角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 H-%
B<7 系统简介 $F/xv&t 8yswi[ ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 xjYH[PgfX M3fTUCR 特征及技术参数 f?QP(+M5. Co/04F. - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, 5sB~.z@ - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) ayg^js2, - 入射光与探测器可共面或异面。 wF-H{C' - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 kb\\F:w(W - 可对样品进行扫描。
(s51GRC - 动态范围: 13个数量级。 wO]H+t - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 HSACaTVK - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 d(vt0 - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 wEl/s P - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 6anH#=( - 方便操作的测量及分析软件。 EQy~ ^7V B - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 AgOti]`aR h.xtkD)Y~ 应用 u&j_;Y !6 T|--ZRYn 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 [KEw5-=i@ - 产品质量检测。 S<I9`k G - 光学性能分析。 wk2Ff*& - 粗糙度分析。 0<Rq 1#XZVp;M Tog'3k9Uw QQ:2987619807 p3IhK>
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