  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 WWO jyj  
+.R-a+y3  
说明：光源 Ka{IueSs  
uVO9r-O8p  
N4Lk3]  
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SA&wW\Ym]  
\D[BRE+  
说明：透镜系统 S77Gc:[;8  
;I7Z*'5!  
4Ek< 5s[  
说明：样品结构 _ xC~44  
{0LdLRNZ  
,\m c.80  
fBF}-{VX(  
说明：探测器 {e@1,19  
ZV U9t  
<h}?0NA4  
2 g8PU$T  
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`Q8 D[  
结果：3D光线追迹 "L)pH@)  
TXaXJIp  
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y,x~S\>+  
w#1dO~  
9C.cz\E  
结果：光线追迹 _SaK]7}m!  
S&Sf}uK  
M,@SUu v"  
/7#&qx8  
结果：光线追迹衍射级数 JU@$(  
xH0/R LK3J  
mOB\ `&h5  
R3PhKdQ"  
结果：场追迹采样平面 TGNeEYr  
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r&[~/m8zl  
结果：场追迹焦平面 a#IJ<^[8  
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结果：减小光栅周期 [jw o D  
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随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 r Lh h  
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