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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 .JPN';  
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任务/系统说明 +b(};(wL  
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亮点 <{isWEW9]3  
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•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; UGSZg|&6#*  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; --WQr]U/  
wM+1/[7  
具体要求:光源 xU.1GI%UPu  
`}EnY@*h  
B&]`OO>O  
'XK 'T\m  
具体要求:用于准直的消色差透镜 ,U~A=bsa  
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p F{jIXu  
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具体要求:分束器 &t= :xVn-M  
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具体要求:参考光路反射镜 2:38CdkYp  
t7f(%/] H0  
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B!wN%> U  
#_DpiiS,.Q  
# EvRm  
具体要求:测试光路反射镜 =-r"@2HBq  
)]fsl_Yq  
p:~#(/GWf  
`=(<!nXJx  
具体要求:探测器 ~O}r<PQ  
`i`P}W!F  
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结果:3D光线追迹 Cff6EE  
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zqA>eDx  
Fl)nmwO c  
结果:场追迹 $n<1D -0!r  
bc(MN8b]j  
e)}E&D;${  
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结果:移动样品的场追迹结果 v.RA{a 9  
#ft9ms#N  
"mn?*  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 wqG#jC!5  
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