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Alexander Muravsky*,**, Anatoli Murauski* *Institute of Chemistry of New Materials, National Academy of Science of Belarus, Minsk, Belarus **Dept. of Physical Optics & Applied Informatics, Physics Faculty, Belarussian State University, Belarus tdb4?^.s 摘要 7Fc | )rS^F<C 双折射取向层有利于液晶盒的光学性能,这对测量方位角锚定能量的光学方法也有意义。 我们得到了计算受取向层迟滞影响的液晶扭曲角的修正值的分析方程. 获得了AtA-2和AtA-0042偶氮染料光取向材料的方位角锚定能量测量数据: >10-4J/m2,在广泛的曝光剂量0.04 -5.12 J/cm2范围内. @hBx,`H^ MSFNw 关键词 ~EPjZ3 ? 方位锚定能;液晶取向;延迟;光配向 ;p .j &,Uc>L%m 介绍 >d)|r 对方位角锚定能量的探索是液晶盒制造工艺优化和新材料研究的一个有用方式。 标准的光学方法[1]被广泛用于测定各种取向材料的方位角锚定能量。按照该方法,线偏振光波长λ--全波的旋转仅由扭曲向列型液晶(LC)盒的扭曲角φ0决定;并测量波长λ处光通过LC盒传播时的偏振面旋转角γ。 `oan,wq+ 在取向层的双折射可以忽略不计的情况下,偏振面旋转的角度γ等于液晶盒内的实际扭曲角φ,那么我们可以简单地假设公式1: >0ssza  (1) ?~]>H A: g< |