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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 `oH4"9&]k3  
('AAHq/  
任务/系统说明 *")*w> R  
)WInPW  
jU* D  
j9l32<h7]  
亮点 P+=m.  
1z-A3a/-  
maN2(1hz  
U^7bj  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; `*BV@  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ^;rjs|`K#  
841y"@*BY  
具体要求:光源 d4*SfzB  
W]bgWKd  
nO!&;E&  
O5Z9`_9<  
具体要求:用于准直的消色差透镜 >3@3~F%xAX  
MtaGv#mJ  
w;j<$<4=7  
<U1T_fiBoc  
4d cm)Xr  
Mgi~j.[  
GqR|hg  
'4<o&b^yQ  
具体要求:分束器 8Znr1=1   
&)gc{(4$  
h`dQ OH#  
`lWGwFgg(  
具体要求:参考光路反射镜  WZY+c  
p:5NMo  
_#NibW  
nq8XVT.m^\  
x,.=VB  
..X_nF  
具体要求:测试光路反射镜 =gD)j&~}_  
Q;w [o  
<kPNe>-f  
U|V,&RlbR  
具体要求:探测器 jH!;}q  
lnHY?y7{  
\)rMC]  
-grmmE]/  
结果:3D光线追迹 <%Nf"p{K  
_,)_(R ,h  
U4fv$gV  
dk nM|  
结果:场追迹 6j XDLI  
$rmxwxz&W:  
G)%V 3h  
kSzap+nB?  
结果:移动样品的场追迹结果 sTl^j gV7j  
I`X!M!dB)  
xb3G,F  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 v_EgY2l(  
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