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infotek 2021-07-28 09:23

角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
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系统简介 76(&O  
pJ1GB  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 Jy{A1i@4~s  
D:M0_4S  
特征及技术参数 =]E;wWC  
mbU[fHyV  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, R2-OT5Ej  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) f?[IwA`  
-  入射光与探测器可共面或异面。 Ju Kj  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 9["yL{IPe  
-  可对样品进行扫描。 E XEae ?  
-  动态范围: 13个数量级。 c"v#d9  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 oe# :EfT  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 Fn yA;,*  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 K>"M# T  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 6(VCQ{  
-  方便操作的测量及分析软件。 @?f3(G h,  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 N_UZu  
A{Jv`K  
应用 A7 E*w  
U_y)p Cd  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 V.>'\b/#  
-  产品质量检测。 IX,/ZOZ|  
-  光学性能分析。 P] ouLjyq  
-  粗糙度分析。 ~W_m<#K(  
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QQ:2987619807 ]@)X3}"!  
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