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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 GDOaZi  
'3 |OgV  
任务/系统说明 [[TB.'k  
@dcW0WQ\  
6 *Q5.g  
1 w\Y ._jK  
亮点 B#q5Ut  
J'2R-CI,  
yP[GU| >(  
8f29Hj+  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 5%G++oLXf  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; {)F-US  
#=$4U!yL  
具体要求:光源 ?k"KZxpT  
<5L!.Ci  
`cZG&R  
,PIdPaV--  
具体要求:用于准直的消色差透镜 So!1l7b  
$SXF>n{}  
7<NX;Fx  
 W#??fae  
OFUN hbg  
EBebyQcon  
m]u#Dm7h  
OU{PVF={   
具体要求:分束器 SX F F  
=`/X Wem  
W<9G wMU  
@MN>ye'T  
具体要求:参考光路反射镜 qi/%&)GZ  
B8IfE`  
iP_rEi*-J  
i[YYR,X|  
Um9=<*p  
bz>#}P=58G  
具体要求:测试光路反射镜 m\~[^H~g  
-D V;{8U4  
ME |"pJ  
+bQn2PG=  
具体要求:探测器 a~{St v  
_VMJq9.  
#Io#OG<7b  
g.9MPN  
结果:3D光线追迹 LpF6e9V\Wp  
''WX  
Y#N'bvE|%  
[S9nF  
结果:场追迹 1yKf=LZ^  
yBr{nFOgdY  
YE-kdzff  
Dic(G[  
结果:移动样品的场追迹结果 o@>5[2b4  
eq/s8]uM  
h knobk  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 + 6}FUi!"e  
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