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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 /32Ta  
L<f-Ed9|  
任务/系统描述 W;3 R;  
p/ziFpU  
 E<D+)A  
-vv   
亮点 BpQ;w,sefq  
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 '`M#UuU  
NDB*BmG  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ,X9hl J  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 S_(&UeTC  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ~u_K& X  
rtB|N-  
说明：光源 q*HAIw[<y  
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说明：透镜系统 B]'e$uyL7  
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说明：样品结构 )x$!K[=  
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说明：探测器 y,'FTP9?  
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结果：3D光线追迹 @;||p eU  
+V2C}NQ5R  
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结果：场追迹矩形光栅 pO\ S#GnX  
l0gH(28K  
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 *Zc9yZl2  
结果：场追迹锯齿形光栅 o:Ln._bj  
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