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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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infotek
2023-03-16 09:10
用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
光学测量 > 干涉测量
Wf-i)oc4I
C6M|A3^T
任务/系统说明
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V~+Oil6sa
yS@c2I602
亮点
4~P{H/]
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Y]Vt&*{JV
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换;
X#Y0g`muW
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真;
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Cf91#%:cN
具体要求:光源
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+j1s*}8
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具体要求:用于准直的消色差透镜
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X#EMmB!
Y}&//S A
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n;@PaE^8=
具体要求:分束器
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8`v+yHjG
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具体要求:参考光路反射镜
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|L}zB,
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x_pS(O(C
具体要求:测试光路反射镜
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具体要求:探测器
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结果:3D光线追迹
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结果:场追迹
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结果:移动样品的场追迹结果
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K2$ fKju
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通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。
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用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪
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