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infotek 2024-10-24 08:27

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 -$AjD?;   
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任务/系统说明 (xucZ  
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Z|]l"W*w  
[P.@1mV  
亮点 C*"Rd   
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 ~Y1"k]J  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 1j oc<EI  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 6&i[g  
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具体要求:光源 ph Wc 8[Q  
PFImqojHd  
({*.!ty  
1.hOE>A%  
具体要求:用于准直的消色差透镜 gg lNpzj  
P Xyyyir{  
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?3]h~( =  
PiIp<fJd$  
NTv#{7q  
-=-x>(pRW7  
n`FQgC  
具体要求:分束器 v&t`5-e-A  
, I[^3Fn  
[i,5>YIk  
;cS~d(%  
具体要求:参考光路反射镜 5*G8W\ $  
=2ATqb"$w  
NTpz)R  
>i><s>=I`  
w3>Y7vxiz`  
asm[-IB2u  
具体要求:测试光路反射镜 Sa?~t3*H  
7?kXgR[#d  
a}^!TC>%1i  
$5q{vy  
具体要求:探测器 Z'*G'/*  
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+1JZB* W  
z1}tC\9'%  
结果:3D光线追迹 SdEb[  
dK=D=5r,  
sT;=7 L<TA  
^)eessZ  
结果:场追迹 &?`d8\z  
3rXL0&3w%  
1xFhhncf  
iTKG,$G  
结果:移动样品的场追迹结果 yK @X^jf  
,M+h9_&0?  
ey9fbS ^I  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 KweHY,  
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