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infotek 2021-07-06 14:06

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 AJ#m6`M+EK  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 _Vo)<--+I  
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1. 案例 4{*tn"y  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 w*<Y$hnBzF  
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1. 系统构建模块 {*?sVAvj  
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2. 组件连接器 T|o`a+?  
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几何光学仿真 W NwJM  
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以光线追迹 :vc[/<  
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1. 结果:光线追迹 [!1)mR  
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快速物理光学仿真 .M DYGWKt  
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以场追迹 n K+lE0  
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1. NA=1.4时的光栅成像 x}tKewdOSe  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 u-m%=2  
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3. NA=0.5时的光栅成像 h^}_YaT\  
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文件信息 <5dH *K  
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