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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 >~+qU&'2  
|f+`FOliP  
任务/系统描述 kg/<<RO  
bf4QW JZD  
 p)&Yr  
^uCZO  
亮点 a8w/#!^34  
1 r9.JS  
 7cMHzh k^  
nNc>nB1  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ",, W1]"%  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 q$iGeE#  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 yiO/0nMp  
v?O6|0#x  
说明：光源 59k[A~)~  
OyG#  
F-TDS<[S?  
pu OAt  
说明：透镜系统 ]@P!Q&V #  
bCfw,V{sce  
DnP "7}v  
 ^l8&y;-T  
说明：样品结构 n=iL6Yu(  
KAI/*G\z  
]8o[&50y  
*S= c0  
说明：探测器 {kOTQG?y  
E{8-VmY  
Oj]4jRew  
5fDp"-  
结果：3D光线追迹 |!6<L_31%  
g3*J3I-O  
 cOoF +hz0O  
Ox%.We 5  
结果：场追迹矩形光栅 +@mgb4_  
]!'}{[1}  
J#) %{k_  
 ~ !7!Y~(+  
结果：场追迹锯齿形光栅 D:=Q)Uh0I  
:pw6#yi8`  
T`W37fz0  
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