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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 xLH)P<^`C  
JQHvz9Yg  
 (|1A?@sJ#h  
ZlzjVU/E  
亮点 t "'7m^j  
|02gupqqi  
 yT9@!]^L  
l u%}h7ng  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 G..aiA  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 g:Xhw$x9  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ls:w8 &`*  
6wECo  
说明：光源 p hzKm9  
s 3f-7f<  
?[Q3q4  
JKmIvZ)8  
说明：透镜系统 Opc ZU{4 b  
1rF]yi:X  
'|p$)yx2  
 ktBj|-'>  
说明：样品结构 !sW(wAy?o  
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x%!s:LVX  
fbKkq.w  
说明：探测器 Y U5(g^<  
^pF&` 2eD  
L4z ~B!uvF  
bU:EqW\(^  
结果：3D光线追迹 Jx7C'~,J  
};jN\x?&q  
 B s#hr3h-  
|\IN.W[EL  
结果：场追迹矩形光栅 # ,_u_'C*!  
(UvM@]B  
!()$8  
 >$7v ;Q  
结果：场追迹锯齿形光栅 ,UGRrS  
pRIhFf  
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