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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 lSK<LytB  
P`TJqJiY~  
任务/系统描述 >(BAIjF E\  
E;-*LT&{  
 vH)V\V  
.F^372hH3  
亮点 SEXmVFsQ  
c#<p44>U  
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cZ l/8?dj}  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ZMGthI}~-  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 U])$#/ v  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 +LB2V3UZ  
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说明：光源 3u@=]0ZN  
:@]%n~x  
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@D+2dT0[M  
说明：透镜系统 Q~zs]{\  
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说明：样品结构 o%)38T*n3  
A| s\5"??  
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K6G+sBw[  
说明：探测器 R@A"U[*  
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结果：3D光线追迹 D]NJ ^.X  
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结果：场追迹矩形光栅 6)[gF 1  
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PS'SIX  
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结果：场追迹锯齿形光栅 a_U[!`/ w  
3F?_{A  
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