首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2023-08-24 08:17

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 WHjUR0NZ  
p;W.lcO`0  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 }; f#^gz'  
agjv{  
L ]w/P|  
+"8,Mh  
1. 案例 'g$(QvGF 9  
b|+wc6   
Sqo : -  
c05%iv  
在VirtualLab Fusion中构建系统 # m[|2R  
;_^fk&+  
1. 系统构建模块 | fSe>uVZ  
L2, 1Kt7  
3:8{"md@2  
;gs ^%z  
2. 组件连接器 r=6v`)Qr  
zxf"87se  
=k/IaFg 6w  
%K>.lh@  
几何光学仿真 g_G6~-.9I  
oiX+l5`pz  
以光线追迹 oI.G-ChP  
]|sAK%/  
1. 结果:光线追迹 NMww>80  
sgO'wXcoP  
uPRQU+  
jLpc Zb,  
快速物理光学仿真 $6CwkM:  
~t^eiyv  
以场追迹 qQ0cJIISb\  
L~I hsiB  
1. NA=1.4时的光栅成像 ed:@C?  
~_s{0g]B  
Tp0bS  
,}:G\u*Fu  
2.  NA=0.75时的光栅成像 ,:`ND28V7  
   hs?sGr  
2^)1N>"g  
6<$Odd  
3. NA=0.5时的光栅成像 E@P %v{)  
   59#lU~Kv  
'w14sr%  
查看本帖完整版本: [-- 用阿贝判据研究显微系统的分辨率 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计