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2023-10-12 08:09 |
马赫-泽德干涉仪
摘要 R%b*EBZ +z:CZ(fb
干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 TsaW5ho<p a{]g+tGH [attachment=121104] `E} p77 ptV4s=G2 建模任务 N>d|A]zH &GdL 9!hH [attachment=121105] 1mJbQ#5 mb0n}I_AC 元件倾斜引起的干涉条纹 4? m/*VV JsmbW|t^ [attachment=121106] cT-K@dg 8W~lU~- 元件移动引起的干涉条纹 0LWdJ($? eM?rc55| [attachment=121107] '8)Wd"[ >j50
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Z,V −基本源模型[教程视频] `[WyHO|8
- 设置组件的位置和方向
- −LPD II:位置和方向[教程视频]
- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] [O=W>l r_Lu~y| [attachment=121109] ^DBD63N" 9c#lLKrzG VirtualLab Fusion技术 QTVa / ^w"' ' [attachment=121110]
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