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infotek 2021-12-27 09:29

大数值孔径显微镜极限分辨率的研究

任务/系统视图 3`ze<K((  
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rTeADu_vf  
/$UWTq/C7  
亮点 ,"T[#A~  
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 显微镜系统中光栅的全矢量分析 *35o$P46  
 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 ZRC7j?ui8`  
 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 XK yW  
)umW-A  
说明:光源 ,fyqa  
w)Y}hlcq  
n:%A4*  
V V Aw y6  
vtTXs]>  
mz^[C7(q'(  
说明:透镜系统 ~tqNxlA  
t\lx*_lr  
HjX)5@"o(  
说明:样品结构 4cAx9bqA  
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-V}ZbXJD  
4,ewp coC%  
说明:探测器 &0J/V>k  
V(n3W=#kky  
13I~   
O9)k)A]`O  
aGmbB7[BZ  
ZHc;8|}  
结果:3D光线追迹 GoG_4:^#h  
v0 |"[qGb  
E=~Ahkg  
Td![Id  
zuBfkW95+  
BsN~Z!kd  
结果:光线追迹 }/Y)^  
R]_fe4Y0  
A*3R@G*h  
< nyk:E  
结果:光线追迹衍射级数 H3q L&xL  
g?!;04  
SP5t=#M6  
D{s4Bo-  
结果:场追迹采样平面 \ffU15@N  
Uc|MfxsL  
I,!>ZG@6  
^ px)W,O  
结果:场追迹焦平面 P+;@?ofB  
:a9$f8*b  
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结果:减小光栅周期 ^->vUf7PX  
c)=UX_S!  
随着光栅周期的减小,光栅结构不能被分辨。 9i#K{CkC|  
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G3t 4$3|  
E{6X-C[)v  
e\>g@xE%  
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