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infotek 2021-12-24 09:56

对高数值孔径显微镜下不同样品研究

任务/系统描述 9rB,7%@EL  
%[x oA)0!  
 S690Y]:h$v  
$yZ(c#L  
亮点 /``4!jU  
),G?f {`!  
 R3HfE*;Z  
^`W8>czi  
 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 7rc6  
 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 =Me94w>G3X  
 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 F~NmLm  
(1 L9K;  
说明：光源 Z*Sa%yf  
k *a?Ey$  
DNP %]{J  
D!K){ E  
说明：透镜系统 q`l&G%  
y+ZRh?2  
Ft7{P.g  
 6' 9ITA  
说明：样品结构 F__(iXxC  
sHk,#EsKH  
: MOr?"  
FC'v= *  
说明：探测器 -,M*j|   
qjK'sge/  
i\2d1Z  
l3d^V&Sk  
结果：3D光线追迹 {,Y?+F  
9@nDXZP Y&  
 !>~W5c^  
C^}2::Qu  
结果：场追迹矩形光栅 X~aD\%kC7  
VtNY~  
I:6N?lD4}0  
 -~nU&$ccL  
结果：场追迹锯齿形光栅 //SH=>w2  
{uurM` f}:  
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