| infotek |
2024-09-19 07:57 |
马赫-曾德尔干涉仪
摘要 >A2&
Mjo
z^Oiwzo
干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓，缺陷，机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程，在非序列场追迹的帮助下，我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪，本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 b!7"drge:
J
)@x:,o
建模任务 J8/>b{Y
H~x0-q<8
s2w .V
O
元件倾斜引起的干涉条纹 zg8m (=k'
M } 38uxP
 EWH'x$ z_q
QI`Z[caF
|
|
