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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 OyIIJ!(  
,HK-mAH   
任务/系统说明 "6i3'jc`  
` c"  
sc y_  
: CP,DO  
亮点 -o@L"C>   
SL`nt  
3qy4nPg  
X?'pcYSL  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; jaQH1^~l/-  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; r"`7ezun:  
JD]uDuE  
具体要求:光源 gvFCsVv<{  
di37   
@jKB[S;JSn  
#cqI0ny?G  
具体要求:用于准直的消色差透镜 C40o_1g  
c-ql  
)Cd.1X8  
_[/#t|I}  
<4582x,G  
l\ Vr D2j8  
^p3W}D  
+tJ 7ZR%  
具体要求:分束器 ==EB\>g|  
sGc.;":  
]D,\(|  
LX#gc.c  
具体要求:参考光路反射镜 }ldpudU  
o_03Io ~Bf  
}l Gui>/D  
M[(pLYq:  
S:1g(f*85  
 BO.Db``  
具体要求:测试光路反射镜 0B: v0 R  
eg24.W9c  
WWATG=  
;RYIc0%  
具体要求:探测器 aa{+,(  
q}W})  
*q+X ?3  
c:""&>Z  
结果:3D光线追迹 gyuBmY  
d0;?GQYn:  
^!gq_x  
1x%B`d  
结果:场追迹 L$,yEMCe  
lSc=c-iOv  
kT:I.,N   
!;0K=~(Y^  
结果:移动样品的场追迹结果 x_r*<?OZ  
n]i#&[*A(  
D}Sww5ZmP  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 w^U{e xo  
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