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infotek 2023-03-16 09:08

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

光学测量＞显微 o>0O@NE  
L^3~gM"!  
任务/系统描述 u/_Gq[Q,u  
,>&?ty9o  
 9!5b2!JL  
Hr /W6C  
亮点 U&,r4>V@h>  
m &9)'o  
 EfFj!)fz  
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 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 Y=5!QLV4  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 cC b>zI  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 =t@:F  
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说明：光源 6].yRNy"  
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Tf9&,!>V  
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说明：透镜系统 YnKFcEJrT  
K{, W_ ^  
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 2v"wWap-+  
说明：样品结构 {fAh@:{@  
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~+nS)4 (  
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说明：探测器 B=Xnv*e  
N5:D8oWWXR  
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结果：3D光线追迹 uU8*$+ "  
3c1o,2  
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E`oSi ez)  
结果：场追迹矩形光栅 C\;;9  
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@qg0u#k5  
 $k a1X&f  
结果：场追迹锯齿形光栅 /.pa ??u  
H j>L>6>  
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