角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 G],+?E_, 系统简介 Qu]0BVIe Pb?H cg ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 )hk=wu6 FW7+!A&F 特征及技术参数 o^~6RZ Y~1}B_ - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, c?)
pn9 - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) =f@O~nGm - 入射光与探测器可共面或异面。 .G+}Kn9! - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 ~C5iyXR - 可对样品进行扫描。 *pP"u::S - 动态范围: 13个数量级。 L1BpkB - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 Lhl)p P17 - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 j5z, l - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 HY#7Ctn3 - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 %9M; MK - 方便操作的测量及分析软件。 qt]QO1pAd - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 +C;ZO6%w fEs957$ 应用 5!#"8|oY u#p1W|\4 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 !~UI~-i' - 产品质量检测。 V$
38 - 光学性能分析。 hx4!P( o1 - 粗糙度分析。 S "oUE_> 2`5(XpYe
N(Y9FD;H QQ:2987619807 }SitT\%
|