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2023-10-30 08:17 |
马赫泽德干涉仪
摘要 No[9m_ lqh:c [attachment=121765] )=#Js<&3: g@M5_I(W 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 eY?OUS E>*Wu<< 建模任务 '~f*O0_ HOH5_E>d [attachment=121766] k'&1,78[l =N\$$3m?
由于组件倾斜引起的干涉条纹 <Z_\2
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