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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 [vpZ3;  
VF=$'Bl|  
 /EhojODMF  
zEJ|;oL  
亮点 uj_u j!  
94"R&|  
 =!r9;L,?  
@#ih;F  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ,dKcxp~[  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 uYiM~^ 0  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 "2(4?P  
68R[Lc9q5  
说明：光源 oQ@X}6B%S  
]t]s/;9]K  
&ZFsK c#  
DGdSu6s$  
说明：透镜系统 }NDw3{zn  
v]gJ 7x  
9}t2OJS*h"  
 v#:#w.]-Y  
说明：样品结构 `p9h$d  
+Ck<tx3h&  
?G+v#?A  
Z2`(UbG}  
说明：探测器 _QfA'32S  
~P|YAaFx  
MsCY5g  
^ _KHw  
结果：3D光线追迹 [2.uwn]i  
~:Dr]kt  
 n_sCZ6uXEQ  
k 61Ot3  
结果：场追迹矩形光栅 "#d}S)GlXM  
fLAOA9  
( du<0J|PT  
 'x lK_Z  
结果：场追迹锯齿形光栅 ]H) x  
8$-(%  
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