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infotek 2021-12-27 09:29

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

任务/系统视图 T[z}^"  
na5:)j4<  
oC~8h8"l  
(F<VcB  
亮点 #JOWiO0>  
<8JV`dTywC  
o `]o(OP  
 0G`FXj}L  
 显微镜系统中光栅的全矢量分析 8@}R_GZc  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 o/;kzi  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 /^F_~.u{  
T~238C{vh  
说明：光源 Q?Y\WD  
gG 9e.++:  
+5zLQ>]z  
XMR$I&;G8  
`YK2hr  
'T '&OA  
说明：透镜系统 z<T(afM{*  
*tWZ.I<<  
gH0' Ok'  
说明：样品结构 QM"\;l??  
eplz5%<  
 c"pI+Q  
(.CEEWj%{  
说明：探测器 J$]-)`[G&  
fAW(  
SRUg2)d  
g}cb>'=={  
 ?$ft3p}  
c]eDTbXd  
结果：3D光线追迹 \z~wm&  
J'Z!`R|  
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\),DW)  
sDylSYq  
结果：光线追迹 4TP AD)C  
p)dD{+"/2  
bv NXA*0  
 -L.U4x  
结果：光线追迹衍射级数 )\k({S  
8)NQt$lWp  
mMz^I7$  
csEF^T-  
结果：场追迹采样平面 oHW:s96e  
DX*eN"z[  
_3;vir%)  
:EkhF6B/  
结果：场追迹焦平面 _ $ Wj1h  
$ykujyngS4  
!xIK<H{*  
 MeP,8,n'  
结果：减小光栅周期 &F8N$H  
 nn1T5;  
随着光栅周期的减小，光栅结构不能被分辨。 /"f4aF[  
8Hdm(>  
 Oi?+Z:lak  
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"B$r{ vG  
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