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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 sV{,S>s   
, j2Udn}  
任务/系统描述 7u S~MW  
jrlVvzZ  
 rb2S7k0{  
9N%We|L,c  
亮点 D9 CaFu  
7$vYo _  
 Pw7]r<Q  
EyD=q! ZVZ  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ['X]R:3h  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 <EB+1GFuI  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 @uqd.Q  
I {S;L  
说明：光源 'RQ+g}|Ba!  
j^j1  
hYT0l$Ng  
fo*2:?K&  
说明：透镜系统 SO|NaqWa  
fNli  
'8RsN-w  
 UqFO|r"M  
说明：样品结构 h:b)Wr  
JgKO|VO  
|"X*@s\'  
U3ADsdn  
说明：探测器 lk^Ol&6  
b,l$1{  
ld|5TN1  
(Du@ S  
结果：3D光线追迹 ~drS} V  
n71r_S*  
 Xk~D$~4<  
M)J5;^["  
结果：场追迹矩形光栅 DbBcQ%  
iW]j9}t  
}W C[$Y_@  
 3 Gp$a;g  
结果：场追迹锯齿形光栅 fIx+IL s  
MnsJEvn/  
~RW+ GTe  
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