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infotek 2021-07-13 09:57

检查微型晶片的光学系统

成像系统>包括光栅 < 5_Ys  
?Ru`ma\;  
任务/系统说明 O`0$pn  
B+DRe 8  
C[&&.w8Pm  
/[IQ:':^  
亮点 xR&,QrjQG  
KE&}*Nf[  
 7~Ga>BK  
v(7A=/W_  
 在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） 4F4u1r+  
 严格分析光栅衍射效率 0amz#VIB<u  
 考虑入射光的方向分布 )|a9Z~#x  
Mqtp}<*@-  
说明：光源 q5W'P>  
E$>e< T  
B;~agr  
7Mv$.Z(  
说明：光束分束器 -d3y!| \>a  
Bw=[g&+o1@  
` j<tI6[e  
S+y2eP G  
说明：检测透镜系统 wf@2&vJ  
OA=;9AcZ  
h^*{chm]  
w;$+7  
说明：微型晶片 FOA%( 5$4  
U.F65KaKF  
KTEis!w  
kZ9pgdI  
说明：检测物镜 iP%=Wo.  
rw2|1_AF  
zNf5OItx  
cj<@~[uw  
说明：探测器 T_Y}1n|7[  
x+e _pb   
(Qm;]?/  
-*M:OF"Zh  
结果：3D光线追迹（只有0级） ECzNByP  
*$$V, 6O.  
jf/9]`Hf  
B^?XE(.  
结果：3D光线追迹（所有级） ( `+Z'Y  
Vgn1I(Gj4  
fO>~V1  
Z5[:Zf?h7J  
结果：光线追迹 [;AcV73  
F8Wq&X#r  
 Oha g%<1#  
" G6j UTt  
结果：场追迹 %Ab_PAw  
p ri{vveN@  
 }z+"3A|  
pd3&AsU  
结果：线性偏振光的场追迹 n^02@Aw  
Q$L(fH kw  
30E v"  
 Sg>0P*K@  
文档和技术信息  7~nCK  
u/c3omY"#  
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QQ：2987619807 ok2~B._+;  
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