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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 V_7xXuM/  
(gv ~Vq  
任务/系统说明 zuZlP  
QWGFXy,=1  
"ae55ft//  
/C}fE]n{X  
亮点 5Gsj;   
rJm%qSZz  
)Z 3fytY  
.el_pg  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; KhV; />(  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; oYN# T=Xi  
{N,w5!cP  
具体要求:光源  0-+`{j  
v)2@;Q  
7e"(]NC84  
9?W38EF  
具体要求:用于准直的消色差透镜 .*g;2.-qv&  
8)k.lPoo.  
ptuW}"F  
@*O(dw  
}a_: oR  
=kLg)a |  
p8^^Pva/  
~ +$l9~`{  
具体要求:分束器 U-s6h;^ O  
2h6F j&  
qQ6NxhQo  
)V}u1C-N  
具体要求:参考光路反射镜 vP'R7r2Yx  
q& Vt*  
4"j5@bppJ  
$P@P}%2  
d*,|?Ar*b  
8YN+ \  
具体要求:测试光路反射镜 +o/;bm*U<K  
q#Qr@Jf  
[* > @hx  
TCF[i E{  
具体要求:探测器 ]3QQ"HLcp  
O!]w J  
M=N`&m\  
>8tE`2[i*  
结果:3D光线追迹 Gz@%UIv  
%NS]z;G  
,?#-1uIGL>  
m9xu$z| e  
结果:场追迹 a3lo;Cfp  
|$b4 {  
4'rk3nT8  
$C)@GGY  
结果:移动样品的场追迹结果 y~S[0]y>  
b8v$*{  
IB*%PM TF  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 {2:H`|x  
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