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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 .J @mpJdY  
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任务/系统描述 zJ}abo6rVw  
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)mN/e+/Lu  
亮点 aiz ws[C  
eA]8M^  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 "eTALRL'o  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 Z~94<*LEp  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 +\ "NPK@3  
t D 8l0  
说明：光源 _\k?uUo&,^  
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s1[.L~;J  
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说明：透镜系统 <uFj5.  
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K5`*Y@  
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说明：样品结构 2o[ceEg  
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32aI0CT  
说明：探测器 _(:$ :*@  
Zz:%KUl3  
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]57Ef'N  
结果：3D光线追迹 cQd?,B3#F  
#M!{D  
 l+y;>21sTu  
[+A]E,pv]1  
结果：场追迹矩形光栅 uR2|>m  
(4q/LuP^d  
HWFTI /]  
 &CXk=Wj  
结果：场追迹锯齿形光栅 oVp/EQ  
XGe;v~L  
=Sr<d|\O  
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