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infotek 2023-03-16 09:10

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

光学测量 > 干涉测量 2|7:`e~h  
i\lvxbp  
任务/系统说明 Mq~E'g4#  
qt.4dTd:_  
4x ?NCD=k  
AyQ5jkIE^{  
亮点 X.{xH D&_  
W?SAa7+  
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{ 1~]}K2  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; {;Hg1=cm  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; G\tN(%.f  
a;dWM(;Kw  
具体要求:光源 wmV=GV8 d  
kYCm5g3u  
P'iX?+*  
Q}Ah{H0C  
具体要求:用于准直的消色差透镜 M#Z^8(  
j)G%I y[`  
;Mq'+4$  
\4qF3#  
NI"Zocp  
gna!Q  
#&uajo  
w*"Ii%iA<  
具体要求:分束器 oeKl\cgFx  
IZdWEbN1  
aNM*=y`  
\RDqW+,  
具体要求:参考光路反射镜 t,TlW^-  
rhzI*nwOT  
ug{sQyLN  
KUPQ6v }  
A' ![*O  
mx1Bk9h%Xe  
具体要求:测试光路反射镜 uFmpc7  
iuqJPW^}  
m.6uLaD"!}  
^x*J4jl  
具体要求:探测器 ^{J^oZ'%~  
E\Wd*,/v)  
vR#MUKfh  
#2\M(5d  
结果:3D光线追迹 `r&Ui%fk;0  
fFC9:9<  
xP9R d/xa|  
wmK;0 )|H  
结果:场追迹 |CQjgI|;  
i`6utOq  
\{rhHb\|h  
Ts, U T L  
结果:移动样品的场追迹结果 VwBw!,%Ab  
_eQ-'")  
s%#u)nw19  
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 8>|4iT  
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