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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量>显微 ,R j{^-k  
pP&TFy#G+'  
任务/系统描述 5]WpH0kzO  
,qgph^C  
dpO ZqhRs.  
t` R#pQ  
亮点 G<C[A  
#:v e3gWl  
D]9I-|  
uvK1gJrA)  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 qbjLTE=  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 d#N<t`  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 %Ot22a  
s|U=_,.  
说明:光源 i/nA(%_  
6xs_@Vk|d  
`e t0i.  
lPh>8:qFM  
说明:透镜系统 i6)$pARp  
D>u1ngu  
C?e1 a9r  
l@FPTHq  
说明:样品结构 +$:bzo_u  
k0{5)Su"xr  
5-Vdq  
Y!LcS48X  
说明:探测器 -X~VXeg  
(~P b,Q  
/jQW4eW0  
(gQ^jmZPG  
结果:3D光线追迹 Kb~s'cTxIO  
@, D 3$P8}  
/s3AZ j9  
Iaf"j 2B  
结果:场追迹矩形光栅 2T &<jt  
gG0P &9xz  
k=j--`$8k  
~^QL"p:5|  
结果:场追迹锯齿形光栅 #pbPaRJL(  
, ;L  
dUOvv/,FZT  
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