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2023-10-12 08:09 |
马赫-泽德干涉仪
摘要 EA:_PBZ 00W_XhJ 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 %&O'>L ='/#G0W [attachment=121104] {=^<yK2q cJ,`71xop, 建模任务 2JHF*zvO- '~6l
6wi [attachment=121105] /{ 8 .Jcx$ Zg])uM]\2i 元件倾斜引起的干涉条纹 .}tpEvAw} wzI*QXV2s [attachment=121106] 9Xh<vh8& YBk* CW9 元件移动引起的干涉条纹 {6*UtG FZ%
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- 设置组件的位置和方向
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- 设置组件的非序列通道
− 非序列追迹的通道设置[用户案例] x A ZRl `MMZR=LA [attachment=121109] .V^h< d{ kL}*,8s{ VirtualLab Fusion技术 zL:k(7E k*T&>$k}^ [attachment=121110]
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