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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 $ ;J:kd;<  
*v}3So  
任务/系统说明 4qYT  
z1AYXW6F  
u&E$(  
]ChGi[B~9  
亮点 (#)-IdXXO<  
|/YwMBi  
,f[`C-\Q%  
U!TSAg21P  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; f[XsnN2  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; c}-WK*v  
Xc}~_.]  
具体要求:光源 Dt ~3Qd0  
I{8sLzA03S  
pm4'2B|)g  
*"HA=-Z;  
具体要求:用于准直的消色差透镜 [_X.Equ  
([#4H3uO-  
g[%iVZ  
 {F'~1qf  
us,~<e0  
O:J;zv\  
GV"X) tGo  
e.>>al  
具体要求:分束器 + lNAog  
(p1}i::Y8  
Y+ Qm.  
d%(4s~y  
具体要求:参考光路反射镜 !iHJ!  
!uxma~ZH-  
jTh^#Q  
 aj|gt  
DxvD 1u   
oScKL#Hu  
具体要求:测试光路反射镜 3;F+.{Icc  
u 6"v}gN  
scZSnCrR  
 TNj WZ  
具体要求:探测器 4f-I,)qCBk  
ixjhZki<  
Mv1V Vk  
RHj<t");  
结果:3D光线追迹 ([Da*Tk*  
lDf:~  
pN-c9n4#j  
VUbg{Rb)  
结果:场追迹 [CAV"u)0  
xU(yc}vw,  
*D:"I!Ho  
Pf?zszvs  
结果:移动样品的场追迹结果 :L&d>Ii|'  
\*r]v;NcP  
QZO9CLX 8k  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 SJd,l,Gg)  
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