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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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infotek
2021-12-24 09:56
对高数值孔径显微镜下不同样品研究
任务/系统描述
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*kcc]*6@s
O- LwX >
亮点
y,w_x,m
2<:dA >1
nq~fH(QY
]'$:Y
显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析
v5U'ky:
对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析
+wQ}ZP&
在光线追迹以及物理光学建模间简单切换
{JF"PAS7
H({m1v ~R
说明:光源
}Z<Sca7
NytodVZ'3
~$hR:I1
q03+FLEfC
说明:透镜系统
%5nEyZOq
T8Q_JQ
)d2:r 07a
%s^1 de
说明:样品结构
bbDm6,
oK$Krrs0&
VT=gb/W6)a
w0vsdM;G
说明:探测器
]E'?#z.t
TQ0ZBhd
DsbTx.vA
yK$aVK"
结果:3D光线追迹
OhlK;hvdB*
P"]l/
jzBW'8
)VqPaKZl
结果:场追迹矩形光栅
}[h]z7e2S
b?qV~Dgk`
#f/4%|t:
A|YgA66M
结果:场追迹锯齿形光栅
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对高数值孔径显微镜下不同样品研究
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