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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 * 4RL  
8PwPI%Pb  
 R:t  
Cy'! >  
亮点 nj5Hls  
anxwK47  
 YTYCv7  
 o C#W  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 `*HM5 1U  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 QsH?qI&2jp  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 5R/k8UZ  
/F7X"_(H  
说明：光源 X UcM~U-  
>q)VHV9P  
}@Ou]o  
A<<Bm M.%  
说明：透镜系统 [-'LJG Wb<  
cHk ?$  
&(YNz9L  
 *-.,QpgTX  
说明：样品结构 d2[R{eNX=  
+tvWp>T+  
u<K{=94!e  
h^ =9R6im  
说明：探测器 ~k780  
MgUjB~)Y  
e.? ;mD  
B{\qYL/~  
结果：3D光线追迹 a7wc>@9Q,  
Q2nqA1sRk  
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L|A.;Gq  
结果：场追迹矩形光栅 M5<c HE  
\2NT7^H#  
C!s !j  
 N4[^!}4  
结果：场追迹锯齿形光栅 eL{6;.C  
]Wdnr1d~8  
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