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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 A#Ga!a )_Hv9!U]e 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 d@8:f Y[VXx8"p [attachment=127754] xe.f]a V2;Nv\J\ 建模任务 wmMn1q0F AU}|o0Ur
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