| george1977 |
2007-03-15 10:44 |
薄膜测量设备（膜厚、n、k等）
美国Filmetrics公司F20系列薄膜测量设备：可精确快速测量各种光学及半导体薄膜的厚度、折射率及消光系数等。 JR/:XYS+
精度：0.4%或1埃 r 7 w1~z
测量速度：秒级 5B3S]@%
光谱范围：紫外到红外 c@d[HstBJ
厚度范围：几十埃到几百微米 df_hmkyj
多种光接入方式（样品测量平台）。 FncK#hZ.
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详情请来信或登录www.clight.com.cn查看。
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