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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 X""}]@B9z  
vLM-v  
 |C\XU5}  
}h\]0'S~J~  
亮点 @]%c UjQ  
A#w*r-P  
 UC"_#!3  
h/#s\>)T  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 0 oHnam  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 PvS\  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 0S>U_#-  
>2< Jb!f&  
说明：光源 M{U7yE6*j*  
x% Eu.jj  
mRY~)< !4&  
K]Q1VfeL=  
说明：透镜系统 `z`"0;,7S  
<ApzcyC  
JA^Y:@<{/  
 [moz{Y  
说明：样品结构 q,_ 1?A)  
3 e<sNU?  
OW8"7*irT  
pkEqd"G  
说明：探测器  .tRWL!  
EX,)MU  
E3o J;E  
n4Eqm33  
结果：3D光线追迹 8w4cqr4m  
iY4FOt7\  
 R9V v*F]m@  
Ptv=Bwg  
结果：场追迹矩形光栅 fk:oCPo  
]abox%U=%  
Q:!.YSB  
 qUF}rl S=r  
结果：场追迹锯齿形光栅 c{s%kVOzg  
:g=z}7!s  
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