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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 .i^ @v<+  
/vu]ch  
 *kcc]*6@s  
O- LwX >  
亮点 y,w_x,m  
2<:dA >1  
 nq~fH(QY  
]'$:Y   
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 v5U'ky :  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 +wQ}ZP&  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 {JF"PAS7  
H({m1v ~R  
说明：光源 }Z< Sca7  
NytodVZ'3  
~$hR:I1  
q03+FLEfC  
说明：透镜系统 %5nEyZOq  
T8Q_JQ  
)d2:r 07a  
 %s^1de  
说明：样品结构 bbDm6,  
oK$Krrs0&  
VT=gb/W6)a  
w0vsdM;G  
说明：探测器 ]E'?#z.t  
TQ0ZBhd  
Dsb Tx.vA  
 yK$aVK"  
结果：3D光线追迹 OhlK;hvdB*  
P"]l/  
 jzBW'8  
)VqPaKZl  
结果：场追迹矩形光栅 }[h]z7e2S  
b?qV~Dg k`  
#f/4%|t:  
 A|YgA66M  
结果：场追迹锯齿形光栅 Lo5pn  
YMU""/(  
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