光谱仪 | RP 系列激光分析设计软件
一般来说,光谱仪是一种用于研究光、物质或物体的波长相关特性的仪器;它的用途相当广泛: <cepRjDn
· 光谱仪是一种可以在空间上分离光的光谱成分的仪器,单独分析光谱成分——例如使用照相底片或外部光电探测器。所使用的分光测色仪通常是衍射光栅或棱镜。 7 v`Y*D · 光谱仪通常还包含一些用于分析光强的光电探测器。包含大型探测器阵列的光谱仪可用于记录光源的光谱,而且无需在光栅方向扫描。当配备强度校准时,此类设备更具体地称为光谱辐射计。 )cOm\^,
· 其他光学光谱仪用于分析物质或物体的光谱特性,例如与波长相关的透射率或反射率。它们更具体地称为分光光度计,并在化学等领域得到应用。使用包含一些窄线宽 可调谐激光器的激光光谱仪可以获得特别高的光谱分辨率和高灵敏度。然而,这些通常只能覆盖相当有限的光谱区域。 :&TOQ<vM 还有光学和光子学领域之外的多种光谱仪,例如用于测量颗粒速度或颗粒尺寸分布的设备。然而,本文完全聚焦于对光进行光谱分析的光谱仪。当对物质或物体的分析感兴趣时,请参阅有关分光光度计的文章。 ]@WJ&e/'@ 使用光谱仪进行的测量通常会提供波长或频率函数作为光的光功率谱密度(PSD) 。并非所有光谱仪都提供经过校准的 PSD;通常,强度读数未经校准,而且对于波长来说可能与校准因子(响应度)有很大相关性。 0c:CA>F 还有光谱相位干涉测量方法,不仅可以测量功率谱密度,还可以测量光谱相位。 U 2\{(y 有些光谱仪也具有成像功能,称为成像光谱仪。请参阅有关高光谱成像和多光谱成像的文章。 bLNQ%=FjO 如果仅需要测量激光束的光谱线宽,而不需要测量详细的光谱形状,则可以使用其他方法,例如进行自外差线宽测量。通过这种方法,人们可以测量非常小的线宽,其远低于典型光谱仪的分辨率。 =|?w<qc y f+/Kj<
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光谱仪的类型 jRq>Sz{8 U'lrdc"Q 基于衍射光栅或棱镜的光谱仪 # <&=ZLN M}@^8 (dO4ww@O 大多数光谱仪都基于某种多色仪,即可以在空间上分离光的不同波长成分的装置。通常,他们利用一个或多个衍射光栅上的波长相关衍射或一个或多个棱镜上的波长相关折射。 C(?lp 通常,入射光束在入射到光栅或棱镜之前会被准直(使其平行)。在色散元件之后,不同的波长分量沿差别不大的方向传播。然后,光线可能会通过一些额外的光学器件,最后到达光电探测器。 b5H[~8mf 为了获得光谱仪(非扫描光谱仪),光电探测器可以是光电二极管阵列、CCD阵列或类似物,记录某个空间范围内的强度,该空间范围对应于某个光谱间隔。人们可以通过将不同波长映射到探测器像素来直接获得光谱。由于可以同时测量所有波长分量,因此数据采集相对较快。分辨率通常受到探测器像素密度的限制,或者可能受到光学设置的限制。通过使用插值来确定光谱峰值位置,它比根据像素间距有更好的精度。 /wvA]ooT 在扫描光谱仪中,检测器可以是单个光电二极管或光电倍增管,放置在狭窄的光学狭缝之后,以便一次只有一个狭窄的波长间隔可以到达检测器。然后,假设输入的PSD在该时间期间保持恒定,则可以移动光栅或棱镜的狭缝位置或角取向,使得可以扫描特定波长范围。然后该装置充当可调单色器。图1 显示了切尼尔—特纳光栅单色仪的常见设计。如果以高分辨率扫描宽光谱范围,并且如果检测器不能非常快,则全光谱的采集时间可能会很长,例如因为低光功率必须要求相当长的平均时间。如果光源的属性不稳定,长的采集时间不仅会带来不便,而且会成为一个麻烦的问题。 {d7KJmN [attachment=129584] 图1:扫描光谱仪中使用的切尼尔—特纳单色仪的设计,对于非扫描设备没有出口狭缝(或更宽的狭缝)。 XPX{c|]>. Ye(0'*-jyc 通过入口狭缝的光被曲面反射镜准直,在衍射光栅处经历与波长相关的偏转,然后再次被另一个曲面镜聚焦。对于衍射光栅的一个方向,只有窄波长带内的光可以通过出口狭缝。(所示光线适用于该间隔内的波长)整个装置放置在一个盒子中,其中包含孔径和黑色外壳,以最大限度地减少杂散光的影响。 ]>`Q"g~0 还有改进的设计,例如交叉切尼尔—特纳光谱仪,允许比展开版本更紧凑的设计。另一个版本基于凹面全息光栅,不涉及额外的曲面反射镜。 P^1rNB 有些光栅光谱仪非常紧凑,宽度只有几厘米。然而,最高的性能(特别是在分辨率和灵敏度方面)是通过更大的仪器获得的。这种光谱仪达到的典型波长分辨率约为 0.01 nm 至 0.1 nm。 gk]r:p< |