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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 c$^~7.~{Qy  
uF<}zFS  
Aa4 DJ  
xVN(It7g  
亮点 A"i $.dR{  
_|VF^\i  
%Hu?syo  
z07Xj%zX9  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 d}Xb8SaE%c  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 c"lblt5  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 8/T[dn  
ke b.%cb=  
说明:光源 S\L^ZH?[2  
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Te2 C<c  
&lnM 1W  
说明:透镜系统 Qv6-,6<  
N"8'=wB  
3/V0w|ZgD  
>!MRk[@ V-  
说明:样品结构 =z zmz7op  
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GB4^ 4Ajx  
IoZ _zz0  
说明:探测器 Zu /w[*;M  
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4Z.Dz@.c(  
结果:3D光线追迹 |[!7^tU*  
4*'ZabDD  
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lYT_Y.%I  
结果:场追迹矩形光栅 zZ94_8b  
[<WoXS1LX  
k)R~o b  
vj9'5]!~q  
结果:场追迹锯齿形光栅 (_]D\g~  
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