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infotek 2024-10-24 08:26

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 Ldhk^/+  
FaE#\Q  
任务/系统描述 M*|VLOo=v  
$dh4T";  
 )w2K&Zr0  
I+"?,Ej$K  
亮点 .^~l_ LkA  
%aH$Tb%`hc  
 g(1B W#$  
Va@6=U7c  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 mvq7G  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 4[#6<Ixf  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ;=-j;x  
 /MqXwUbO  
说明：光源 5rmlAq  
WVWS7N\  
q)V1{B@  
g 6VD_  
说明：透镜系统 w;c#drY7S  
l{6` k<J(  
'9 e\.  
 ,<$YVXe/  
说明：样品结构 wD6!#t k  
nx-1*  
w3<"g&n|  
Ln=>@  
说明：探测器 -jxWlO  
B)rr7B  
h41$|lonU%  
s~LZOPN  
结果：3D光线追迹 Y@]);MyL  
6Q2or n[  
 9p2>`L  
22GnbA7O  
结果：场追迹矩形光栅 #d Z/UM(u  
lI4J=8O0  
z1f^p7$M?  
 fW.GNX8  
结果：场追迹锯齿形光栅 7|QGY7Tf  
QB/7/PW{H\  
/&]-I$G@  
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