| infotek |
2021-06-23 11:24 |
高NA (数值孔径)物镜的分析
高NA(数值孔径)物镜常用于光学显微及光刻，并已广泛在其他应用中得以使用。众所周知，在高数值孔径物镜的使用中，电磁场矢量特性的影响是不可忽略的。一个众所周知的例子就是由高NA(数值孔径)物镜聚焦线性偏振圆光束时，焦斑的不对称性:焦斑不再是圆的，而是拉长的。我们通过具体的物镜实例来说明了这些效应，并演示了如何在VirtualLab Fusion中使用不同的探测器分析焦斑。 D0Vyh" ua
7x[L F ^o
高数值孔径物镜的聚焦分析 C@TN5?Z
高数值孔径(NA)物镜广泛用于光学光刻、显微系统等。在对焦斑的模拟中考虑光的矢量性质是非常重要的。 /-!&k
cX|[WT0[ I
高数值孔径(NA)物镜系统的先进点扩散函数计算 6?1s`{yy
当线性偏振高斯光束经高数值孔径(NA)非球面透镜聚焦时，由于矢量效应，焦平面上的PSF呈现非对称性。 X
zi'Lu `
1 a($8>
b(P HZCy#
QQ：2987619807 QvG56:M3
|
|
