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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 <J o\RUx  
6!|/(~  
任务/系统说明 qF? n&>YG  
"BvAiT{u  
L"(k;Mfe  
Qw@_.I  
亮点 [vNaX%o  
IwZe2$f  
VX+:C(m~  
M/LC:,  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; '<!T'l:R:/  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; aBblP8)8;K  
n]< >$  
具体要求:光源 H3Zs m)+:  
H\^zp5/  
L Rn)  
6p)dO c3L  
具体要求:用于准直的消色差透镜 z:JQ3D7/we  
"74Rn"d5  
6^#@y|.  
RK\$>KFE  
nf,u'}psdJ  
?rSm6V  
T@?uA*J  
)ePQN~#K}  
具体要求:分束器 YacLYo#  
8;q2W F{AX  
Gi 7p`F.  
RKtU@MX49  
具体要求:参考光路反射镜 =*'K'e>P3  
'(-SuaH49  
v$]eCj'  
Jr.4Y>;}e3  
NzAMX+L  
<UE-9g5?G  
具体要求:测试光路反射镜 oRZ--1oR_  
;cfmMt!QWJ  
Re]7G.y  
svj0;x5  
具体要求:探测器 2)^gd  
.{ -C*  
=H)"t:xE  
T^1]|P  
结果:3D光线追迹 *L+)R*|:&  
Q3P*&6wA  
Z+M* z;  
tv\_& ({  
结果:场追迹 uNXKUJ V0  
G Z~W#*|V  
}N`m7PSf  
"inXHxqu/J  
结果:移动样品的场追迹结果 ^wTod\y  
HTw7l]]  
o3kVcX^  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 *-lw2M9V  
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