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summer20200907 2021-03-25 10:49

角分辨散射测量仪ALBATROSS

左图:角分辨光散射测量仪ALBATROSS;右图:532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
'F_}xMU  
系统简介 R_e)mkE  
c~tAvDX  
ALBATROSS(3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement )是一个大型的测量样本反射光,透射光,以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高,并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光,也可测量光散射的光谱特性。 R{3CW^1  
W cGXp$M  
特征及技术参数 gg]~2f  
"bX4Q4Dq  
-  可测量参数:散射光(角分辨散射ARS,双向反射分布BRDF, &hN,xpC  
-  双向透射分布BTDF,散射损耗),θ-2θ测量,反射,透射。(3D) HHS45kg[c  
-  入射光与探测器可共面或异面。 'DAltr<  
-  入射角,散射角(方位角和极角)以及光源的偏振态均可调整。 EF;,Gjh5p  
-  可对样品进行扫描。 B=zMYi  
-  动态范围: 13个数量级。 ~77 5soN  
-  最低ARS级别:5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 iHz[Zw^.s  
-  对粗糙度的最小分辨率:< 0.1 nm 。 DP>mNE  
-  波长范围:225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 h([0,:\  
-  样本规格:最大尺寸直径700mm。 &5q{viI  
-  方便操作的测量及分析软件。 1%eLs=u?  
-  可分析值: 粗糙度,PSD等。 JSjYC0e  
9~Xg#{  
应用 XZO<dhZX:  
2V$9ei6  
对表面,薄膜以及材料性质进行表征和分析 QkX@QQ T?  
-  产品质量检测。 % 0v*n8  
-  光学性能分析。  U42\.V0  
-  粗糙度分析。  c!D> {N  
仪器咨询QQ:939912426 r<(kLpOH%  
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