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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 49fq6ZhO  
OwIy(ukTI  
任务/系统描述 "s<l Lgi  
v ]U;5Uo  
 7<o;3gR7Kj  
;OJ0}\*iP8  
亮点 @CI6$  
]]o[fqD-Zn  
 VX[!Vh  
s'Q^1oQM2h  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 "I FGW4FnL  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 E(LE*J  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 {1DYXKe  
c+/C7C o  
说明：光源 y+afUJT  
}z-  
PSR `8z n  
+M&S  
说明：透镜系统 7O^ S.(  
T5_Cu9>ax  
iX6jvnJ:/  
 VDY1F_Fk  
说明：样品结构 \U>Kn_7m  
K)\gbQ|  
>! .9g  
#de^~  
说明：探测器 DJ0T5VE W3  
p=gUcO8  
4yv31QG$  
M?zAkHNS$  
结果：3D光线追迹 g"? D>}@=  
?+=|{{l  
 beZ| i 1:  
iRHQRdij  
结果：场追迹矩形光栅 @2*6+w_Ae  
}_;!E@  
fEv36xb2S  
 XO~^*[K  
结果：场追迹锯齿形光栅 *7ro [  
kk+8NwM1  
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