马赫泽德干涉仪

zG. \xmp   马赫泽德干涉仪

4,]z   5u89?-UD   ! \6<kQg#   x[_SNX"   Lq6R_udp   干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 1z5Oi u   # zbAA<f   建模任务 W Y]   j LS<S_`   7H l>UX,|   j*'+f~A   由于组件倾斜引起的干涉条纹 T{:~v+I=   r&/M')}?Lw   e>] gCa   kR,ry:J-   由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ^tTASK   Id}/(Pkq