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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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infotek
2024-10-24 08:26
对高数值孔径显微镜下不同样品研究
光学测量>显微
,R j{^-k
pP&TFy#G+'
任务/系统描述
5]WpH0kzO
,qgph^C
dpO ZqhRs.
t` R#pQ
亮点
G<C[A
#:v e3gWl
D]9I-|
uvK1gJrA)
显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
qbjLTE=
对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
d#N<t`
在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
%Ot22a
s|U=_,.
说明:光源
i/nA(%_
6xs_@Vk|d
`e t0i.
lPh>8:qFM
说明:透镜系统
i6)$pARp
D>u1ngu
C?e1 a9r
l@FPTHq
说明:样品结构
+$:bzo_u
k0{5)Su"xr
5-Vdq
Y!LcS48X
说明:探测器
-X ~VXeg
(~Pb,Q
/jQW4eW0
(gQ^jmZPG
结果:3D光线追迹
Kb~s'cTxIO
@,D 3$P8}
/s3AZ j9
Iaf"j 2B
结果:场追迹矩形光栅
2T &<jt
gG0P &9xz
k=j--`$8k
~^QL"p:5|
结果:场追迹锯齿形光栅
#pbPaRJL(
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dUOvv/,FZT
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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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