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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 =NLsT.aa $51M'Qu 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 e f8_w6i m}&cX Y [attachment=127754] dCv@l7hE C4wJSQl_I 建模任务 |^9+c2 l?Vm/YXb
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