首页 -> 登录 -> 注册 -> 回复主题 -> 发表主题
光行天下 -> FRED,VirtualLab -> 检查微型晶片的光学系统 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 1jF`5k  
PIwFF}<(  
任务/系统说明 K%RxwM  
%s(k_|G+4  
+y3%3EKs1~  
x}"uZ$g  
亮点 Nqa&_5"  
1BpiV-]=  
 ry`z(f  
mh{1*T$fP  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） K8UP,f2  
 严格分析光栅衍射效率 B2'i7P s  
 考虑入射光的方向分布 cLsV`@J(k  
9vvx*rD  
说明：光源 .w8J*JZ  
5jgR4a*_v  
WL?\5?G 9l  
.G#8a1#  
说明：光束分束器 < F.hZGss7  
}%_ b$  
ne_TIwfw-  
2bkX}FWd;  
说明：检测透镜系统 :6 Lx@  
s)6U_  
L"4mL,  
g9Xu@N;bL  
说明：微型晶片 vPTM  
lY?QQ01D  
|m^k_d!d  
M$>1L  
说明：检测物镜 EkjN{$*  
8L:ji,"  
4O)1uF;  
pH"#8O&  
说明：探测器 K,:cJ  
}:KEj_~.  
rLI8pA|.  
/2=#t-p+  
结果：3D光线追迹（只有0级） 8{^WY7.'  
{ + Zd*)M[  
!y@NAa0  
8T!+ZQAz  
结果：3D光线追迹（所有级） H1QJ k_RL  
6i.-6></  
4'a=pnE$  
7|$:=4  
结果：光线追迹 -y8`yHb_  
l0PZ`m+;j  
 &3J_^210  
w~"KA6^  
结果：场追迹 >aj7||K  
1p/3!1  
 -ZRO@&tMD  
8&?s#5zA  
结果：线性偏振光的场追迹 jY% na HaI  
LWz&YF#T-  
#><.oreXq  
 {f2S/$q  
文档和技术信息 2.l Z:VLN  
AGQ#$fh>7=  
 T_@K& <  
r^3acXl  
 $RIecv<e_  
QQ：2987619807 !Wy6/F@Z  
查看本帖完整版本: [-- 检查微型晶片的光学系统 --] [-- top --]

Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1 网站统计