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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 ;1TQr3w  
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任务/系统描述 1x+w|h  
l]IQjjJ`  
 "*d%el\63  
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亮点 }72+i  
9Z3Y,`R,  
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 10_@'N  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 zj1_#=]  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 +]C|y ,r  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 :%zAX  
reoCyP\!!  
说明：光源 N\hHu6  
#CB`7 }jq  
R}OjSiS\  
dW|S\S'&  
说明：透镜系统 8&#)}A}x  
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eI5W; Q4  
 DpL|aRdbK  
说明：样品结构 !OR %AdxB  
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>>h0(G|  
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说明：探测器 Novn#0a  
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结果：3D光线追迹 5jcy*G}[  
(n@&M!a  
 F8*P/<P1cK  
P# Z+:T  
结果：场追迹矩形光栅 yd`f<Hr<m  
1jj.oa]  
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 {F*81q\  
结果：场追迹锯齿形光栅 *Cx3bg*Gan  
Eg]tDPN1  
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