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2024-04-09 08:06 |
全场光学相干扫描干涉仪
摘要 >/6 _ ^ K)iF>y|{*q 扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 ;<4a*;IO &uVnZ@o42 [attachment=127754] M869MDo AbOf6%Env 建模任务 M
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kX −参数运行文档的使用[用例] NCD04U5y f?)-}\[IR{ [attachment=127758] J9 I:Q<; (w zQ2Dk VirtualLab Fusion技术 )YI(/*+] og>uj>H&
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