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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 ze* =7 |'mwr! [attachment=121765] -Jqm0)2 Gn*cphb 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 m|K"I3W$ xBba&A]= 建模任务 L`sg60z Be~__pd [attachment=121766] jA<(#lm; A0mj!P 9 由于组件倾斜引起的干涉条纹 @9,=|kxK m+66x {M2c [attachment=121767] UZcsMMKH T@K=
*p 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 <x&0a$I 0tA~Y26 [attachment=121768]
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