首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 马赫泽德干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-10-30 08:17

马赫泽德干涉仪

摘要 No[9m_  
l qh:c  
[attachment=121765] )=#Js<&3:  
g@M5_I(W  
干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 eY?OUS  
E>*Wu<<  
建模任务 '~f*O0_  
HOH5_E>d  
[attachment=121766] k'&1,78[l  
=N\$$3m?  
由于组件倾斜引起的干涉条纹 <Z_\2 YW A  
9eP*N(m<  
[attachment=121767] nSQ]qH&4d  
62.Cq!~  
由于偏移倾斜引起的干涉条纹 lH/" 47  
JgP%4)]LV  
[attachment=121768]
查看本帖完整版本: [-- 马赫泽德干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计