马赫泽德干涉仪

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ijcm2FJcG   n%-0V>   ?"FbsMk.d   ]Dzlp7Y}   b -y   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Bq>m{   67TwPvh   建模任务 4 :=]<sc,   Mtv? :q   >p/`;Kq@   +"(jjxJm   由于组件倾斜引起的干涉条纹 ,[Fb[#Qqb   S'14hk<   *VeRVaBl   4YHY7J   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 p'fYULYE   AS,%RN^.