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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 XJi^gT N  
+jX.::UPm  
任务/系统说明 .R {P%r  
`oo(\O7t=  
Hsz).u  
A+F@JpV  
亮点 8VZLwhj  
lDhuL;9e  
 \~'+TW  
ziui  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） VcR(9~  
 严格分析光栅衍射效率 7 {#^ zr  
 考虑入射光的方向分布 "WHt9 yZ  
w.\#!@kZ!  
说明：光源 ~gvw6e*[  
Qz/1^xy  
%1VfTr5  
zAdZXa[MRY  
说明：光束分束器 S4BU!  
Lj03Mx.2S  
ar| !iU  
w"K;e(S  
说明：检测透镜系统 H:M;H =0  
9 ~$' ?  
}Ii5[nRN  
,\n%e'  
说明：微型晶片 " )_-L8  
%t\ ~3pw=  
,,[pc  
YE\s<$  
说明：检测物镜 vL"[7'  
<:UP  
-Lbi eS%  
H '(Ky  
说明：探测器 :Pf2oQ  
n:wZL&ZV0  
:=K <2  
;J3 (EB  
结果：3D光线追迹（只有0级） D/-$~u_o  
Zl+Ba   
[Vaw$c-+[y  
9n#Em  
结果：3D光线追迹（所有级） 2{o eJ  
xK3}z N$T  
V,CVMbn/%N  
kX^Y{73  
结果：光线追迹 E|fQbkfw  
9xm'0 '  
 >AT T<U=  
hO@VYO   
结果：场追迹 <..|:0Q&~  
`vPc&.-K  
 oH|<(8efD  
#c:b8rw  
结果：线性偏振光的场追迹 >C|i^4ppI  
l@zr1g)  
u \zP`Y  
 4D-4BxN*  
文档和技术信息 *U=%W4?W  
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QQ：2987619807 UoiXIf_Q  
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