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infotek 2021-12-27 09:25

用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪

任务/系统说明 exZgk2[0  
U#iGR5&^3  
NR>&1aRbyb  
 Iq0[Kd0.j  
亮点 }ed{8"bj  
+C}s"qrb@  
G$^u2wz.  
 9bQD"%ha=d  
•从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； &wX568o  
•对相干效应以及干涉图样的高速仿真； aMJW__,  
 ;b5^) S  
具体要求：光源 U!GfDt  
+=`*`eP:U  
tCR#TW+IY-  
%ws@t"aER  
具体要求：用于准直的消色差透镜 Q\nIU7:bZ  
~} 02q5H  
N79?s)l:K  
j5gL 67B  
h]]B @~  
#AR$'TE#  
+h)1NX;o1  
.MS41 E!  
具体要求：分束器 Pil_zQ4  
F-X L  
.T1n"TfsGO  
 uhm3}mWv  
具体要求：参考光路反射镜 &R))c|>OT&  
S^x?<kYQau  
#Q1 |]  
YO9ofT  
S-[S?&c`  
 kXgc'w6EhF  
具体要求：测试光路反射镜 ,_UTeW6M  
`qV*R 2  
Y<t(m$s  
 KJ7-Vl>  
具体要求：探测器 Gn%"B6  
ja4zLf(<  
>rYkVlv  
%,+&Kl I  
结果：3D光线追迹 z[qi~&7:v  
1=_Qj}!1  
,YBe|3  
pE {yVs  
结果：场追迹 zGwM# -  
xC9?Wt'  
gh-i| i,  
 1'%n?\OK66  
结果：移动样品的场追迹结果 ,FwJ0V  
$=5kn>[_Z%  
&a+=@Z)kf  
通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 fizL_`uMqb  
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