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2022-03-22 13:06 |
杂散光分析与控制技术
h,\_F#hi 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 2&=;$2?} 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 ^ 0TJys% 常熟黉论教育咨询有限公司
w[VWk 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 NIYAcLa@n8 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 }"3L>%Q5 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB)
3g5i5 G\ 讲师:讯技光电高级工程师 lSbAZ6 课程简介: $?'z%a{ 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 0TVO'$Gvi s2d;601*b 课程大纲: YjsaTdZ!& 1. 杂散光介绍与术语 #b{otc) 1.1 杂散光路径 nkG 6. 1.2 关键面和照明面 T!/$@]%\7 1.3杂光内部和外部杂散光 .j;My%)?p 2. 基本辐射度量学-辐射 );$~/H4 2.1 BSDF及其散射模型 @NV$!FB< 2.2 TIS总散射概念 ;f6G&>p 2.3 PST(点源透射比) F1/f:<} 3. 杂散光分析中的光线追迹 WM>9sJf 3.1 FRED软件光线追迹介绍 _b#9^2o 3.2构建杂散光模型 (j cLzq • 定义光学和机械几何 K` U\+AE • 定义光学属性 (6.0gB$aTu 3.3 光线追迹 h~F uuL • 使用光线追迹来量化收敛速度 Q<78<#I • 重点采样 ,Q}/#/ • 反向光线追迹 ^]Gt<_ • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 snN1 • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 /'">H-r • 杂散光对MTF的影响 GR|Vwxs<@P 4. 来自RMS表面粗糙的散射 ){gO b 4.1来自表面粗糙的散射 J .El&Dev • RMS粗糙度与BSDF的关系 3xj<ATSe • 由PSD推导BSDF op}x}Ioz • 拟合BSDF测量数据 _c%~\LOk
-/FCd( 4.2 来自划痕的散射 JfC.U,7Nc 5. 来自颗粒污染的散射 W]rXt,{& 5.1 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) FUHa"$Bg 5.2 颗粒密度函数模型 \yM[?/< 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 iVmf/N@A| 9hLPo 6. 来自黑处理表面的散射 ~A"ODLgU9 6.1 表面涂黑处理的原理 A
#ZaXu/:X 6.2拟合BRDF测量数据 -h.']^I
6.3 使用已知的BSDF数据 < | |