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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 U_14CLs dG  
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任务/系统描述 z9VQsC'K  
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亮点 {(t (}-:Z  
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0w OgQ n  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 H9&? <j1n  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 /0(4wZe~?  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 | WDX@Q  
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说明：光源 <@Ew-JU  
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说明：透镜系统 qT}&XK`Q^  
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说明：样品结构 Qy15TJ  
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说明：探测器 CNP?i(Rk  
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结果：3D光线追迹 dLjT^ 9  
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结果：场追迹矩形光栅 ib& |271gG  
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结果：场追迹锯齿形光栅 !(+?\+U lE  
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