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infotek 2024-07-18 08:15

通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究

摘要 ~*3Si(4l/  
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通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。 IR3SP[K"  
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 从Zemax OpticStudio®导入透镜系统 \kKd:C{  
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