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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 V0mWY!i  
sL;qC\S  
 IfoeHAWX  
=@b/Gl  
亮点 DSyfF&uC  
Xj.Tg1^K"  
 #RoGyrLo  
#RK?3?wcr  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ![os5H.b#q  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 :)+|q  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 C7&4,],  
fZ6lnZ  
说明：光源 )*N]Q  
[3++Q-rR=  
//VgPl  
,u|vpN  
说明：透镜系统 ^B2>lx\n  
.63:G<  
W?8 |h  
 G S-@drZp_  
说明：样品结构 0|8c2{9X,  
`,ZsKxI  
v\ggFrG]  
Q9)/INh  
说明：探测器 I9Af\ k|^  
X b-q:{r1h  
gQf'|%)AJ  
%'Ebm  
结果：3D光线追迹 O<l_2?S1  
%^xY7!{  
 [ Y.3miE  
$x]'6  
结果：场追迹矩形光栅 [*w^|b ?  
YC4S,fY`  
cYyv iR59#  
 $O,$KAC  
结果：场追迹锯齿形光栅 ;1}~(I#Y  
MIasCH>r  
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