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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 +(/Z=4;,[ (la [attachment=121765] JA)gM j)]'kg 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 I;|Aiu* JRiuU:=J~` 建模任务 ,Utw!] KW;xlJz(j [attachment=121766] Lhc@*_2 u+R?N%
EKP 由于组件倾斜引起的干涉条纹 :^*V[77 RSi0IfG5 [attachment=121767] k}O|4*.BT R utW{wh 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 QP;b\11m 0F3>kp4u [attachment=121768]
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