马赫泽德干涉仪

M+mO4q6   马赫泽德干涉仪

wstH&^   uTemAIp $u   yt+"\d   jI-\~   / p_mFA]@   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ?-y!FD}m&   /n9yv   建模任务 /qYo*S_cG   .fQ/a`As U   1h"CjOp,7   -t<8)9q(   由于组件倾斜引起的干涉条纹 zPC&p{S>   x2^Yvgc-   f^tCD'Vmi   ~(BvIzzD   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 z2Pnni7Ys   UJqDZIvC