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infotek 2024-04-11 07:55

分析高数值孔径物镜的聚焦特性

摘要 K a jyQ"j  
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高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 _JXE/  
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[attachment=127807] _Fjv.VQ,  
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建模任务 ^m9cEl^:nQ  
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[attachment=127808] D%btlw ?{  
概述 \k8_ZJw  
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•案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 HmKE>C/  
•接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 xg&vZzcl  
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[attachment=127809] y.2 SHn0  
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光线追迹仿真 d+;~x*  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 AnQRSB (  
•单击go! FS0SGBo  
•获得了3D光线追迹结果。 'UKB pm/  
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[attachment=127810] t/ w>t! q  
(A_9;uL^_  
光线追迹仿真 ^q$sCt}  
>?tpGEZ\  
•然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 ijfT!W  
•单击go! #kA+Yqy \)  
•结果得到点图(二维光线追迹结果)。 t1S\M%?  
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[attachment=127811] BN0))p  
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场追迹仿真 \uH;ng|m  
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•切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 $oz ZFvJF  
•单击go! x.I-z@\E  
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[attachment=127812] }N NyUwFa  
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场追迹仿真(相机探测器) fsu'W]f  
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•上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 Fa8>+  
•下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 OLq/OO,w  
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[attachment=127813] e5dwq  
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场追迹仿真(电磁场探测器) }0 Z3Lrv  
•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 rz(DZV  
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[attachment=127814] #*fB~Os:  
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场追迹仿真(电磁场探测器) pLRHwL.  
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•使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 Z(#a-_ g  
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[attachment=127815]
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