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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 l%_K$$C K9Mz4K_ [attachment=121765] \h=*pAf hQj@D\} 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 vx($o9 0}e?hbF%U 建模任务 (o B4* zJy=1r [attachment=121766] 4xg)e`
*U E& 6I`8 由于组件倾斜引起的干涉条纹 [nig^8 ?lD)J?j [attachment=121767] 46NuT]6/4 [yN+(^i 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 \_,p@r]Q /J-'[Mc'D[ [attachment=121768]
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