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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 cd\0  
g,\<fY+ 4  
任务/系统描述 wL~ dZ! ,J  
syMB~g  
 &ceZu=*  
CB|Z~_Bm  
亮点 )wmXicURC  
i: 1V\q%  
 L~~;i'J  
w J; y4  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 68d(6?OgW  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !YCYmxw#  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 i,,UD  
ZfS-W&6Z  
说明：光源 {um~]  
st~f}w@  
{~VgXkjsC  
5X'[{'i,  
说明：透镜系统 Jgb{Tl:r  
BJ1txdxvS  
#TRPq>XzD  
 ji:JLvf]%  
说明：样品结构 m;k' j@:  
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说明：探测器 7\<#z|  
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结果：3D光线追迹 .(ki(8Z N  
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g#W)EXUR  
结果：场追迹矩形光栅 ',v -&1R  
Kb#py6  
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结果：场追迹锯齿形光栅 ==~X8k|{E  
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