首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> 讯技光电&黉论教育 -> 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2021-12-27 09:25

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

任务/系统说明 /_zF?5h  
i)`zKbK  
D:6x*+jah)  
lvz:UWo  
亮点 <750-d!  
%T,\xZ  
?Qo_ KQ%sn  
c~0VNuN  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; L!+[]tB  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真; wNf*/? N  
p@NEr,GB  
具体要求:光源 0()9vTY+  
W(PW9J9  
,h^;~|GT  
Op$J"R  
具体要求:用于准直的消色差透镜 _!CvtUU0Vv  
qG2\` +v  
-%/,j)VKD  
*Y^Y  
fbx;-He!  
+poIgjq0  
qI V`zZc  
d~z<,_ r5c  
具体要求:分束器 k+m_L{#m5  
T h- vG  
"'H7F ,k'  
{L2Gb(YLW  
具体要求:参考光路反射镜 <8z[,X}bM  
P+zI9~N[  
z7l;|T  
ss*2TE7  
6 peM4X  
KbuGf$Bv  
具体要求:测试光路反射镜 h>5~ (n8  
KJvJUq  
G/RheH G  
<2@<r t{  
具体要求:探测器 KxTYc  
Ci#5@Q9#w  
Kn9=a-b?,  
zC>(!fJqq  
结果:3D光线追迹 [2j (\vC!  
WCfe!P?g  
,IVr4#w0=  
OrH1fhh   
结果:场追迹 $b 71  
Xde=}9  
!#|fuOWe  
MIyLQ  
结果:移动样品的场追迹结果 iN9!?Ov_  
T[!q&kFB  
Nxs%~ wZ   
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 y@8399;l  
查看本帖完整版本: [-- 用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计