| infotek |
2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 kz3?j< /"g[Ay [attachment=121765] f45;fT> lsN/$M|} 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Cw@k.{*7, kwDjK" 建模任务 {A!;W k,yc>3P;U [attachment=121766] 5 >0\e_V ]wJ}-#Kx 由于组件倾斜引起的干涉条纹 *tIdp`xT/T _wIBm2UO [attachment=121767] +6i7,U
)@sJTAK 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 [w+yQ7P ?*(r1grHl [attachment=121768]
|
|