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infotek 2021-07-06 14:06

用阿贝判据研究显微系统的分辨率

摘要 MD4RSl<F  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 TPBL|^3K  
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1. 案例 p2=+cS"HC  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 HV?Q{X K.b  
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1. 系统构建模块 4[XiD*  *  
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2. 组件连接器 %ij,xN  
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几何光学仿真 IaHu$` v  
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以光线追迹 #dj,=^1_14  
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1. 结果:光线追迹 8XG|K`'u  
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快速物理光学仿真 E4cPCQyeH  
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以场追迹 NY3/mS3w  
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1. NA=1.4时的光栅成像 n8.Tag(#  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 PNB E  
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3. NA=0.5时的光栅成像 [Te"|K':  
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文件信息 2DXV~>  
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QQ:2987619807 {' UK> S  
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