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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 <WCTJ!Z  
T2p;#)dP  
任务/系统说明 H(,D5y`k1  
;[R#:Rk  
2B`#c}PP  
9Atnnx]n  
亮点 Y24H` s1u/  
d&ap u{  
QxS=W2iN  
71(C@/J  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; RhQ[hI  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; [zMnlO  
1Bhd-  
具体要求:光源 ,"U_oa3  
0oiz V;B5%  
2ms@CQy(00  
6<>T{2b:(p  
具体要求:用于准直的消色差透镜 6l,oL'$}P1  
##_Jz5P  
^oYudb^%  
&8R !`uh1  
.lE7v -e  
| g[iK1  
6Qh@lro;y  
rmh 1.W  
具体要求:分束器 G}8Zkz@+  
M*n@djL$\~  
4te QG  
 5i|DJ6  
具体要求:参考光路反射镜 |jT^[q(z  
'En|-M5  
&K@ RTgb  
3d81]!n  
D_2~ 6  
wu53e= /  
具体要求:测试光路反射镜 BfOQ/k))  
H68~5lJY^]  
.m/$ku{/J  
\!Cc[n(f#  
具体要求:探测器 s.qo/o\b  
glo Y@k~  
Oll,;{<O  
.XTR HL*:  
结果:3D光线追迹 9qcA+gz:|  
{$H-7-O$  
& c V$`L  
yMVlTO  
结果:场追迹 $vjl-1x&  
HmQ.'  
vv0+F6 @  
Y5,[udF:O  
结果:移动样品的场追迹结果 H.=S08c3kA  
jqv"8S5  
43m@4Yb  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 J,SP1-L  
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