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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 l,1.6  
JT 5+d ,  
任务/系统说明 u2Qs}FX  
 %L gfi  
+4Lj}8,  
*wJ'Z4_5F  
亮点 +@K8:}lOW  
1z=}`,?>  
 IN94[yW{1  
& A@ !g  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 8_ _C T  
 严格分析光栅衍射效率 7)a u#K6  
 考虑入射光的方向分布 .t9zF-jk  
}@w Xm  
说明：光源 [{9&KjI0K  
lpeo^Y}N  
%q,^A+=  
.Dg'MM BM  
说明：光束分束器 T 9?!.o  
GE.@*W  
rzgzX  
`o!a RX  
说明：检测透镜系统 (3Z~EIZz  
f*~z|  
9<I;9.1S?^  
Yg14aKZl  
说明：微型晶片 hk1jxnQ h  
"n=Ih_J  
k~b8=$  
) BLoj:gYn  
说明：检测物镜 )?PRG=  
B 9AE*  
dbLxm!;(  
6 _\j_$  
说明：探测器 >zAI#N4  
7?JcB?G4  
A?8 29<  
H=k*;'  
结果：3D光线追迹（只有0级） xF3H\`{4x  
@3b|jJyf  
+bK.{1  
:WBl0`kW]4  
结果：3D光线追迹（所有级） k)R>5?_  
:j2_Jn4UP  
\4`2k  
u +OfUBrf  
结果：光线追迹 L&nGjC+Lr  
i@ avm7  
 W=~H_ L?/  
I:aG(8Bi)H  
结果：场追迹 bz? *#S  
e?D,=A4mV"  
 =`]yq;(C7j  
N]sX r  
结果：线性偏振光的场追迹 q}["Nww-  
\l leO|m  
xQhvs=Zm]  
 {9 Op{bZ  
文档和技术信息 ,uP1U@Cas  
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 k|7XC@i]%  
QQ：2987619807 :q4 Mnr  
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