infotek |
2024-03-21 07:59 |
用阿贝判据研究显微系统的分辨率
摘要 +|r;t R}Uvi9? 显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 N+\#k*n? oh%T4$ [attachment=127210] !Qjpj KRy "v/^nH 1. 案例 +`u]LOAyP= ch1EF/" [attachment=127211] >pO[S[ RPPxiYU^ 在VirtualLab Fusion中构建系统 HcUivC TgJx% 1. 系统构建模块 $@Zb]gavt? `hM`bcS [attachment=127212] (<s7X$(]e l Vo](#W 2. 组件连接器 1Ls@| k7>* fQ89@ [attachment=127213] idvEE6I@ ].pz 几何光学仿真 )"|'= x`{ni6} 以光线追迹 K:z|1V !w]!\H 1. 结果:光线追迹 WTA0S}pT 91E!4t}I [attachment=127214] D(Zux8l ?JzLn,& 快速物理光学仿真 ]2QZ47 )J<Li!3 以场追迹 ]x:>~0/L }C"EkT!F 1. NA=1.4时的光栅成像 ymY,*Rb 8^\DQ&D [attachment=127215] 5b0Ipg 0?BT* 2. NA=0.75时的光栅成像 %FT F K7M7T5< [attachment=127216] lEQ63)Z gdSv)( 3. NA=0.5时的光栅成像 |q^e&M< Bqv Oi~l [attachment=127217]
|
|