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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 Wf-i)oc4I  
C6M|A3^T  
任务/系统说明 ;R@zf1UYA  
aVNRhnM  
V~+Oil6sa  
yS@c2I602  
亮点 4~P{H/]  
i`z1if6O  
Y]Vt&*{JV  
]- ")r  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; X#Y0g`muW  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; /[q6"R!uMz  
Cf91#% :cN  
具体要求:光源 3 i Id>  
+j1s*}8  
eY-W5TgU  
~-.}]N+([  
具体要求:用于准直的消色差透镜 dPc*!xrq  
4`I2tr  
ylUxK{  
X#EMmB!  
Y}&//S A  
=kp #v  
yAy~|1}  
n;@PaE^8=  
具体要求:分束器 yH|[K=?S[  
8`v+yHjG  
E/v.+m  
JF!JY( U,  
具体要求:参考光路反射镜 :1^ R$0d  
0M7Or)qN  
Iojyku\W.  
|L}zB,  
v8Vw.Ce`f  
x_pS(O(C  
具体要求:测试光路反射镜 'W(+rTFf!  
z#ab V1 Xi  
9t:F![rg  
)r3}9J  
具体要求:探测器 4nK\gXz19  
[=7=zV;}4  
$N'AZY]4]  
8n+&tBq1  
结果:3D光线追迹  s6bILz-u  
7I;xRo|  
4y\qJw)~U  
'3TwrY?-  
结果:场追迹 /j/,@,lw7z  
JL[$B1  
%sxLxx_x!  
Dk8 O*B   
结果:移动样品的场追迹结果 d3-F?i 5d  
K2$ fKju  
nGQc;p5;  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 %IrR+f+H  
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