角分辨散射测量仪ALBATROSS
左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。 8qS)j1.! 系统简介 YqNhD6 qf24l&} ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 +qsdA#2 8l!S<RA 特征及技术参数 pk;bx2CP8 6_zL#7E' - 可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, V7rcnk# - 双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) \8Blq5n-O* - 入射光与探测器可共面或异面。 +#&2*nY - 入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 D\*raQ`n - 可对样品进行扫描。 HLk}E*.mC - 动态范围: 13个数量级。 I
&{dan2 - 最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 }b\d CGVr - 对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 ?r'b
Z~ - 波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ",Q \A I - 样本规格:最大尺寸直径700mm。 k(VA5upCs - 方便操作的测量及分析软件。 {R1jysGtD - 可分析值: 粗糙度,PSD等。 #+Vvf OkzfQ
hC} 应用 |:H[Y"$1; :4Q_\'P 对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 MIt\[EB - 产品质量检测。 NRoi`
IIj - 光学性能分析。 aK1|b=gVj - 粗糙度分析。 s/,St!A4! xZ,g6s2o .' .|s?s QQ:2987619807 x]a>Q),
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