角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 uI+h9j$vS 系统简介 IUI>/87u + ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 Z!tt(y\ y_\vXY' 特征及技术参数 x"*u98&3 xpUaFb - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, 17J|g.]m-& - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) , Lhgv1 - 入射光与探测器可共面或异面。 N!$y`nwiw' - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 670g|&v. - 可对样品进行扫描。 mM>{^%2Q: - 动态范围: 13个数量级。 % &{>oEQ - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ,sXa{U - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 m
&s0Ub - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 :MpIx& - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 ~^:/t<N - 方便操作的测量及分析软件。 G{YLyl/9 - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 BpRQG]L oO!@s` 应用 R)ejIKtY /1t(e._ 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 ss
|<\DE+ - 产品质量检测。 8la.N* - 光学性能分析。 EcFYP"{U - 粗糙度分析。 Rm"lRkY4I[ j[9xF<I 5"k_Ms7R, QQ:2987619807 61b,+'-
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